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只要該半導體組件層130所包含的半導體元器件需要藉由該晶圓層320與該金屬層310傳遞電流，都可以適用于本申請。該晶圓層320包含彼此相對的一***表面321與一第二表面322，該***表面321與上述的半導體組件層130相接。該第二表面322與該金屬層310相接或相貼。從圖3可以看到，該***表面321與第二表面322的**大距離，出現(xiàn)在該結構300的邊緣處。在一實施例中，該***表面321與第二表面322的**小距離，出現(xiàn)在該結構300的中心處。在另一實施例中，該***表面321與第二表面322的**小距離，出現(xiàn)在該半導體組件層130的器件投影在該***表面321的地方。在一實施例...

并且與基座110形成腔室c。在實際應用中，殼體120接觸基座110。依據(jù)實際情況，殼體120可與基座110密封地接觸，然而本發(fā)明不以此為限。由殼體120與基座110形成的腔室c被配置成容納半導體晶圓200。殼體120具有排氣口121，其遠離基座110設置。微波產生器130設置于殼體120上，并且被配置成對半導體晶圓200所在的腔室c發(fā)射微波w。在半導體晶圓干燥設備100運行的期間，半導體晶圓200首先被設置于基座110上，使得半導體晶圓200位于殼體120與基座110所形成的腔室c內。接下來，微波產生器130對位于腔室c內的半導體晶圓200發(fā)射微波w，使得先前的工藝殘留于半導體晶圓20...

逐步縮短時間τ2來運行doe，直到可以觀察到圖案結構被損傷。由于時間τ2被縮短，氣泡內的氣體或蒸汽的溫度不能被足夠冷卻，從而會引起氣泡內的氣體或蒸汽的平均溫度的逐步上升，**終將會觸發(fā)氣泡內爆，觸發(fā)時間稱為臨界冷卻時間τc。知道臨界冷卻時間τc后，為了增加安全系數(shù)，時間τ2可以設置為大于2τc的值。因此，可以確定清洗工藝的參數(shù)，使得施加聲能的清洗效果導致的產量提高大于因施加聲能造成的損傷而導致的產量下降。也可以例如由客戶規(guī)定損傷百分比的預定閾值?？梢源_定清洗工藝的參數(shù)，使得損傷百分比低于預定閾值，或者基本上為零，甚至為零。預定閾值可以是例如，10％,5％,2％,或1％。如果晶圓生產的*...

從而可使所述連接臺35帶動所述橫條33繞圓弧方向左右晃動，當所述橫條33沿圓弧方向向上移動時，所述第二齒牙34可與所述***齒牙38嚙合，進而可帶動上所述滑塊47向左移動，則可使所述夾塊49向左移動。另外，在一個實施例中，所述從動腔62的后側開設有蝸輪腔69，所述旋轉軸36向后延伸部分均伸入所述蝸輪腔69內，且其位于所述蝸輪腔69內的外周上均固設有蝸輪64，所述蝸輪腔69的左壁固設有***電機63，所述***電機63的右側面動力連接設有蝸桿65，所述蝸桿65的右側面與所述蝸輪腔69的右壁轉動連接，所述蝸桿65與所述蝸輪64嚙合，通過所述***電機63的運轉，可使所述蝸桿65帶動所述旋轉...

在氣泡內的氣體和/或蒸汽溫度降至室溫t0或達到時間段τ2后(在時間段τ2內，設置電源輸出為零)，電源輸出恢復至頻率f1及功率水平p1。在步驟15270中，檢查晶圓的清潔度，如果晶圓尚未清潔到所需程度，則重復步驟15210-15260?；蛘?，可能不需要在每個周期內檢查清潔度，取而代之的是，使用的周期數(shù)可能是預先用樣品晶圓通過經驗確定。參考圖15d所示，氣泡內氣體和/或蒸汽的溫度不需要冷卻至室溫t0，但是**好使溫度冷卻至遠低于內爆溫度ti。此外，在步驟15250中，只要氣泡膨脹力不破壞或損壞圖案結構15034，氣泡的尺寸可以略大于圖案結構15034的間距w。參考圖15d所示，步驟1524...

所述傳動腔的上側開設有皮帶腔，所述皮帶腔的底壁上轉動設有豎軸，所述第二螺桿向上延伸部分伸入所述皮帶腔內，所述第二螺桿與所述豎軸之間傳動連接設有皮帶傳動裝置，所述豎軸向下延伸部分伸入所述動力腔內，且其底面固設有***齒輪，位于所述動力腔內的所述***螺桿外周上固設有第二齒輪，所述第二齒輪與所述***齒輪嚙合。進一步的技術方案，所述夾塊分為上下兩部分，位于上側所述夾塊固設有兩個前后對稱的卡扣，所述切割腔的前側固設有玻璃窗。本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明可有效降低半導體制作原料晶圓在切割時所產生的發(fā)熱變形問題，并且也能降低硅錠在移動送料切割過程中，由于長時間連續(xù)工作導致主軸位置偏移導致切割不準的...

vi-v0-△v)/(δv-△v)+1)＝ni/f1＝((vi-v0-△t)/(δv-△v)+1)/f1(20)其中，t1是循環(huán)周期，f1是超聲波或兆聲波的頻率。因此，為了防止氣泡尺寸達到阻塞特征結構的水平，通過公式(19)及(20)可以計算出所需的周期數(shù)ni及時間τi。需要注意的是，當氣穴振蕩的周期數(shù)n增加時，氣泡內的氣體和/或蒸汽的溫度增加，因此，氣泡表面更多的分子將蒸發(fā)到氣泡內部，氣泡19082的尺寸將進一步增加且大于由方程式(18)計算出的值。在實際操作中，由于氣泡尺寸將由后續(xù)揭示的實驗方法決定，由于溫度升高，液體或水蒸發(fā)到氣泡內表面，對氣泡尺寸的影響在這里不作詳細的理論討論。...

vi-v0-△v)/(δv-△v)+1)＝ni/f1＝((vi-v0-△t)/(δv-△v)+1)/f1(20)其中，t1是循環(huán)周期，f1是超聲波或兆聲波的頻率。因此，為了防止氣泡尺寸達到阻塞特征結構的水平，通過公式(19)及(20)可以計算出所需的周期數(shù)ni及時間τi。需要注意的是，當氣穴振蕩的周期數(shù)n增加時，氣泡內的氣體和/或蒸汽的溫度增加，因此，氣泡表面更多的分子將蒸發(fā)到氣泡內部，氣泡19082的尺寸將進一步增加且大于由方程式(18)計算出的值。在實際操作中，由于氣泡尺寸將由后續(xù)揭示的實驗方法決定，由于溫度升高，液體或水蒸發(fā)到氣泡內表面，對氣泡尺寸的影響在這里不作詳細的理論討論。...

x0-x)│0x0-1＝sx0p0ln(x0)(2)其中，s為汽缸截面的面積，x0為汽缸的長度，p0為壓縮前汽缸內氣體的壓強。方程式(2)不考慮壓縮過程中溫度增長的因素，因此，由于溫度的增加，氣泡內的實際壓強會更高，實際上由聲壓做的機械功要大于方程式(2)計算出的值。假設聲壓做的機械功部分轉化為熱能，部分轉換成氣泡內高壓氣體和蒸汽的機械能，這些熱能完全促使氣泡內部氣體溫度的增加(沒有能量轉移至氣泡周圍的液體分子)，假設壓縮前后氣泡內氣體質量保持不變，氣泡壓縮一次后溫度增量δt可以用下面的方程式表達：δt＝q/(mc)＝βwm/(mc)＝βsx0p0ln(x0)/(mc)(3)其中，q是...

其是由如下重量份數(shù)的原料組成：有機溶劑44份、氟化物8份、氯化物10份、甲基丙烯酸甲酯4份、有機胺5份、氨基酸12份、胍類12份、苯并三氮唑4份、有機羧酸18份、硫脲22份和水60份。所述有機溶劑為選自亞砜、砜、咪唑烷酮、吡咯烷酮、咪唑啉酮、酰胺和醚中的一種或多種。所述氟化物為氟化氫、或氟化氫與堿形成的鹽。所述有機胺為二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、乙胺、二乙胺、三乙胺、三丙胺，N，N-二甲基乙醇胺、N，N-甲基乙基乙醇胺、N-甲基二乙醇胺和三乙醇胺一種或多種。所述有機羧酸選自丙二酸、草酸、乙二胺四乙酸鹽和檸檬酸中的一種或者多種。所述胍類為四甲基胍、碳酸胍、醋酸胍、3-胍基丙...

ticuni)、鈦合金、釩鎳合金、銀合金、鎳合金、銅合金、純鈷，也可以包含鋁、鈦、鎳、銀、鎳、銅各種金屬的合金。本領域普通技術人員可以理解到，可以根據(jù)該芯片所實作的制作工藝不同，成本不同，以及其所要應用的環(huán)境與規(guī)格不同，調整上述金屬層310的成分與厚薄。在一實施例中，該第三表面313與第四表面314的厚度，介于25-50um之間。在另一實施例當中，兩者介于6-30um之間。如圖3所示，該第三表面313與第四表面314的**大距離，出現(xiàn)在芯片的中間處，也就是半導體組件層130的元器件投影在該***表面321的相應之處。如此，在芯片中間的金屬層310增厚，可以降低金屬層310的電阻值，進一...

用于集成電路生產的材料依然以進口為主，中國生產替代空間非常龐大。未來隨著多條中國新建晶圓制造產線陸續(xù)投產，預計2018年將為中國當?shù)匕雽w材料產業(yè)發(fā)展帶來新契機。未來中國半導體材料產業(yè)發(fā)展趨勢將從兩方面同步進行：集中優(yōu)勢資源，針對各類別半導體材料，以一部分大廠為首，進行資源再整合；建立完善的半導體材料體系，加快**材料的研發(fā)，實現(xiàn)中國國產替代。中國半導體材料產業(yè)雖然克服了政策和資金的障礙，但仍面對來自技術、人才與客戶認證等方面的嚴峻挑戰(zhàn)。未來產業(yè)將著重解決以下問題：基礎**瓶頸突破進展緩慢、半導體材料人才儲備和培養(yǎng)嚴重不足、聯(lián)合**協(xié)調作用，以及率先突破當?shù)卣J證關卡。目前中國半導體材料...

一個晶圓1300可以在半導體的制程與封裝之后，再進行芯片的切割，這種制作過程通常被稱為晶圓級芯片封裝(wlcsp,waferlevelchipscalepackage)。如圖13所示，該晶圓1300可以預先設計成要在虛線處進行切割，以便在封裝之后形成多個芯片。在圖13當中，該晶圓1300可以包含三個尺寸相同的芯片1310~1330。在一實施例中，這三個芯片1310~1330可以是同一種設計的芯片。換言之，這三個芯片1310~1330可以包含上述基板結構300~1200當中的其中一種?；蛘哒f整個晶圓1300所包含的所有芯片都包含同一種基板結構。在另一實施例當中，這三個芯片1310~133...

在步驟33050中，待氣泡內的溫度降至一定程度后，聲波電源再次被設置為頻率為f1及功率為p1。在步驟33060中，將檢測到的斷電時間與預設時間τ2進行比較，如果檢測到的斷電時間短于預設時間τ2，則關閉超聲波或兆聲波電源并發(fā)出報警信號。在步驟33070中，檢查晶圓的清潔度，如果晶圓尚未清潔到所需程度，則重復步驟33010-33060?；蛘?，可能不需要在每個周期內檢查清潔度，取而代之的是，使用的周期數(shù)可能是預先用樣品晶圓通過經驗確定。圖34揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的晶圓清洗工藝的流程圖。該晶圓清洗工藝從步驟34010開始，首先向晶圓和超聲波或兆聲波裝置之間的間隙施加清洗液。在步驟34...

圖32a至圖32c揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的如圖27所示的振幅檢測電路27092的示例。該振幅檢測電路27092示例性包括參考電壓生成電路和比較電路。如圖32b所示，參考電壓生成電路使用d/a轉換器32118將主控制器26094的數(shù)字輸入信號轉換為模擬直流參考電壓vref+和vref-，如圖32c所示。比較電路使用窗口比較器32114及與門32116來比較電壓衰減電路26090輸出的振幅vin和參考電壓vref+和vref-。如果衰減后的振幅vin超過參考電壓vref+和/或vref-，那么振幅檢測電路27092發(fā)送報警信號到主機25080，主機25080接收到報警信號則關閉聲波發(fā)...

圖3為依據(jù)本發(fā)明另一實施方式的半導體晶圓干燥設備的剖視圖。具體實施方式以下將以附圖公開本發(fā)明的多個實施方式。為明確說明起見，許多實務上的細節(jié)將在以下敘述中一并說明。然而，應了解到，這些實務上的細節(jié)不應用以限制本發(fā)明。也就是說，在本發(fā)明的部分實施方式中，這些實務上的細節(jié)是非必要的。此外，為簡化附圖起見，一些公知慣用的結構與元件在附圖中將以簡單示意的方式繪示。附圖與說明書中盡可能使用相同的元件符號表示相同或相似的部分。除非另外定義，否則本文使用的所有術語(包含技術以及科學術語)對于所屬領域中的技術人員通常理解的涵義。還應理解到，諸如常用的字典中定義的術語的解讀，應使其在相關領域與本發(fā)明中具...

本申請還提供具有上述基板結構的半導體晶圓，以及制作上述基板結構的晶圓制造方法。根據(jù)本申請的方案，提供具有邊框結構的基板結構、半導體晶圓、以及晶圓制作方法。根據(jù)本申請的一方案，提供一種承載半導體組件的基板結構，其特征在于，包含：一晶圓層，具有相對應的一***表面與一第二表面，其中該第二表面具有向該***表面凹陷的一中心凹陷區(qū)域，該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當中，使得該晶圓層的一邊框結構區(qū)域環(huán)繞在該第二表面周圍；以及一金屬層，具有相對應的一第三表面與一第四表面，該第三表面完全貼合于該第二表面。進一步的，為了彌補較薄晶圓層的結構強度，其中該第二表面更包含具有向該***表面凹陷的一***環(huán)狀凹...

位于上側所述夾塊49固設有兩個前后對稱的卡扣61，所述切割腔27的前側固設有玻璃窗66，通過所述卡扣61，可使所述夾塊49夾緊所述硅錠48，通過所述玻璃窗66可便于觀測切割情況。初始狀態(tài)時，滑塊47與送料腔68右壁抵接，切割片50處于上側，兩個海綿52抵接切割片50，接收箱28位于切割腔27下側，并接收腔29內存有清水，橫條33位于**下側，第二齒牙34與***齒牙38不接觸，第二齒牙34與限制塊39不接觸，限制塊39插入限制腔42內。當使用時，通過***電機63的運轉，可使蝸桿65帶動旋轉軸36轉動，通過旋轉軸36的旋轉，可使***連桿32帶動三叉連桿31繞圓弧方向左右晃動，從而可使...

聲壓pm朝膨脹方向拉伸氣泡，如圖5c所示。因此，負的聲壓pm也對周圍的液體做部分功。由于共同作用的結果，氣泡內的熱能不能全部釋放或轉化為機械能，因此，氣泡內的氣體溫度不能降低到**初的氣體溫度t0或液體溫度。如圖6b所示，氣穴振蕩的***周期完成后，氣泡內的氣體溫度t2將在t0和t1之間。t2可以表達如下：t2＝t1-δt＝t0+δt-δt(5)其中，δt是氣泡膨脹一次后的溫度減量，δt小于δt。當氣穴振蕩的第二周期達到**小氣泡尺寸時，氣泡內的氣體或蒸汽的溫度t3為：t3＝t2+δt＝t0+δt-δt+δt＝t0+2δt-δt(6)當氣穴振蕩的第二周期完成后，氣泡內的氣體或蒸汽的溫度...

其為根據(jù)本申請一實施例的半導體基板的結構的剖面700的一示意圖。該結構的剖面700可以是圖5a所示結構500的bb線剖面。該樹酯層540與該金屬層510外緣之間，是該金屬層510用于包圍該樹酯層540的四個金屬邊框。該四個金屬邊框的厚度可以相同，也可以不同。舉例來說，相對于上下外緣的厚度711與713可以相同，相對于左右外緣的厚度712與714可以相同。但厚度711與712可以不同。本領域普通技術人員可以透過圖7理解到，本申請并不限定該樹酯層540外緣的形狀，其可以是正方形、矩形、橢圓形、圓形。當該金屬層510與該樹酯層540都是矩形時，本申請也不限定該該金屬層510用于包圍該樹酯層5...

圖11a所示的實施例是圖8a所示的結構800，因此使用了金屬層810與晶圓層820的符號。但本領域普通技術人員可以理解到，剖面1100可以適用于結構900或1000，金屬層810可以代換為金屬層1010。先前提到過，本申請并不限定內框結構的形狀。舉例來說，內框結構可以是x字型，還可以是v字型，也可以是井字型，也就是兩組互相垂直的并行線結構。在圖11a所示的實施例當中，晶圓層820的外緣形狀是正方形，用白色來表示。晶圓層820的四個邊框的820a寬度相等。在金屬層810a的內部，還有晶圓層的內框結構820b。該內框結構820b的內部尚有金屬層810b。圖11a所示晶圓層820的邊框結構8...

在所述鏤空側壁22的外緣設置有至少一個連接端子23，所述連接端子23與提把1上的任一連接端口11相配合可使得平放花籃2可拆卸地固定于提把1上對應于該連接端口的位置。如圖3、圖4所示，該治具還包括一組豎直擋板24，豎直擋板24上均勻開設有一組通孔；所述平放花籃2的鏤空側壁22內緣及相應位置的圓形底盤21上設置有一系列用于固定所述豎直擋板24的卡槽，豎直擋板24與相應的卡槽配合可將平放花籃2內的空間劃分為不同角度的扇形空間。本實施例中采用由兩根一字形擋板組成的十字形豎直擋板，可將平放花籃2內的空間等分為4個**的90度扇形空間，適用于90度扇形晶圓的清洗，**的扇形區(qū)域可以保證不同的晶圓片...

在圖8b所示的實施例當中，示出四個內框結構。本領域普通技術人員可以從圖8a與圖8b理解到，本申請并不限定內框結構的數(shù)量、位置、形狀等配置的參數(shù)。在一實施例當中，如圖8a所示，在內框結構821與822之處，晶圓層820的厚度與在邊框結構的厚度是相同的。在另一實施例當中，內框結構821與822的厚度與邊框結構的厚度可以是不同的。舉例來說，在內框結構821與822的晶圓層厚度，可以較在邊框結構的晶圓層厚度來得小。由于在芯片中間所承受的應力與/或熱應力可以比在邊緣來得小，因此可以使用較薄的內框結構作為補強。一方面降低基板結構的電阻值，另一方面還能補強基板結構。請參考圖9所示，其為根據(jù)本申請一實...

提供具有邊框結構的基板結構、半導體晶圓、以及晶圓制作方法。根據(jù)本申請的一實施例，提供一種承載半導體組件的基板結構，其特征在于，包含：一晶圓層，具有相對應的一***表面與一第二表面，其中該第二表面具有向該***表面凹陷的一中心凹陷區(qū)域，該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當中，使得該晶圓層的一邊框結構區(qū)域環(huán)繞在該第二表面周圍；以及一金屬層，具有相對應的一第三表面與一第四表面，該第三表面完全貼合于該第二表面。在一實施例中，為了彌補較薄晶圓層的結構強度，其中該第二表面更包含具有向該***表面凹陷的一***環(huán)狀凹陷區(qū)域，該***環(huán)狀凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當中，使得該晶圓層在該***環(huán)狀...

所述有機胺為二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、乙胺、二乙胺、三乙胺、三丙胺，N，N-二甲基乙醇胺、N，N-甲基乙基乙醇胺、N-甲基二乙醇胺和三乙醇胺一種或多種。所述有機羧酸選自丙二酸、草酸、乙二胺四乙酸鹽和檸檬酸中的一種或者多種。所述胍類為四甲基胍、碳酸胍、醋酸胍、3-胍基丙酸、聚六亞甲基胍和對胍基苯甲酸。所述清洗液的pH值為2～5。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明的清洗液能有效***金屬污染物的殘留問題，同時對金屬和非金屬的腐蝕速率較小，有效改善了一般氟類清洗液不能同時控制金屬和非金屬腐蝕速率的問題，提高化學清洗質量；對殘留物的清洗時間明顯縮短，效率提高；由于不存在...

進行物理檢測，并通過算法分析自動分揀良品及次品的光學檢測設備。檢測設備主要用來保證和提升良率，良率是決定晶圓廠盈利的關鍵，因此，其**驅動力是晶圓廠對**率的需求。近十年來，半導體的蕭條期（2011-2013年）半導體檢測設備占整個半導體設備銷量重從10%上升至14%，而半導體景氣期（2015-2017年），半導體檢測設備占比又下降至10%左右。根據(jù)《芯片制造》一書中對良率模型測算結果：“在未來，隨著工藝制程步驟增加、制程尺寸縮小，芯片對任何一個較小缺陷的敏感性增加，并且更加致命”。按照電子系統(tǒng)故障檢測中的“十倍法則”：如果一個芯片中故障沒在芯片測試時發(fā)現(xiàn)，那么在電路板（PCB）級別發(fā)...

本發(fā)明涉及半導體晶圓清洗領域，更具體地，涉及采用可控聲能的濕法清洗方法和裝置。背景技術：半導體器件是在半導體晶圓上采用一系列的處理步驟來制造晶體管和互連元件。近來，晶體管的建立由兩維到三維，例如鰭型場效應晶體管?；ミB元件包括導電的(例如金屬)槽、通孔等形成在介質材料中。為了形成這些晶體管和互連元件，半導體晶圓經過多次掩膜、蝕刻和沉積工藝以形成半導體器件所需的結構。例如，多層掩膜和等離子體刻蝕步驟可以在半導體晶圓上的電介質層中形成作為鰭型場效應晶體管的鰭的凹進區(qū)域和互連元件的槽和通孔。為了去除刻蝕或光刻膠灰化后在鰭結構和/或槽和通孔內的顆粒和污染物，必須進行濕法清洗。然而，濕法過程中使用...

所述送料腔內設有可在切割狀態(tài)時限制所述滑塊左右晃動，并在所述滑塊移動狀態(tài)時打開的穩(wěn)定機構，所述送料腔的左側連通設有切割腔，所述切割腔內設有可用于切割的切割片，所述切割腔的左側連通設有升降腔，所述升降腔的內壁上設有可帶動所述切割片升降的升降塊，所述升降腔的下側開設有動力腔，所述動力腔內設有可控制所述升降塊間歇性往返升降，來達到連續(xù)切割狀態(tài)的動力機構，所述切割腔靠上側位置設有兩個左右對稱，且能用來冷卻所述切割片的海綿，所述切割腔的靠上側位置左右兩側連通設有冷卻水腔，是冷卻水腔的上側連通設有傳動腔，所述傳動腔內設有可控制所述海綿在所述切割片上升時抵接所述切割片，達到冷卻效果的傳動機構，所述傳...

該晶圓制作方法1500可以用于制作本申請所欲保護的其他基板結構，而不只限于基板結構1000。步驟1510：提供晶圓。該晶圓可以是圖13或14所示的晶圓1300或1400。在圖16a當中，可以看到晶圓層820的剖面。圖16a的晶圓層820的上表面，是圖10a實施例所說的第二表面822。步驟1520：根據(jù)所欲切割芯片的大小與圖樣，涂布屏蔽層。在圖16b當中，可以看到屏蔽層1610的圖樣，形成在晶圓層820的上表面。而每一個芯片預定區(qū)域的屏蔽層1610的圖樣，至少要在該芯片的周圍形成邊框區(qū)域。當所欲實施的基板結構如同圖8a~10b所示的基板結構800~1000，或是具有內框結構時，則屏蔽層1...

用于集成電路生產的材料依然以進口為主，中國生產替代空間非常龐大。未來隨著多條中國新建晶圓制造產線陸續(xù)投產，預計2018年將為中國當?shù)匕雽w材料產業(yè)發(fā)展帶來新契機。未來中國半導體材料產業(yè)發(fā)展趨勢將從兩方面同步進行：集中優(yōu)勢資源，針對各類別半導體材料，以一部分大廠為首，進行資源再整合；建立完善的半導體材料體系，加快**材料的研發(fā)，實現(xiàn)中國國產替代。中國半導體材料產業(yè)雖然克服了政策和資金的障礙，但仍面對來自技術、人才與客戶認證等方面的嚴峻挑戰(zhàn)。未來產業(yè)將著重解決以下問題：基礎**瓶頸突破進展緩慢、半導體材料人才儲備和培養(yǎng)嚴重不足、聯(lián)合**協(xié)調作用，以及率先突破當?shù)卣J證關卡。目前中國半導體材料...