圖11a所示的實施例是圖8a所示的結(jié)構(gòu)800，因此使用了金屬層810與晶圓層820的符號。但本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解到，剖面1100可以適用于結(jié)構(gòu)900或1000，金屬層810可以代換為金屬層1010。先前提到過，本申請并不限定內(nèi)框結(jié)構(gòu)的形狀。舉例來說，內(nèi)框結(jié)構(gòu)可以是x字型，還可以是v字型，也可以是井字型，也就是兩組互相垂直的并行線結(jié)構(gòu)。在圖11a所示的實施例當中，晶圓層820的外緣形狀是正方形，用白色來表示。晶圓層820的四個邊框的820a寬度相等。在金屬層810a的內(nèi)部，還有晶圓層的內(nèi)框結(jié)構(gòu)820b。該內(nèi)框結(jié)構(gòu)820b的內(nèi)部尚有金屬層810b。圖11a所示晶圓層820的邊框結(jié)構(gòu)820a與內(nèi)框結(jié)構(gòu)820b是同心的相應(yīng)形狀。由于芯片的設(shè)計當中，在中心的區(qū)域由于具有和四邊等距離的幾何特性，因此通常是**適合放置邏輯電路。而在周邊的區(qū)域，則通常會放置和存取相關(guān)的模擬電路。在這種的電路設(shè)計當中，由于邏輯電路一旦故障，整個芯片可能就得報廢。而模擬電路的線路通常較粗，可能承受相同程度的損傷還不至于故障。所以可以利用內(nèi)框結(jié)構(gòu)820b來加強邏輯電路中心區(qū)域的結(jié)構(gòu)強度，以增加芯片的強固程度。再者，雖然在圖11a所示的實施例當中，只有一個內(nèi)框結(jié)構(gòu)820b。但本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解到。半導體行業(yè)，晶圓制造和晶圓加工。開封標準半導體晶圓

    功率為p1時檢測到的通電時間和預(yù)設(shè)時間τ1進行比較，如果檢測到的通電時間比預(yù)設(shè)時間τ1長，檢測電路發(fā)送報警信號到主機，主機接收到報警信號則關(guān)閉超聲波或兆聲波電源；檢測電路還比較檢測到的斷電時間和預(yù)設(shè)時間τ2，如果檢測到的斷電時間比預(yù)設(shè)時間τ2短，檢測電路發(fā)送報警信號到主機，主機接收到報警信號則關(guān)閉超聲波或兆聲波電源。在一個實施例中，超聲波或兆聲波裝置與噴頭相結(jié)合并置于半導體基板附近，超聲波或兆聲波裝置的能量通過噴頭噴出的液柱傳遞到半導體基板。本發(fā)明提供了另一種使用超聲波或兆聲波清洗半導體基板的裝置，包括卡盤、超聲波或兆聲波裝置、至少一個噴頭、超聲波或兆聲波電源、主機和檢測電路?？ūP支撐半導體基板。超聲波或兆聲波裝置置于半導體基板附近。至少一個噴頭向半導體基板和半導體基板與超聲波或兆聲波裝置之間的空隙中噴灑化學液體。主機設(shè)置超聲波或兆聲波電源以頻率f1、功率p1驅(qū)動超聲波或兆聲波裝置，在液體中的氣泡氣穴振蕩損傷半導體基板上的圖案結(jié)構(gòu)之前，將超聲波或兆聲波電源的輸出設(shè)為零，待氣泡內(nèi)的溫度下降到設(shè)定溫度后，再次設(shè)置超聲波或兆聲波電源的頻率為f1，功率為p1。天津半導體晶圓模具半導體晶圓市場價格是多少？

    在一實施例中，為了保護該金屬層，并且降低物理應(yīng)力與熱應(yīng)力的影響，該基板結(jié)構(gòu)更包含：一樹酯層，具有相對應(yīng)的一第五表面與一第六表面，其中該第五表面的形狀相應(yīng)于該第四表面。在一實施例中，為了讓基板結(jié)構(gòu)所承載的半導體組件的設(shè)計簡化，其中該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域依序包含***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度相同。在一特定實施例中，為了讓基板結(jié)構(gòu)所承載的半導體組件的設(shè)計更加簡化，其中該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度相同。在一實施例中，為了讓基板結(jié)構(gòu)適應(yīng)所承載的半導體組件的不同設(shè)計，其中該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域依序包含***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度不同。在一特定實施例中，為了讓基板結(jié)構(gòu)適應(yīng)所承載的半導體組件的具有更大的設(shè)計彈性，其中該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度均不相同。在一實施例中，為了配合大多數(shù)矩形芯片的形狀，其中該中心凹陷區(qū)域是矩形。在一實施例中，為了配合大多數(shù)方形芯片的形狀。

    本申請關(guān)于半導體，特別是關(guān)于晶圓級芯片封裝基板結(jié)構(gòu)的設(shè)計與制作。背景技術(shù)：現(xiàn)代電子裝置越來越輕薄短小，集成電路的尺寸不*縮小，還有薄型化的趨勢。相較于傳統(tǒng)芯片，薄型化的芯片能夠承受的物理應(yīng)力與熱應(yīng)力較小。在進行熱處理與其他加工工藝時，特別是當芯片焊貼到印刷電路板時，物理應(yīng)力與熱應(yīng)力容易造成基板的裂紋與/或翹曲，進而導致半導體元器件失效。除此之外，當芯片薄型化之后，由于導電的線路可能變小變窄，使得電阻增加。不利于降低消耗功率，也導致溫度上升的速度較快。當散熱效率無法應(yīng)付溫度上升的速度時，可能需要額外的散熱組件，就喪失薄型化芯片的優(yōu)點。據(jù)此，需要一種具有較強強度的基板結(jié)構(gòu)，以便減低芯片在進行熱處理、加工與焊貼等工序時，因為應(yīng)力或熱應(yīng)力而導致失效的機率。在此同時，還要降低上述基板結(jié)構(gòu)的電阻值，以便減少消耗功率，降低熱耗損，增進芯片的使用壽命。技術(shù)實現(xiàn)要素：本申請所提供的基板結(jié)構(gòu)以及晶圓級芯片封裝的基板結(jié)構(gòu)，在芯片的中心部分具有較薄的晶圓層，可以降低基板結(jié)構(gòu)的整體電阻值。在芯片的周邊部分具有邊框結(jié)構(gòu)，在芯片的中心部分可以具有一或多重內(nèi)框結(jié)構(gòu)，以彌補較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強度。進口半導體晶圓的優(yōu)勢？

    聲壓pm朝膨脹方向拉伸氣泡，如圖5c所示。因此，負的聲壓pm也對周圍的液體做部分功。由于共同作用的結(jié)果，氣泡內(nèi)的熱能不能全部釋放或轉(zhuǎn)化為機械能，因此，氣泡內(nèi)的氣體溫度不能降低到**初的氣體溫度t0或液體溫度。如圖6b所示，氣穴振蕩的***周期完成后，氣泡內(nèi)的氣體溫度t2將在t0和t1之間。t2可以表達如下：t2＝t1-δt＝t0+δt-δt(5)其中，δt是氣泡膨脹一次后的溫度減量，δt小于δt。當氣穴振蕩的第二周期達到**小氣泡尺寸時，氣泡內(nèi)的氣體或蒸汽的溫度t3為：t3＝t2+δt＝t0+δt-δt+δt＝t0+2δt-δt(6)當氣穴振蕩的第二周期完成后，氣泡內(nèi)的氣體或蒸汽的溫度t4為：t4＝t3-δt＝t0+2δt-δt-δt＝t0+2δt-2δt(7)同理，當氣穴振蕩的第n個周期達到**小氣泡尺寸時，氣泡內(nèi)的氣體或蒸汽的溫度t2n-1為：t2n-1＝t0+nδt–(n-1)δt(8)當氣穴振蕩的第n個周期完成后，氣泡內(nèi)的氣體或蒸汽的溫度t2n為：t2n＝t0+nδt-nδt＝t0+n(δt-δt)(9)根據(jù)公式(8)，內(nèi)爆的周期數(shù)ni可以表達如下：ni＝(ti-t0-δt)/(δt–δt)+1(10)根據(jù)公式(10)，內(nèi)爆時間τi可以表達如下：τi＝nit1＝t1((ti-t0-δt)/(δt–δt)+1)＝ni/f1＝((ti-t0-δt)/(δt–δt)+1)/f1(11)其中，t1為循環(huán)周期。半導體晶圓的市場價格？遼陽半導體晶圓推薦貨源

半導體制程重要輔助設(shè)備。開封標準半導體晶圓

    f1為超聲波或兆聲波的頻率。根據(jù)公式(10)和(11)，內(nèi)爆周期數(shù)ni和內(nèi)爆時間τi可以被計算出來。表1為內(nèi)爆周期數(shù)ni、內(nèi)爆時間τi和(δt–δt)的關(guān)系，假設(shè)ti＝3000℃，δt＝℃，t0＝20℃，f1＝500khz，f1＝1mhz，及f1＝2mhz。表1圖6a至圖6c揭示了在聲波晶圓清洗工藝中**終發(fā)生微噴射且工藝參數(shù)符合公式(1)-(11)。參考圖6a所示，電功率(p)連續(xù)供應(yīng)至聲波裝置以在清洗液中產(chǎn)生氣穴振蕩。隨著氣穴振蕩的周期數(shù)n增加，如圖6b所示氣體或蒸汽的溫度也隨之增加，因此氣泡表面更多的分子會被蒸發(fā)至氣泡6082內(nèi)部，導致氣泡6082的尺寸隨著時間的推移而增加，如圖6c所示。**終，在壓縮過程中氣泡6082內(nèi)部的溫度將達到內(nèi)爆溫度ti(通常ti高達幾千攝氏度)，猛烈的微噴射6080發(fā)生，如圖6c所示。因此，為了避免在清洗期間損傷晶圓的圖案結(jié)構(gòu)，必須保持穩(wěn)定的氣穴振蕩，避免氣泡內(nèi)爆和發(fā)生微噴射。圖7a至圖7e揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。圖7a揭示了間歇供給聲波裝置以在清洗液中產(chǎn)生氣穴振蕩的電源輸出的波形。圖7b揭示了對應(yīng)每個氣穴振蕩周期的溫度曲線。圖7c揭示了在每個氣穴振蕩周期期間，氣泡的尺寸在τ1時間段內(nèi)增加及在τ2時間段內(nèi)電源切斷后氣泡尺寸減小。開封標準半導體晶圓

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