從而可使所述連接臺(tái)35帶動(dòng)所述橫條33繞圓弧方向左右晃動(dòng)，當(dāng)所述橫條33沿圓弧方向向上移動(dòng)時(shí)，所述第二齒牙34可與所述***齒牙38嚙合，進(jìn)而可帶動(dòng)上所述滑塊47向左移動(dòng)，則可使所述夾塊49向左移動(dòng)。另外，在一個(gè)實(shí)施例中，所述從動(dòng)腔62的后側(cè)開設(shè)有蝸輪腔69，所述旋轉(zhuǎn)軸36向后延伸部分均伸入所述蝸輪腔69內(nèi)，且其位于所述蝸輪腔69內(nèi)的外周上均固設(shè)有蝸輪64，所述蝸輪腔69的左壁固設(shè)有***電機(jī)63，所述***電機(jī)63的右側(cè)面動(dòng)力連接設(shè)有蝸桿65，所述蝸桿65的右側(cè)面與所述蝸輪腔69的右壁轉(zhuǎn)動(dòng)連接，所述蝸桿65與所述蝸輪64嚙合，通過所述***電機(jī)63的運(yùn)轉(zhuǎn)，可使所述蝸桿65帶動(dòng)所述旋轉(zhuǎn)軸36轉(zhuǎn)動(dòng)。另外，在一個(gè)實(shí)施例中，所述穩(wěn)定機(jī)構(gòu)102包括限制塊39，所述橫板41向右延伸部分伸出外界，且其右側(cè)面固設(shè)有手拉塊40，所述橫板41內(nèi)設(shè)有開口向上的限制腔42，所述從動(dòng)腔62的上側(cè)連通設(shè)有滑動(dòng)腔43，所述滑動(dòng)腔43與所述送料腔68連通，所述限制塊39滑動(dòng)設(shè)在所述滑動(dòng)腔43的右壁上，所述限制塊39向下滑動(dòng)可插入所述限制腔42內(nèi)，所述限制塊39向下延伸部分貫穿所述送料腔68，并伸入所述從動(dòng)腔62內(nèi)，且其位于所述橫條33上側(cè)，所述第二齒牙34可與所述限制塊39抵接，所述限制塊39的頂面固設(shè)有拉桿45。怎么選擇質(zhì)量好的半導(dǎo)體晶圓？重慶半導(dǎo)體晶圓

    非脈沖模式)時(shí)晶圓上的通孔或槽確定沒有被清洗干凈；第四步是采用sems或元素分析工具如edx檢測(cè)以上五片晶圓的通孔或槽內(nèi)的可追蹤的殘留物狀態(tài)。步驟一至步驟四可以重復(fù)數(shù)次以逐步縮短時(shí)間τ2直到觀察到通孔或槽內(nèi)的可追蹤殘留物。由于時(shí)間τ2被縮短，氣泡的體積無(wú)法徹底縮小，從而將逐步堵塞圖案結(jié)構(gòu)并影響清洗效果，這個(gè)時(shí)間被稱為臨界冷卻時(shí)間τc。知道臨界冷卻時(shí)間τc后，時(shí)間τ2可以設(shè)置為大于2τc以獲得安全范圍。更詳細(xì)的舉例如下：***步是選擇10個(gè)不同的時(shí)間τ1作為實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)(doe)的條件，如下表3所示的τ10，2τ10,4τ10,8τ10,16τ10,32τ10,64τ10,128τ10,256τ10,512τ10；第二步是選擇時(shí)間τ2至少是10倍的512τ10，在***屏測(cè)試時(shí)**好是20倍的512τ10，如表3所示；第三步是確定一功率p0分別在具有特定的圖案結(jié)構(gòu)的晶圓上運(yùn)行以上10個(gè)條件，此處，p0為運(yùn)行連續(xù)模式(非脈沖模式)時(shí)晶圓上的通孔或槽確定沒有被清洗干凈；第四步是使用表3所示的上述條件處理等離子刻蝕后的10片具有通孔或槽的晶圓，選擇等離子刻蝕后的晶圓的原因在于刻蝕過程中會(huì)在槽和通孔側(cè)壁產(chǎn)生聚合物，這些位于通孔底部或側(cè)壁上的聚合物難以用傳統(tǒng)方法去除。遂寧半導(dǎo)體晶圓服務(wù)至上半導(dǎo)體硅晶圓領(lǐng)域分析。

    本申請(qǐng)還提供具有上述基板結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體晶圓，以及制作上述基板結(jié)構(gòu)的晶圓制造方法。根據(jù)本申請(qǐng)的方案，提供具有邊框結(jié)構(gòu)的基板結(jié)構(gòu)、半導(dǎo)體晶圓、以及晶圓制作方法。根據(jù)本申請(qǐng)的一方案，提供一種承載半導(dǎo)體組件的基板結(jié)構(gòu)，其特征在于，包含：一晶圓層，具有相對(duì)應(yīng)的一***表面與一第二表面，其中該第二表面具有向該***表面凹陷的一中心凹陷區(qū)域，該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當(dāng)中，使得該晶圓層的一邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域環(huán)繞在該第二表面周圍；以及一金屬層，具有相對(duì)應(yīng)的一第三表面與一第四表面，該第三表面完全貼合于該第二表面。進(jìn)一步的，為了彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，其中該第二表面更包含具有向該***表面凹陷的一***環(huán)狀凹陷區(qū)域，該***環(huán)狀凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當(dāng)中，使得該晶圓層在該***環(huán)狀凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域之間形成環(huán)狀的一***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域。進(jìn)一步的，為了更彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，其中該第二表面更具有向該***表面凹陷的第二環(huán)狀凹陷區(qū)域，該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域位于該第二表面當(dāng)中，使得該晶圓層在該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域之間形成環(huán)狀的一第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***環(huán)狀凹陷區(qū)域完全包含環(huán)狀的該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域。

    無(wú)法有效去除被困在通孔或槽內(nèi)的顆粒、殘留物和其他雜質(zhì)。但如圖20a所示，在時(shí)間τ2內(nèi)關(guān)閉超/兆聲波電源以冷卻氣泡，由于氣泡縮小，這種狀態(tài)將更替到下一個(gè)狀態(tài)。在冷卻狀態(tài)下，新鮮清洗液有機(jī)會(huì)進(jìn)入到通孔或槽內(nèi)以便清洗其底部和側(cè)壁。當(dāng)超/兆聲波電源在下一個(gè)打開周期打開時(shí)，顆粒、殘留物和其他雜質(zhì)受到氣泡體積增量產(chǎn)生的外拉力移出通孔或槽。如果在清洗過程中這兩個(gè)狀態(tài)交替進(jìn)行，可以達(dá)到使用超聲波/兆聲波有效清洗具有高深寬比的通孔，槽或凹進(jìn)區(qū)域的晶圓的目的。時(shí)間段τ2內(nèi)的冷卻狀態(tài)在清洗過程中起到關(guān)鍵作用，且需要在τ1<τi的條件下限制氣泡尺寸。以下用實(shí)驗(yàn)方法可以確定時(shí)間段τ2以在冷卻狀態(tài)下縮小氣泡尺寸，以及時(shí)間段τ1以限制氣泡膨脹到堵塞尺寸。實(shí)驗(yàn)使用超/兆聲波裝置結(jié)合清洗液來(lái)清洗具有通孔和槽等微小特征的圖案化晶圓，存在可追蹤的殘留物以評(píng)估清洗效果。***步是選擇足夠大的τ1以堵塞圖案結(jié)構(gòu)，可以像基于方程式(20)計(jì)算τi那樣計(jì)算出τ1；第二步是選擇不同的時(shí)間τ2運(yùn)行doe，選擇的時(shí)間τ2至少是10倍的τ1，***屏測(cè)試時(shí)**好是100倍的τ1；第三步是確定時(shí)間τ1和功率p0，分別以至少五種條件清洗特定的圖案結(jié)構(gòu)晶圓，此處，p0為運(yùn)行連續(xù)模式。半導(dǎo)體晶圓量大從優(yōu)..

    使得該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離。進(jìn)一步的，為了讓基板區(qū)域的電阻值降低，其中在該蝕刻步驟進(jìn)行一部份后，再將該屏蔽層覆蓋到該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，使得在該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離。進(jìn)一步的，為了盡可能地利用晶圓的面積來(lái)制作不同芯片，其中該多個(gè)芯片區(qū)域包含一第二芯片區(qū)域，該***芯片區(qū)域與該第二芯片區(qū)域的形狀不同。進(jìn)一步的，為了使用晶圓級(jí)芯片制造技術(shù)來(lái)加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作，其中該多個(gè)芯片區(qū)域當(dāng)中的每一個(gè)芯片區(qū)域和該***芯片區(qū)域的形狀都相同。進(jìn)一步的，為了節(jié)省金屬層的厚度以便節(jié)省成本，其中該金屬層具有相對(duì)應(yīng)的一第三表面與一第四表面，該第三表面完全貼合于該第二表面，其中該第四表面具有向該第三表面凹陷的一金屬層凹陷區(qū)域，該金屬層凹陷區(qū)域在該第二表面的投影區(qū)域位于該中心凹陷區(qū)域當(dāng)中。進(jìn)一步的，為了設(shè)計(jì)與制作的方便，其中該金屬層凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域的形狀相應(yīng)，該金屬層凹陷區(qū)域的面積小于該中心凹陷區(qū)域的面積?？偵纤觥Ｎ靼苍趺礃影雽?dǎo)體晶圓?江門半導(dǎo)體晶圓廠家現(xiàn)貨

天津12英寸半導(dǎo)體晶圓代工。重慶半導(dǎo)體晶圓

    結(jié)構(gòu)500所包含的該金屬層510的第四表面514并不是像該結(jié)構(gòu)400所包含的該金屬層310的第四表面314一樣是平面。第四表面514的剖面相應(yīng)于該金屬層的第三表面513的剖面。該金屬層510的第四表面514與該晶圓層320的***表面321的**短距離，要小于該金屬層310的第四表面314與該晶圓層320的***表面321的**短距離。由于該結(jié)構(gòu)500的金屬層510的大部分比該結(jié)構(gòu)400的金屬層310的大部分較薄，因此可以節(jié)省金屬本身的成本，也可以節(jié)省制作該金屬層510的步驟的成本。請(qǐng)參考圖5b所示，其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)500的剖面示意圖。圖5b所示的實(shí)施例是圖5a所示實(shí)施例的一種變形。和圖5a的金屬層510相比，圖5b所示實(shí)施例的金屬層510比較厚。圖5b所示實(shí)施例的其余特征均與圖5a所示實(shí)施例相同。請(qǐng)參考圖6所示，為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)的剖面600的一示意圖。該結(jié)構(gòu)的剖面600可以是圖3所示結(jié)構(gòu)300的aa線剖面，也可以是圖4所示結(jié)構(gòu)400的aa線剖面，還可以是圖5b所示結(jié)構(gòu)500的bb線剖面。為了方便說明起見，圖6所示的實(shí)施例是圖3所示的結(jié)構(gòu)300，因此使用了金屬層310與晶圓層320的符號(hào)。但本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解到，剖面600可以適用于結(jié)構(gòu)400或500。重慶半導(dǎo)體晶圓

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