在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，排氣口包含多個(gè)穿孔。本發(fā)明的另一實(shí)施方式提供一種半導(dǎo)體晶圓干燥方法。半導(dǎo)體晶圓干燥方法包含：將半導(dǎo)體晶圓設(shè)置于腔室內(nèi)；對(duì)半導(dǎo)體晶圓發(fā)射微波，以將半導(dǎo)體晶圓上的水加熱并轉(zhuǎn)換成水蒸氣；以及將水蒸氣排出腔室。在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，半導(dǎo)體晶圓干燥方法進(jìn)一步包含：旋轉(zhuǎn)半導(dǎo)體晶圓。在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，半導(dǎo)體晶圓的轉(zhuǎn)速實(shí)質(zhì)上為10rpm。相較于公知技術(shù)，本發(fā)明的上述實(shí)施方式至少具有以下優(yōu)點(diǎn)：(1)運(yùn)用微波移除先前的工藝殘留于半導(dǎo)體晶圓表面上的水，使得干燥過(guò)程變得簡(jiǎn)單，從而能有效降低干燥半導(dǎo)體晶圓的作業(yè)成本。(2)由于微波產(chǎn)生器平均地環(huán)繞腔室分布，微波可均勻地進(jìn)入腔室內(nèi)，并均勻地到達(dá)位于腔室內(nèi)的半導(dǎo)體晶圓，從而促進(jìn)干燥過(guò)程。(3)由于半導(dǎo)體晶圓以約10rpm(revolutionsperminute，每分鐘回轉(zhuǎn)數(shù))的低轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)，半導(dǎo)體晶圓可均勻地暴露于發(fā)射自微波產(chǎn)生器的微波，藉此可促進(jìn)干燥過(guò)程。附圖說(shuō)明參照以下附圖閱讀下文中詳述的實(shí)施方式，可更透徹地理解本發(fā)明。圖1為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備的剖視圖。圖2為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備的剖視圖。天津12英寸半導(dǎo)體晶圓代工。深圳半導(dǎo)體晶圓誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)

    一個(gè)晶圓1300可以在半導(dǎo)體的制程與封裝之后，再進(jìn)行芯片的切割，這種制作過(guò)程通常被稱為晶圓級(jí)芯片封裝(wlcsp,waferlevelchipscalepackage)。如圖13所示，該晶圓1300可以預(yù)先設(shè)計(jì)成要在虛線處進(jìn)行切割，以便在封裝之后形成多個(gè)芯片。在圖13當(dāng)中，該晶圓1300可以包含三個(gè)尺寸相同的芯片1310~1330。在一實(shí)施例中，這三個(gè)芯片1310~1330可以是同一種設(shè)計(jì)的芯片。換言之，這三個(gè)芯片1310~1330可以包含上述基板結(jié)構(gòu)300~1200當(dāng)中的其中一種?；蛘哒f(shuō)整個(gè)晶圓1300所包含的所有芯片都包含同一種基板結(jié)構(gòu)。在另一實(shí)施例當(dāng)中，這三個(gè)芯片1310~1330可以是不同種設(shè)計(jì)的芯片。也就是說(shuō)，這三個(gè)芯片1310~1330可以包含上述基板結(jié)構(gòu)300~1200當(dāng)中的其中兩種或三種。換言之，整個(gè)晶圓1300的多個(gè)芯片包含兩種以上的基板結(jié)構(gòu)。舉例來(lái)說(shuō)，芯片1310可以包含基板結(jié)構(gòu)500，芯片1320可以包含基板結(jié)構(gòu)900，芯片1330可以包含基板結(jié)構(gòu)400。在另一范例中，芯片1310可以包含基板結(jié)構(gòu)300，芯片1320可以包含基板結(jié)構(gòu)800。圖13所示的芯片也可以包含圖6、7、11、12分別所示的四種剖面600、700、1100與1200。換言之，本申請(qǐng)并不限定同一個(gè)晶圓上的任兩顆芯片使用相同的剖面。請(qǐng)參考圖14所示。西安質(zhì)量半導(dǎo)體晶圓半導(dǎo)體晶圓研磨設(shè)備。

    τ1是氣泡內(nèi)的溫度上升到高于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔，τ2是氣泡內(nèi)的溫度下降到遠(yuǎn)低于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔。由于可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩在清洗過(guò)程中具有一定的氣泡內(nèi)爆，因此，可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩將提供更高的pre(particleremovalefficiency，顆粒去除效率)，而對(duì)圖案結(jié)構(gòu)造成**小的損傷。臨界內(nèi)爆溫度是會(huì)導(dǎo)致***個(gè)氣泡內(nèi)爆的氣泡內(nèi)的**低溫度。為了進(jìn)一步提高pre，需要進(jìn)一步提高氣泡的溫度，因此需要更長(zhǎng)的時(shí)間τ1。通過(guò)縮短時(shí)間τ2來(lái)提高氣泡的溫度。超或兆聲波的頻率是控制內(nèi)爆強(qiáng)度的另一個(gè)參數(shù)。可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩是通過(guò)設(shè)置聲波電源在時(shí)間間隔小于τ1內(nèi)頻率為f1，設(shè)置聲波電源在時(shí)間間隔大于τ2內(nèi)頻率為f2，重復(fù)上述步驟直到晶圓被清洗干凈，其中，f2遠(yuǎn)大于f1，**好是f1的2倍或4倍。通常，頻率越高，內(nèi)爆的強(qiáng)度越低。τ1是氣泡內(nèi)的溫度上升到高于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔，τ2是氣泡內(nèi)的溫度下降到遠(yuǎn)低于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔?？煽氐姆欠€(wěn)態(tài)的氣穴振蕩將提供更高的pre(particleremovalefficiency，顆粒去除效率)，而對(duì)圖案結(jié)構(gòu)造成**小的損傷。臨界內(nèi)爆溫度是會(huì)導(dǎo)致***個(gè)氣泡內(nèi)爆的氣泡內(nèi)的**低溫度。為了進(jìn)一步提高pre，需要進(jìn)一步提高氣泡的溫度。

    功率為p1時(shí)檢測(cè)到的通電時(shí)間和預(yù)設(shè)時(shí)間τ1進(jìn)行比較，如果檢測(cè)到的通電時(shí)間比預(yù)設(shè)時(shí)間τ1長(zhǎng)，檢測(cè)電路發(fā)送報(bào)警信號(hào)到主機(jī)，主機(jī)接收到報(bào)警信號(hào)則關(guān)閉超聲波或兆聲波電源；檢測(cè)電路還比較檢測(cè)到的斷電時(shí)間和預(yù)設(shè)時(shí)間τ2，如果檢測(cè)到的斷電時(shí)間比預(yù)設(shè)時(shí)間τ2短，檢測(cè)電路發(fā)送報(bào)警信號(hào)到主機(jī)，主機(jī)接收到報(bào)警信號(hào)則關(guān)閉超聲波或兆聲波電源。在一個(gè)實(shí)施例中，超聲波或兆聲波裝置與噴頭相結(jié)合并置于半導(dǎo)體基板附近，超聲波或兆聲波裝置的能量通過(guò)噴頭噴出的液柱傳遞到半導(dǎo)體基板。本發(fā)明提供了另一種使用超聲波或兆聲波清洗半導(dǎo)體基板的裝置，包括卡盤、超聲波或兆聲波裝置、至少一個(gè)噴頭、超聲波或兆聲波電源、主機(jī)和檢測(cè)電路?？ūP支撐半導(dǎo)體基板。超聲波或兆聲波裝置置于半導(dǎo)體基板附近。至少一個(gè)噴頭向半導(dǎo)體基板和半導(dǎo)體基板與超聲波或兆聲波裝置之間的空隙中噴灑化學(xué)液體。主機(jī)設(shè)置超聲波或兆聲波電源以頻率f1、功率p1驅(qū)動(dòng)超聲波或兆聲波裝置，在液體中的氣泡氣穴振蕩損傷半導(dǎo)體基板上的圖案結(jié)構(gòu)之前，將超聲波或兆聲波電源的輸出設(shè)為零，待氣泡內(nèi)的溫度下降到設(shè)定溫度后，再次設(shè)置超聲波或兆聲波電源的頻率為f1，功率為p1。半導(dǎo)體晶圓研磨技術(shù)？

    術(shù)語(yǔ)“安裝”、“相連”、“連接”、“固定”等術(shù)語(yǔ)應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機(jī)械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過(guò)中間媒介間接相連，可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語(yǔ)在本發(fā)明中的具體含義。如圖1所示為一種半導(dǎo)體晶圓表面缺陷的快速檢測(cè)系統(tǒng)圖，包括入射光源101，耦合物鏡102，***透鏡103，***104，第二透鏡105，***濾光片106，***偏振片107，柱面鏡108，第三透鏡109，***相機(jī)110，第四透鏡111，第二偏振片112，第二濾光片113，偏振分光棱鏡114，平面單晶115，二向色鏡116，自聚焦控制系統(tǒng)117，顯微物鏡118，暗場(chǎng)照明119，移頻照明120，樣品121，樣品臺(tái)122，第二相機(jī)123，第五透鏡124，第三濾光片125和反射鏡126。自聚焦模塊通過(guò)閉環(huán)反饋能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)樣品表面的實(shí)時(shí)鎖焦，樣品臺(tái)通過(guò)機(jī)械控制部件能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)被檢測(cè)晶圓位置的精確掃描移動(dòng)。相機(jī)110用于共焦掃描像的采集，相機(jī)123用于暗場(chǎng)照明，pl模式照明和移頻照明遠(yuǎn)場(chǎng)像的采集。如圖2所示為一種實(shí)施實(shí)例示意圖，包括光源輸入端201，光源載具202，被檢測(cè)圓形波導(dǎo)203。半導(dǎo)體晶圓銷售電話??四川半導(dǎo)體晶圓代工

半導(dǎo)體晶圓的采購(gòu)渠道有哪些？深圳半導(dǎo)體晶圓誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)

    該中心凹陷區(qū)域位于該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域當(dāng)中，該***環(huán)狀凹陷區(qū)域位于該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域當(dāng)中。進(jìn)一步的，為了更彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，其中該***芯片區(qū)域更包含該屏蔽層未覆蓋的一第二環(huán)狀凹陷區(qū)域與該屏蔽層覆蓋的一第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域完全包圍該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域，該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域包圍該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域包圍該中心凹陷區(qū)域。進(jìn)一步的，為了保護(hù)該金屬層，并且降低物理應(yīng)力與熱應(yīng)力的影響，該晶圓制造方法更包含：在該金屬層上涂布樹(shù)酯層。進(jìn)一步的，為了使用晶圓級(jí)芯片制造技術(shù)來(lái)加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作，上述的各步驟是針對(duì)該晶圓層的該多個(gè)芯片區(qū)域同時(shí)施作。進(jìn)一步的，為了使用晶圓級(jí)芯片制造技術(shù)來(lái)加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作，該晶圓制造方法更包含：進(jìn)行該多個(gè)芯片區(qū)域的切割。進(jìn)一步的，為了使用晶圓級(jí)芯片制造技術(shù)來(lái)加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作，該晶圓制造方法更包含：在該涂布樹(shù)酯層的步驟之后，進(jìn)行該多個(gè)芯片區(qū)域的切割。進(jìn)一步的，為了讓基板結(jié)構(gòu)所承載的半導(dǎo)體組件的設(shè)計(jì)簡(jiǎn)化，其中該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域依序包含***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域。深圳半導(dǎo)體晶圓誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)

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