在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，排氣口包含多個(gè)穿孔。本發(fā)明的另一實(shí)施方式提供一種半導(dǎo)體晶圓干燥方法。半導(dǎo)體晶圓干燥方法包含：將半導(dǎo)體晶圓設(shè)置于腔室內(nèi)；對(duì)半導(dǎo)體晶圓發(fā)射微波，以將半導(dǎo)體晶圓上的水加熱并轉(zhuǎn)換成水蒸氣；以及將水蒸氣排出腔室。在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，半導(dǎo)體晶圓干燥方法進(jìn)一步包含：旋轉(zhuǎn)半導(dǎo)體晶圓。在本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，半導(dǎo)體晶圓的轉(zhuǎn)速實(shí)質(zhì)上為10rpm。相較于公知技術(shù)，本發(fā)明的上述實(shí)施方式至少具有以下優(yōu)點(diǎn)：(1)運(yùn)用微波移除先前的工藝殘留于半導(dǎo)體晶圓表面上的水，使得干燥過(guò)程變得簡(jiǎn)單，從而能有效降低干燥半導(dǎo)體晶圓的作業(yè)成本。(2)由于微波產(chǎn)生器平均地環(huán)繞腔室分布，微波可均勻地進(jìn)入腔室內(nèi)，并均勻地到達(dá)位于腔室內(nèi)的半導(dǎo)體晶圓，從而促進(jìn)干燥過(guò)程。(3)由于半導(dǎo)體晶圓以約10rpm(revolutionsperminute，每分鐘回轉(zhuǎn)數(shù))的低轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)，半導(dǎo)體晶圓可均勻地暴露于發(fā)射自微波產(chǎn)生器的微波，藉此可促進(jìn)干燥過(guò)程。附圖說(shuō)明參照以下附圖閱讀下文中詳述的實(shí)施方式，可更透徹地理解本發(fā)明。圖1為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備的剖視圖。圖2為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備的剖視圖。中硅半導(dǎo)體半導(dǎo)體晶圓現(xiàn)貨供應(yīng)。威海半導(dǎo)體晶圓收費(fèi)

    在其他區(qū)域利用較厚的樹(shù)酯層540替換部分的金屬層510的金屬，以便適應(yīng)不同的半導(dǎo)體元器件所需要的基板結(jié)構(gòu)電阻值。在制作方面，雖然樹(shù)酯層540的深度、形狀與位置有所變化，但由于制作樹(shù)酯層540的工序都是一樣，所以成本只和金屬用量的多少有關(guān)而已。請(qǐng)參考圖8a所示，其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)800的一剖面示意圖。該結(jié)構(gòu)800依序包含半導(dǎo)體組件層130、晶圓層820與金屬層810。和圖3所示的結(jié)構(gòu)300相比，除了晶圓層820外緣的邊框之外，在晶圓層820的**，也有加強(qiáng)用的內(nèi)框結(jié)構(gòu)。在圖8a當(dāng)中，可以看到兩個(gè)內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解到，內(nèi)框結(jié)構(gòu)可以增進(jìn)晶圓層820的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度。但需要注意的是，安排在內(nèi)框結(jié)構(gòu)上方的半導(dǎo)體元器件，其所適用基板結(jié)構(gòu)的電阻值就會(huì)比其他區(qū)域的電阻值來(lái)得高。因此，可以盡量不要安排需要較低基板結(jié)構(gòu)電阻值的半導(dǎo)體元器件在這些內(nèi)框結(jié)構(gòu)的上方。雖然在圖8a所示的實(shí)施例當(dāng)中，只示出兩個(gè)內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822，且該內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822相對(duì)于邊框的距離是相同的。但本申請(qǐng)并不限定內(nèi)框結(jié)構(gòu)的數(shù)量、位置、形狀等配置的參數(shù)。請(qǐng)參考圖8b所示，其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)800的一剖面示意圖。洛陽(yáng)半導(dǎo)體晶圓廠家供應(yīng)國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體晶圓廠家哪家好？

    因此晶圓1010須旋轉(zhuǎn)以在整個(gè)晶圓1010上接收均勻的聲波能量。雖然在圖1a及圖1b中*示意了一個(gè)聲波裝置1003，但是在其他實(shí)施例中，也可以同時(shí)或間歇使用兩個(gè)或多個(gè)聲波裝置。同理，也可以使用兩個(gè)或多個(gè)噴頭1012以更均勻的輸送清洗液1032。參考圖2a至圖2g所示的不同形狀的超聲波或兆聲波換能器。圖2a示意了三角形或餅形的傳感器；圖2b示意了矩形的傳感器；圖2c示意了八邊形的傳感器；圖2d示意了橢圓形的傳感器；圖2e示意了半圓形的傳感器；圖2f示意了1/4圓形的傳感器；圖2g示意了圓形的傳感器。這些形狀中的每一個(gè)聲波換能器可以用于代替圖1所示的聲波裝置1003中的壓電式傳感器1004。參考圖3揭示了在晶圓清洗過(guò)程中的氣泡內(nèi)爆。當(dāng)聲能作用于氣泡3012上時(shí)，氣泡3012的形狀逐漸從球形a壓縮至蘋(píng)果形g。**終氣泡3012到達(dá)內(nèi)爆狀態(tài)i并形成微噴射。如圖4a至圖4b所示，微噴射很猛烈(可達(dá)到上千個(gè)大氣壓和上千攝氏度)，會(huì)損傷晶圓4010上的精細(xì)圖案結(jié)構(gòu)4034，尤其是當(dāng)特征尺寸t縮小到70nm或更小時(shí)。圖4a至圖4b揭示了在晶圓清洗過(guò)程中不穩(wěn)定的氣穴振蕩損傷晶圓上的圖案結(jié)構(gòu)。參考圖4a所示，由于聲波空化在半導(dǎo)體晶圓4010的圖案結(jié)構(gòu)4034上方形成氣泡4040,4042，4044。

    無(wú)法有效去除被困在通孔或槽內(nèi)的顆粒、殘留物和其他雜質(zhì)。但如圖20a所示，在時(shí)間τ2內(nèi)關(guān)閉超/兆聲波電源以冷卻氣泡，由于氣泡縮小，這種狀態(tài)將更替到下一個(gè)狀態(tài)。在冷卻狀態(tài)下，新鮮清洗液有機(jī)會(huì)進(jìn)入到通孔或槽內(nèi)以便清洗其底部和側(cè)壁。當(dāng)超/兆聲波電源在下一個(gè)打開(kāi)周期打開(kāi)時(shí)，顆粒、殘留物和其他雜質(zhì)受到氣泡體積增量產(chǎn)生的外拉力移出通孔或槽。如果在清洗過(guò)程中這兩個(gè)狀態(tài)交替進(jìn)行，可以達(dá)到使用超聲波/兆聲波有效清洗具有高深寬比的通孔，槽或凹進(jìn)區(qū)域的晶圓的目的。時(shí)間段τ2內(nèi)的冷卻狀態(tài)在清洗過(guò)程中起到關(guān)鍵作用，且需要在τ1<τi的條件下限制氣泡尺寸。以下用實(shí)驗(yàn)方法可以確定時(shí)間段τ2以在冷卻狀態(tài)下縮小氣泡尺寸，以及時(shí)間段τ1以限制氣泡膨脹到堵塞尺寸。實(shí)驗(yàn)使用超/兆聲波裝置結(jié)合清洗液來(lái)清洗具有通孔和槽等微小特征的圖案化晶圓，存在可追蹤的殘留物以評(píng)估清洗效果。***步是選擇足夠大的τ1以堵塞圖案結(jié)構(gòu)，可以像基于方程式(20)計(jì)算τi那樣計(jì)算出τ1；第二步是選擇不同的時(shí)間τ2運(yùn)行doe，選擇的時(shí)間τ2至少是10倍的τ1，***屏測(cè)試時(shí)**好是100倍的τ1；第三步是確定時(shí)間τ1和功率p0，分別以至少五種條件清洗特定的圖案結(jié)構(gòu)晶圓，此處，p0為運(yùn)行連續(xù)模式。什么才可以稱(chēng)為半導(dǎo)體晶圓？

    提供具有邊框結(jié)構(gòu)的基板結(jié)構(gòu)、半導(dǎo)體晶圓、以及晶圓制作方法。根據(jù)本申請(qǐng)的一實(shí)施例，提供一種承載半導(dǎo)體組件的基板結(jié)構(gòu)，其特征在于，包含：一晶圓層，具有相對(duì)應(yīng)的一***表面與一第二表面，其中該第二表面具有向該***表面凹陷的一中心凹陷區(qū)域，該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當(dāng)中，使得該晶圓層的一邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域環(huán)繞在該第二表面周?chē)?；以及一金屬層，具有相?duì)應(yīng)的一第三表面與一第四表面，該第三表面完全貼合于該第二表面。在一實(shí)施例中，為了彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，其中該第二表面更包含具有向該***表面凹陷的一***環(huán)狀凹陷區(qū)域，該***環(huán)狀凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當(dāng)中，使得該晶圓層在該***環(huán)狀凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域之間形成環(huán)狀的一***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域。在一特定實(shí)施例中，為了更彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，其中該第二表面更具有向該***表面凹陷的第二環(huán)狀凹陷區(qū)域，該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域位于該第二表面當(dāng)中，使得該晶圓層在該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域之間形成環(huán)狀的一第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***環(huán)狀凹陷區(qū)域完全包含環(huán)狀的該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域完全包圍該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域，該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域完全包圍該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域。晶圓的基本工藝有哪些？石家莊12寸半導(dǎo)體晶圓

浙江12英寸半導(dǎo)體晶圓代工。威海半導(dǎo)體晶圓收費(fèi)

    本發(fā)明涉及半導(dǎo)體晶圓清洗領(lǐng)域，更具體地，涉及采用可控聲能的濕法清洗方法和裝置。背景技術(shù)：半導(dǎo)體器件是在半導(dǎo)體晶圓上采用一系列的處理步驟來(lái)制造晶體管和互連元件。近來(lái)，晶體管的建立由兩維到三維，例如鰭型場(chǎng)效應(yīng)晶體管?；ミB元件包括導(dǎo)電的(例如金屬)槽、通孔等形成在介質(zhì)材料中。為了形成這些晶體管和互連元件，半導(dǎo)體晶圓經(jīng)過(guò)多次掩膜、蝕刻和沉積工藝以形成半導(dǎo)體器件所需的結(jié)構(gòu)。例如，多層掩膜和等離子體刻蝕步驟可以在半導(dǎo)體晶圓上的電介質(zhì)層中形成作為鰭型場(chǎng)效應(yīng)晶體管的鰭的凹進(jìn)區(qū)域和互連元件的槽和通孔。為了去除刻蝕或光刻膠灰化后在鰭結(jié)構(gòu)和/或槽和通孔內(nèi)的顆粒和污染物，必須進(jìn)行濕法清洗。然而，濕法過(guò)程中使用的化學(xué)液可能會(huì)導(dǎo)致側(cè)壁損失。當(dāng)器件制造節(jié)點(diǎn)不斷接近或小于14或16nm，鰭和/或槽和通孔的側(cè)壁損失是維護(hù)臨界尺寸的關(guān)鍵。為了減少或消除側(cè)壁損失，應(yīng)當(dāng)使用溫和的或稀釋的化學(xué)液，有時(shí)甚至只使用去離子水。然而，溫和的或稀釋的化學(xué)液或去離子水通常不能有效去除鰭結(jié)構(gòu)和/或槽和通孔內(nèi)的微粒，因此，需要使用機(jī)械力來(lái)有效去除這些微粒，例如超聲波/兆聲波。超聲波/兆聲波會(huì)產(chǎn)生氣穴振蕩來(lái)為晶圓結(jié)構(gòu)的清洗提供機(jī)械力。然而。威海半導(dǎo)體晶圓收費(fèi)

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