其中該中心凹陷區(qū)域是方形。在一實施例中，為了讓基板區(qū)域的電阻值降低，其中在該邊框結構區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該凹陷區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。在一實施例中，為了讓基板區(qū)域的電阻值降低，其中在該邊框結構區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***環(huán)狀凹陷區(qū)域或該中心凹陷區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。在一實施例中，為了讓基板區(qū)域的電阻值降低，其中在該邊框結構區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***內(nèi)框結構區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離。在一實施例中，為了節(jié)省金屬層的厚度以便節(jié)省成本，其中該第四表面具有向該第三表面凹陷的一金屬層凹陷區(qū)域，該金屬層凹陷區(qū)域在該第二表面的投影區(qū)域位于該中心凹陷區(qū)域當中。在一實施例中，為了設計與制作的方便，其中該金屬層凹陷區(qū)域與該凹陷區(qū)域的形狀相應，該金屬層凹陷區(qū)域的面積小于該中心凹陷區(qū)域的面積。根據(jù)本申請的一實施例，提供一種半導體晶圓，其特征在于，其中該半導體晶圓當中預定切割出一***芯片區(qū)域，該***芯片區(qū)域包含如所述的半導體組件的基板結構。在一實施例中。晶圓的基本工藝有哪些？半導體晶圓推薦貨源
該晶圓制作方法1500可以用于制作本申請所欲保護的其他基板結構，而不只限于基板結構1000。步驟1510：提供晶圓。該晶圓可以是圖13或14所示的晶圓1300或1400。在圖16a當中，可以看到晶圓層820的剖面。圖16a的晶圓層820的上表面，是圖10a實施例所說的第二表面822。步驟1520：根據(jù)所欲切割芯片的大小與圖樣，涂布屏蔽層。在圖16b當中，可以看到屏蔽層1610的圖樣，形成在晶圓層820的上表面。而每一個芯片預定區(qū)域的屏蔽層1610的圖樣，至少要在該芯片的周圍形成邊框區(qū)域。當所欲實施的基板結構如同圖8a~10b所示的基板結構800~1000，或是具有內(nèi)框結構時，則屏蔽層1610的圖樣可以涵蓋這些內(nèi)框結構的區(qū)域。在一實施例當中，上述的屏蔽層可以是光阻層(photoresistlayer)，也可以是其他如氮化硅之類的屏蔽層。步驟1530：對晶圓進行蝕刻。蝕刻的方式可以包含濕式蝕刻、干式蝕刻、電漿蝕刻、反應離子蝕刻(rie,reactiveionetching)等。如圖16c所示，蝕刻的深度可以約為該晶圓層820厚度的一半，但本申請并不限定蝕刻步驟的厚度。在步驟1530之后，形成芯片邊緣的邊框結構與/或芯片內(nèi)部的方框結構。利用兩個步驟1520與1530，可以形成該晶圓上所有芯片的晶圓層的全部邊框結構與內(nèi)框結構。江門半導體晶圓推薦咨詢洛陽怎么樣半導體晶圓?
在一實施例中，為了保護該金屬層，并且降低物理應力與熱應力的影響，該基板結構更包含：一樹酯層，具有相對應的一第五表面與一第六表面，其中該第五表面的形狀相應于該第四表面。在一實施例中，為了讓基板結構所承載的半導體組件的設計簡化，其中該邊框結構區(qū)域依序包含***邊結構區(qū)域、第二邊結構區(qū)域、第三邊結構區(qū)域與第四邊結構區(qū)域，該***邊結構區(qū)域與該第三邊結構區(qū)域的寬度相同。在一特定實施例中，為了讓基板結構所承載的半導體組件的設計更加簡化，其中該***邊結構區(qū)域、該第二邊結構區(qū)域、該第三邊結構區(qū)域與該第四邊結構區(qū)域的寬度相同。在一實施例中，為了讓基板結構適應所承載的半導體組件的不同設計，其中該邊框結構區(qū)域依序包含***邊結構區(qū)域、第二邊結構區(qū)域、第三邊結構區(qū)域與第四邊結構區(qū)域，該***邊結構區(qū)域與該第三邊結構區(qū)域的寬度不同。在一特定實施例中，為了讓基板結構適應所承載的半導體組件的具有更大的設計彈性，其中該***邊結構區(qū)域、該第二邊結構區(qū)域、該第三邊結構區(qū)域與該第四邊結構區(qū)域的寬度均不相同。在一實施例中，為了配合大多數(shù)矩形芯片的形狀，其中該中心凹陷區(qū)域是矩形。在一實施例中，為了配合大多數(shù)方形芯片的形狀。
則可達到切割效果，通過接收腔29內(nèi)的清水，可使切割掉落的產(chǎn)品能夠受到緩沖作用，通過手動向前拉動手拉桿67，可使接收箱28向前滑動，進而可取出產(chǎn)品，通過第三電機25的運轉(zhuǎn)，可使電機軸24帶動***轉(zhuǎn)盤23轉(zhuǎn)動，進而可使第二輪盤21帶動***螺桿17間歇性往返轉(zhuǎn)動，則可使升降塊15間歇性升降，繼而可使切割片50能夠連續(xù)切割硅錠48，通過第三電機25的運轉(zhuǎn)，可使***螺桿17帶動豎軸12往返轉(zhuǎn)動，進而可使皮帶傳動裝置59傳動來動第二螺桿57往返轉(zhuǎn)動，通過第二螺桿57的間歇性正反轉(zhuǎn)動，可使螺套58間歇性升降移動，進而可使第五連桿56帶動第四連桿54間歇性往返左右移動，從而可使移動塊53帶動海綿52間歇性往返左右移動，則可使海綿52在切割片50上升時向切割片50移動并抵接，以及在切割片50下降時向移動腔13方向打開，通過冷卻水腔14內(nèi)的冷卻水，可保證海綿52處于吸水狀態(tài)。本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明可有效降低半導體制作原料晶圓在切割時所產(chǎn)生的發(fā)熱變形問題，并且也能降低硅錠在移動送料切割過程中，由于長時間連續(xù)工作導致主軸位置偏移導致切割不準的問題，其中，步進機構能夠通過旋轉(zhuǎn)聯(lián)動水平步進移動的傳動方式，使硅錠在連續(xù)切割時能夠穩(wěn)定送料。半導體行業(yè)，晶圓制造和晶圓加工。
在清洗過程中晶圓24010浸沒在清洗液24070中。在上述實施例中，在晶圓清洗工藝中，如果聲波電源的所有關鍵工藝參數(shù)，例如功率水平、頻率、通電時間(τ1)、斷電時間(τ2)都預設在電源控制器中，而不是實時監(jiān)測，在晶圓清洗過程中，由于一些異常情況，仍然可能發(fā)生圖案結構損傷。因此，需要一種實時監(jiān)測聲波電源工作狀態(tài)的裝置和方法，如果參數(shù)不在正常范圍，則聲波電源應該關閉且需要發(fā)出警報信號并報告。圖25揭示了本發(fā)明的一實施例的使用超聲波或兆聲波清洗晶圓過程中監(jiān)測聲波電源運行參數(shù)的控制系統(tǒng)。該控制系統(tǒng)包括主機25080、聲波發(fā)生器25082、聲波換能器1003、檢測電路25086和通信電纜25088。主機25080發(fā)送聲波的參數(shù)設定值到聲波發(fā)生器25082，例如功率設定值p1、通電時間設定值τ1、功率設定值p2、斷電時間設定值τ2、頻率設定值和控制指令，例如電源開啟指令。聲波發(fā)生器25082在接收到上述指令后產(chǎn)生聲波波形，并發(fā)送聲波波形到聲波換能器1003來清洗晶圓1010。同時，主機25080發(fā)送的參數(shù)設定值和聲波發(fā)生器25082的輸出值被檢測電路25086讀取。檢測電路25086將聲波發(fā)生器25082的輸出值和主機25080發(fā)送的參數(shù)設定值進行比較后。半導體晶圓信息匯總。丹東半導體晶圓銷售廠
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τ1是氣泡內(nèi)的溫度上升到高于臨界內(nèi)爆溫度的時間間隔，τ2是氣泡內(nèi)的溫度下降到遠低于臨界內(nèi)爆溫度的時間間隔。由于可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩在清洗過程中具有一定的氣泡內(nèi)爆，因此，可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩將提供更高的pre(particleremovalefficiency，顆粒去除效率)，而對圖案結構造成**小的損傷。臨界內(nèi)爆溫度是會導致***個氣泡內(nèi)爆的氣泡內(nèi)的**低溫度。為了進一步提高pre，需要進一步提高氣泡的溫度，因此需要更長的時間τ1。通過縮短時間τ2來提高氣泡的溫度。超或兆聲波的頻率是控制內(nèi)爆強度的另一個參數(shù)?？煽氐姆欠€(wěn)態(tài)的氣穴振蕩是通過設置聲波電源在時間間隔小于τ1內(nèi)頻率為f1，設置聲波電源在時間間隔大于τ2內(nèi)頻率為f2，重復上述步驟直到晶圓被清洗干凈，其中，f2遠大于f1，**好是f1的2倍或4倍。通常，頻率越高，內(nèi)爆的強度越低。τ1是氣泡內(nèi)的溫度上升到高于臨界內(nèi)爆溫度的時間間隔，τ2是氣泡內(nèi)的溫度下降到遠低于臨界內(nèi)爆溫度的時間間隔?？煽氐姆欠€(wěn)態(tài)的氣穴振蕩將提供更高的pre(particleremovalefficiency，顆粒去除效率)，而對圖案結構造成**小的損傷。臨界內(nèi)爆溫度是會導致***個氣泡內(nèi)爆的氣泡內(nèi)的**低溫度。為了進一步提高pre，需要進一步提高氣泡的溫度。半導體晶圓推薦貨源
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