在步驟1550之后，可以獲得圖3、圖8a或圖8b所示的基板結(jié)構(gòu)300或800。在步驟1550之后，流程可以前往可選的步驟1570。在一實(shí)施例當(dāng)中，還可以前往步驟1580。可選的步驟1570：涂布樹酯層。為了形成如圖4、5a、5b、9、10a與10b所示的基板結(jié)構(gòu)400、500、900與1000，可以在步驟1550之后執(zhí)行本步驟1570。圖16h~j所示的實(shí)施例，分別是在圖16e~g所示實(shí)施例的金屬層上涂布樹酯層之后的結(jié)果。步驟1580：后續(xù)的封裝。步驟1580可以包含多個(gè)子步驟，例如將晶圓貼上膠膜(通常是藍(lán)色pvc膠膜)進(jìn)行保護(hù)。接著，打印芯片卷標(biāo)，用于標(biāo)示芯片的制造商、芯片型號(hào)、制造批號(hào)、制造廠、制造日期等。然后，進(jìn)行芯片的切割，以及后續(xù)的上托盤(tray)或卷帶(tapeandreel)的包裝步驟等。如果前述的步驟1520~1570是施作在芯片上時(shí)，則步驟1580可以包含打印芯片卷標(biāo)以及上托盤(tray)或卷帶(tapeandreel)的包裝步驟，省略了切割晶圓已得到芯片的步驟。本申請所提供的晶圓制作方法1500，可以對晶圓的所有芯片同時(shí)進(jìn)行施工，以便讓晶圓的所有芯片都能夠具有前述的基板結(jié)構(gòu)之一。而無須針對每一片芯片個(gè)別進(jìn)行施工，可以節(jié)省施作時(shí)間，減少成本。根據(jù)本申請的一實(shí)施例。半導(dǎo)體晶圓價(jià)格走勢..洛陽半導(dǎo)體晶圓誠信為本

    檢測電路檢測超聲波或兆聲波電源輸出的每個(gè)波形的振幅，將檢測到的每個(gè)波形的振幅與預(yù)設(shè)值相比較，如果檢測到任一波形的振幅比預(yù)設(shè)值大，檢測電路發(fā)送報(bào)警信號(hào)到主機(jī)，主機(jī)接收到報(bào)警信號(hào)則關(guān)閉超聲波或兆聲波電源，其中預(yù)設(shè)值大于正常工作時(shí)的波形振幅。在一個(gè)實(shí)施例中，超聲波或兆聲波裝置與噴頭相結(jié)合并置于半導(dǎo)體基板附近，超聲波或兆聲波裝置的能量通過噴頭噴出的液柱傳遞到半導(dǎo)體基板。本發(fā)明還提供了一種使用超聲波或兆聲波清洗半導(dǎo)體基板的裝置，包括晶圓盒、清洗槽、超聲波或兆聲波裝置、至少一個(gè)入口、超聲波或兆聲波電源、主機(jī)和檢測電路。晶圓盒裝有至少一片半導(dǎo)體基板。清洗槽容納晶圓盒。超聲波或兆聲波裝置設(shè)置在清洗槽的外壁。至少一個(gè)入口用來向清洗槽內(nèi)注滿化學(xué)液，化學(xué)液浸沒半導(dǎo)體基板。主機(jī)設(shè)置超聲波或兆聲波電源以頻率f1、功率p1驅(qū)動(dòng)超聲波或兆聲波裝置，在液體中的氣泡氣穴振蕩損傷半導(dǎo)體基板上的圖案結(jié)構(gòu)之前，將超聲波或兆聲波電源的輸出設(shè)為零，待氣泡內(nèi)的溫度下降到設(shè)定溫度后，再次設(shè)置超聲波或兆聲波電源的頻率為f1、功率p1。檢測電路分別檢測頻率為f1，功率為p1時(shí)的通電時(shí)間和斷電時(shí)間，比較在頻率為f1。洛陽半導(dǎo)體晶圓誠信為本半導(dǎo)體晶圓的運(yùn)用場景。

    集成了暗場照明成像，pl成像，共聚焦掃描成像和倏逝場照明移頻成像模式。圖2為一種實(shí)施實(shí)例俯視效果圖，輸入光源通過位于不同方位的波導(dǎo)端面耦合方式，為圓形波導(dǎo)提供倏逝場照明；圖3為一種實(shí)施實(shí)例俯視效果圖，輸入光通過環(huán)形波導(dǎo)的表面倏逝場耦合進(jìn)位于中心區(qū)域的圓形波導(dǎo)內(nèi)，提供倏逝場照明；圖4為暗場照明的示例圖，其中a為采用環(huán)形光纖束輸出提供暗場照明的示例圖，b為對應(yīng)暗場照明模塊的垂直截面圖；圖5為移頻照明成像原理示意圖。具體實(shí)施方式在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是，本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其他方式來實(shí)施，因此，本發(fā)明并不限于下面公開的具體實(shí)施例的限制。本文中所涉及的方位詞“上”、“下”、“左”和“右”，是以對應(yīng)附圖為基準(zhǔn)而設(shè)定的，可以理解，上述方位詞的出現(xiàn)并不限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例，所述實(shí)施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號(hào)表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的，旨在用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。在本發(fā)明中，除非另有明確的規(guī)定和限定。

    圖32a至圖32c揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的如圖27所示的振幅檢測電路27092的示例。該振幅檢測電路27092示例性包括參考電壓生成電路和比較電路。如圖32b所示，參考電壓生成電路使用d/a轉(zhuǎn)換器32118將主控制器26094的數(shù)字輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬直流參考電壓vref+和vref-，如圖32c所示。比較電路使用窗口比較器32114及與門32116來比較電壓衰減電路26090輸出的振幅vin和參考電壓vref+和vref-。如果衰減后的振幅vin超過參考電壓vref+和/或vref-，那么振幅檢測電路27092發(fā)送報(bào)警信號(hào)到主機(jī)25080，主機(jī)25080接收到報(bào)警信號(hào)則關(guān)閉聲波發(fā)生器25082來避免對晶圓1010上的圖案結(jié)構(gòu)造成損傷。圖33揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的晶圓清洗工藝的流程圖。該晶圓清洗工藝從步驟33010開始，首先將清洗液施加至晶圓和超聲波或兆聲波裝置之間的間隙中。在步驟33020中，設(shè)置超聲波或兆聲波電源的頻率為f1，功率為p1以驅(qū)動(dòng)超聲波或兆聲波裝置。在步驟33030中，將檢測到的通電時(shí)間與預(yù)設(shè)時(shí)間τ1進(jìn)行比較，如果檢測到的通電時(shí)間長于預(yù)設(shè)時(shí)間τ1，則關(guān)閉超聲波或兆聲波電源并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。在步驟33040中，在清洗液中的氣泡氣穴振蕩損傷晶圓上的圖案結(jié)構(gòu)之前設(shè)置超聲波或兆聲波電源輸出為零。半導(dǎo)體產(chǎn)品的加工過程主要包括晶圓制造和封裝測試。

    圖23揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的可以執(zhí)行圖7至圖22揭示的晶圓清洗工藝的晶圓清洗裝置。圖24揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的可以執(zhí)行圖7至圖22所揭示的晶圓清洗工藝的另一晶圓清洗裝置的剖視圖。圖25揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的用于監(jiān)測采用聲能清洗晶圓的工藝參數(shù)的控制系統(tǒng)。圖26揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的如圖25所示的檢測電路的框圖。圖27揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的如圖25所示的檢測電路的框圖。圖28a至圖28c揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的如圖26所示的電壓衰減電路。圖29a至圖29c揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的如圖26所示的整形電路。圖30a至圖30c揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的如圖26及圖27所示的主控制器。圖31揭示了主機(jī)關(guān)閉聲波電源后聲波電源繼續(xù)振蕩幾個(gè)周期。圖32a至圖32c揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的如圖27所示的振幅檢測電路。圖33揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的晶圓清洗工藝的流程圖。圖34揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的晶圓清洗工藝的流程圖。具體實(shí)施方式本發(fā)明的一個(gè)方面涉及使用聲能進(jìn)行半導(dǎo)體晶圓清洗時(shí)控制氣泡氣穴振蕩。下面將參考附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例。參考圖1a至圖1b。什么才可以稱為半導(dǎo)體晶圓？咸陽12英寸半導(dǎo)體晶圓代工

國外半導(dǎo)體晶圓產(chǎn)品品質(zhì)怎么樣？洛陽半導(dǎo)體晶圓誠信為本

    可以利用多重的內(nèi)框結(jié)構(gòu)，例如回字型的內(nèi)框結(jié)構(gòu)來加強(qiáng)結(jié)構(gòu)強(qiáng)度。所謂的回字型，就是內(nèi)框內(nèi)還有內(nèi)框的結(jié)構(gòu)。在一實(shí)施例當(dāng)中，多重的內(nèi)框結(jié)構(gòu)可以是同心的，以便簡化設(shè)計(jì)。在另一實(shí)施例當(dāng)中，多重的內(nèi)框結(jié)構(gòu)的框的寬度是相同的。在更一實(shí)施例當(dāng)中，大內(nèi)框結(jié)構(gòu)與小內(nèi)框結(jié)構(gòu)的形狀可以是相應(yīng)的。舉例來說，大內(nèi)框結(jié)構(gòu)與小內(nèi)框結(jié)構(gòu)的形狀可以是相同的，但大小不同?？虻膶挾瓤梢耘c內(nèi)框結(jié)構(gòu)的大小成比例。在一實(shí)施例當(dāng)中，可以具有兩個(gè)以上的多重內(nèi)框結(jié)構(gòu)。請參考圖11b所示，其為根據(jù)本申請一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)的剖面1100的一示意圖。圖11b所示的實(shí)施例，為回字型的內(nèi)框結(jié)構(gòu)，就是內(nèi)框內(nèi)還有內(nèi)框的多重內(nèi)框結(jié)構(gòu)。本申請所欲保護(hù)的技術(shù)特征在于，晶圓層的邊框結(jié)構(gòu)的內(nèi)部至少具有一個(gè)或多重內(nèi)框結(jié)構(gòu)，用于加強(qiáng)該一個(gè)或多重內(nèi)框結(jié)構(gòu)內(nèi)部的結(jié)構(gòu)，本申請并不限定內(nèi)框結(jié)構(gòu)的個(gè)數(shù)。請參考圖12所示，其為根據(jù)本申請一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)的剖面1200的一示意圖。該結(jié)構(gòu)的剖面1200可以是圖10a所示結(jié)構(gòu)1000的dd線剖面。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以透過圖12理解到，本申請并不限定該樹酯層1040a與1040b外緣的形狀，其可以是正方形、矩形、橢圓形、圓形。洛陽半導(dǎo)體晶圓誠信為本

昆山創(chuàng)米半導(dǎo)體科技有限公司專注技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品研發(fā)，發(fā)展規(guī)模團(tuán)隊(duì)不斷壯大。一批專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，是實(shí)現(xiàn)企業(yè)戰(zhàn)略目標(biāo)的基礎(chǔ)，是企業(yè)持續(xù)發(fā)展的動(dòng)力。誠實(shí)、守信是對企業(yè)的經(jīng)營要求，也是我們做人的基本準(zhǔn)則。公司致力于打造***的晶圓，wafer，半導(dǎo)體輔助材料，晶圓盒。公司憑著雄厚的技術(shù)力量、飽滿的工作態(tài)度、扎實(shí)的工作作風(fēng)、良好的職業(yè)道德，樹立了良好的晶圓，wafer，半導(dǎo)體輔助材料，晶圓盒形象，贏得了社會(huì)各界的信任和認(rèn)可。