膠態(tài)量子點具有兩大優(yōu)勢。首先是更廉價，因為它們降低了每瓦電力產(chǎn)生的成本，但更主要的優(yōu)勢在于，只需簡單改變量子點的大小，就能改變吸收光譜。大小容易改變且可調(diào)諧是等離子材料的屬性：通過改變等離子粒子的大小，研究人員就能將這兩種重要納米粒子的吸收和散射光譜重疊起來。   薩金特研究小組通過將金納米殼直接嵌入量子點吸收膜提高了太陽能電池的效率，他們下一步將尋找利用更廉價的金屬來達成相同的目標。美國加州大學(xué)納米系統(tǒng)研究所所長保羅·維斯認為，該項研究的重要性在于展示了通過調(diào)節(jié)納米粒子特性以提高太陽能電池效率的潛力。由于其尺寸很小——小于1平方毫米，因此可以有效地開發(fā)具有更復(fù)雜材料的太陽能電池。西藏高級太陽光譜模擬AM0

可選地，根據(jù)地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時刻及拍攝位置高程，計算地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像拍攝位置的太陽直接輻射強度和太陽散射輻射強度，包括：根據(jù)地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間，計算地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像中每個像素對應(yīng)的地理經(jīng)度和地理緯度；根據(jù)拍攝日期，計算拍攝日期對應(yīng)的太陽赤緯角及大氣層上界垂直入射時的太陽輻射強度；根據(jù)拍攝時刻和地理經(jīng)度，計算拍攝時刻的太陽時角；根據(jù)太陽赤緯角、太陽時角和地理緯度，計算拍攝時刻的太陽高度角；根據(jù)太陽高度角和拍攝位置高程，計算相對大氣光學(xué)質(zhì)量；根據(jù)相對大氣光學(xué)質(zhì)量，計算直射輻射大氣透明度系數(shù)，并根據(jù)直射輻射大氣透明度系數(shù)，計算散射輻射大氣透明度系數(shù)；根據(jù)大氣層上界垂直入射時的太陽輻射強度、直射輻射大氣透明度系數(shù)和太陽高度角，計算太陽直接輻射強度；根據(jù)散射輻射大氣透明度系數(shù)和太陽高度角，計算太陽散射輻射強度。西藏高級太陽光譜模擬AM0撞擊出來的銅離子沉積在步驟1)制得的強化膜的外表面上形成低發(fā)射率膜。

可選地，根據(jù)尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間，計算地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像中每個像素對應(yīng)的地理經(jīng)度和地理緯度，包括：以地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像中的一預(yù)設(shè)點建立直角坐標系，根據(jù)遙感圖像尺寸，得到每個像素點在直角坐標系中的坐標(x，y)；獲取每個像素點對應(yīng)的地理坐標(by-1，lx-1)；根據(jù)計算坐標為(x，y)的像素點對應(yīng)的地理經(jīng)度l(x)；根據(jù)計算坐標為(x，y)的像素點對應(yīng)的地理緯度b(y)；其中，(b0，l0)為坐標值(0，0)為的像素點對應(yīng)的地理坐標，x×y為尺寸。可選地，根據(jù)拍攝日期，計算拍攝日期對應(yīng)的太陽赤緯角和大氣層上界垂直入射時的太陽輻射強度，包括：根據(jù)計算太陽赤緯角；根據(jù)計算太陽輻射強度；其中，d表示計算拍攝日期在一年中所處的天數(shù)，δ(d)為太陽赤緯角，e(d)為太陽輻射強度。

第五計算單元325，用于根據(jù)太陽高度角和所述拍攝位置高程，計算相對大氣光學(xué)質(zhì)量；第六計算單元326，用于根據(jù)相對大氣光學(xué)質(zhì)量，計算直射輻射大氣透明度系數(shù)，并根據(jù)直射輻射大氣透明度系數(shù)，計算散射輻射大氣透明度系數(shù)；第七計算單元327，用于根據(jù)大氣層上界垂直入射時的太陽輻射強度、所述直射輻射大氣透明度系數(shù)和太陽高度角，計算所述太陽直接輻射強度；第八計算單元328，用于根據(jù)散射輻射大氣透明度系數(shù)和太陽高度角，計算太陽散射輻射強度。需要說明的是，裝置部分的實施例方式與方法部分的實施例方式對應(yīng)類似，具體細節(jié)請參照方法實施例部分，在此不再贅述。撞擊出來的硅離子與通入的氧氣發(fā)生化學(xué)反應(yīng)生成二氧化硅，反應(yīng)生成的二氧化硅沉積在步驟。

et(d，α，z)＝ed(d，α，z)+es(α，z)，(12)其中，ed(d，α，z)與es(α，z)可從操作s102中得出。s104，針對于不同拍攝日期、和/或不同拍攝時間、和/或拍攝位置對應(yīng)的所述地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像，計算各自對應(yīng)的太陽總輻照強度相互之間的差值，得到各個地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像之間的太陽光照補償值。從方程(12)可以看出，由于太陽高度角α(x，y，d，t)由遙感圖像中像素點坐標值(x，y)、圖像拍攝時間在一年中的第d天和拍攝時間t決定，因此太陽總輻照強度et(d，α，z)由遙感圖像中像素點坐標值(x，y)、(x，y)處的高程z，圖像拍攝時間在一年中的第d天和拍攝時間t決定，則et(x，y，z，d，t)≡et(d，α，z).(1)通過降低成本和回收利用這些生長基底，未來類似的產(chǎn)品可能將被推向市場。北京AM1.5太陽光譜模擬AM0

由于在濺鍍化合物薄膜時，若直接以化合物當(dāng)作靶材，則所濺鍍出來的薄膜會與靶材成份有所差別。西藏高級太陽光譜模擬AM0

可選地，根據(jù)相對大氣光學(xué)質(zhì)量，計算直射輻射大氣透明度系數(shù)，并根據(jù)直射輻射大氣透明度系數(shù)，計算散射輻射大氣透明度系數(shù)，包括：根據(jù)τd(α，z)＝0.56×(e-0.56r(α，z)+e-0.096r(α，z))×k1，計算直射輻射大氣透明度系數(shù)，其中，τd(α，z)為直射輻射大氣透明度系數(shù)，k1為常系數(shù)，取值范圍通常為0.8≤k1≤0.9；根據(jù)τs(α，z)＝0.2710-0.2939×τd(α，z)，其中，τs(α，z)為散射輻射大氣透明度系數(shù)?？蛇x地，根據(jù)大氣層上界垂直入射時的太陽輻射強度、直射輻射大氣透明度系數(shù)和太陽高度角，計算太陽直接輻射強度，包括：根據(jù)ed(d，α，z)＝e(d)×τd(α，z)×sinα(x，y，d，t)計算太陽直接輻射強度ed(d，α，z)。西藏高級太陽光譜模擬AM0

昊躍光學(xué)科技（蘇州）有限公司位于若水路388號蘇州納米技術(shù)國家大學(xué)科技園B棟10樓1005，交通便利，環(huán)境優(yōu)美，是一家貿(mào)易型企業(yè)。公司致力于為客戶提供安全、質(zhì)量有保證的良好產(chǎn)品及服務(wù)，是一家有限責(zé)任公司（自然）企業(yè)。公司始終堅持客戶需求優(yōu)先的原則，致力于提供高質(zhì)量的天文觀察濾光片，太陽光譜模擬濾光片，儀器用濾光片，望遠鏡。昊躍光學(xué)自成立以來，一直堅持走正規(guī)化、專業(yè)化路線，得到了廣大客戶及社會各界的普遍認可與大力支持。