識別“隱裂”的方法EL(Electroluminescence，電致發(fā)光)是一種太陽能電池或組件的內(nèi)部缺點檢測設(shè)備，是簡單有效的檢測隱裂的方法。利用晶體硅的電致發(fā)光原理，通過辨率的紅外相機拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺點。具有靈敏度高、檢測速度快、結(jié)果直觀形象等優(yōu)點。形成“隱裂”的原因外力：電池片在焊接、層壓、裝框或搬運、安裝、施工等過程中會受外力，當(dāng)參數(shù)設(shè)置不當(dāng)、設(shè)備故障或操作不當(dāng)時會造成隱裂。高溫：電池片在低溫下沒有經(jīng)過預(yù)熱，然后在短時間內(nèi)突然受到高溫后出現(xiàn)膨脹會造成隱裂現(xiàn)象，如焊接溫度過高、層壓溫度等參數(shù)設(shè)置不合理。原材料：原材料的缺點也是導(dǎo)致隱裂的主要因素之一。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司是一家專業(yè)提供檢測的公司，有想法的不要錯過哦！山東光伏檢測儀器

EL（Electroluminescence，電致發(fā)光）是簡單有效的檢測隱裂的方法。其檢測原理如下。電池片的部分是半導(dǎo)體PN結(jié)，在沒有其它激勵（例如光照、電壓、溫度）的條件下，其內(nèi)部處于一個動態(tài)平衡狀態(tài)，電子和空穴的數(shù)量相對保持穩(wěn)定。如果施加電壓，半導(dǎo)體中的內(nèi)部電場將被削弱，N區(qū)的電子將會被推向P區(qū)，與P區(qū)的空穴復(fù)合（也可理解為P區(qū)的空穴被推向N區(qū)，與N區(qū)的電子復(fù)合），復(fù)合之后以光的形式輔射出去，即電致發(fā)光。當(dāng)被施加正向偏壓之后，晶體硅電池就會發(fā)光，波長1100nm左右，屬于紅外波段，肉眼觀測不到。因此，在進(jìn)行EL測試時，需利用CCD相機輔助捕捉這些光子，然后通過計算機處理后以圖像的形式顯示出來。給晶硅組件施加電壓后，所激發(fā)出的電子和空穴復(fù)合的數(shù)量越多，其發(fā)射出的光子也就越多，所測得的EL圖像也就越亮；如果有的區(qū)域EL圖像比較暗，說明該處產(chǎn)生的電子和空穴數(shù)量較少，該處存在缺點；如果有的區(qū)域完全是暗的，該處沒有發(fā)生電子和空穴的復(fù)合，也或者是所發(fā)光被其它障礙所遮擋，無法檢測到信號。北京視覺檢測儀器廠家上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司檢測服務(wù)值得放心。

對于整體組件在封裝成后，如何把控質(zhì)量與技術(shù)呢?這就會出現(xiàn)各種各樣的問題。目前，組件質(zhì)量的把控能力，主要通過樣品的測試結(jié)果來反映。組件的發(fā)電量會根據(jù)接受的輻照度呈現(xiàn)不規(guī)則線性變化。通過低輻照度下電性能測試，可以有效了解產(chǎn)品是否適合在日照條件較差的地區(qū)使用。由于組件老化、缺陷或者環(huán)境遮蔽會導(dǎo)致過熱現(xiàn)象。通過熱斑測試，可以確定組件耐熱斑熱效應(yīng)的能力。在溫度較高地區(qū)容易出現(xiàn)由于接地條件差異和電勢差導(dǎo)致的性能衰減。通過PID電致衰減測試，可以研究組件及系統(tǒng)電勢對組件性能衰減的影響。在保證零部件可靠性的同時，組件的密封性能將直接影響封裝在組件的使用壽命。通過EVA剝離強度測量，定量測量組件封裝強度，可有效避免因封裝工藝的缺陷導(dǎo)致的損失。無論封裝技術(shù)如何發(fā)展，都必須保證玻璃與EVA之間的剝離強度不能低于40N/CM。否則，組件的可靠性將成為比較大的問題。

太陽能電池有哪些缺點呢?黑心片:EL照片反射的黑心膜形成的主要原因是該區(qū)域沒有發(fā)出1150紅外光，導(dǎo)致黑心片在紅外照片中反射。這種黑色芯板是由于在中心部分的高電阻率而形成的。它與硅襯底的少數(shù)載流子濃度有關(guān)。黑色電影:在生產(chǎn)過程中,由于反復(fù)強調(diào)縮短的定向凝固時間晶體,潛熱釋放融化和溫度場溫度梯度不匹配,晶體生長速率加快,過度的熱應(yīng)力引起的內(nèi)部位錯硅片。短路黑片:由單根線焊接元件引起的短路;元器件層壓前電池電池效率低下所形成的短路黑膜;邊緣明亮的黑色薄膜稱為非短路黑色薄膜。主要是由于n型芯片在硅片的錯誤使用中，導(dǎo)致PN結(jié)，短路電池?zé)o法提供外部電源，輸出功率和IV測試曲線也降低。導(dǎo)致整個元件功率和填充系數(shù)受到影響。電池柵極:電池柵極是由于太陽能電池絲網(wǎng)印刷過程中參數(shù)設(shè)置不當(dāng)或絲網(wǎng)印刷質(zhì)量不合格造成的。輕微的柵極斷口對元件來說不是很重要，但如果柵極嚴(yán)重，影響單片電池的電流會影響整個元件的電氣性能。檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，用戶的信賴之選，有需求可以來電咨詢！

EL英文全稱ElectroLuminescence，即電致發(fā)光，也可以叫電子發(fā)光檢測。通過利用晶體硅的電致發(fā)光原理，配合辨率的紅外相機拍攝晶體硅的近紅外圖像，通過圖像軟件對獲取成像圖像進(jìn)行分析處理從而對太陽能電池片、光伏組件等的缺點判定。目前EL檢測應(yīng)用在光伏行業(yè)方面，如光伏組件的缺點檢測、太陽能電池片內(nèi)部缺點檢測、硅片隱裂檢測等。在光伏組件、光伏電站中采用便攜式的EL檢測儀，可以適應(yīng)不同環(huán)境、不同場所的應(yīng)用，方便其對光伏組件產(chǎn)生的內(nèi)部缺點進(jìn)行快速識別判斷。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司為您提供檢測，有想法的不要錯過哦！北京視覺檢測儀器價格

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電位誘發(fā)衰減效應(yīng)是電池組件長期在高電壓作用下，使玻璃、封裝材料之間存在漏電流，大量電荷狙擊在電池片表面，使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致組件性能低于設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)。PID現(xiàn)象嚴(yán)重時，會引起一塊組件功率衰減50%以上，從而影響整個組串的功率輸出。系統(tǒng)設(shè)計原因：光伏電站的防雷接地是通過將方陣邊緣的組件邊框接地實現(xiàn)的，這就造成在單個組件和邊框之間形成偏壓，組件所處偏壓越高則發(fā)生PID現(xiàn)象越嚴(yán)重。對于P型晶硅組件，通過有變壓器的逆變器負(fù)極接地，消除組件邊框相對于電池片的正向偏壓會有效的預(yù)防PID現(xiàn)象的發(fā)生，但逆變器負(fù)極接地會增加相應(yīng)的系統(tǒng)建設(shè)成本;山東光伏檢測儀器

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