穩(wěn)定性測試:穩(wěn)定性測試用于驗證內(nèi)存模塊在長時間運行期間的穩(wěn)定性和可靠性。它可以檢測內(nèi)存錯誤、數(shù)據(jù)丟失和系統(tǒng)崩潰等問題。主要測試方法包括:Me...
解除內(nèi)存插槽鎖定:許多主板使用鎖定扣子或夾子來固定內(nèi)存插槽。用手輕輕推動或拉動鎖定扣子,直至它完全解鎖并張開。插入內(nèi)存模塊:將LPDDR3內(nèi)...
DDR5簡介長篇文章解讀刪除復制DDR5(Double Data Rate 5)是新式一代的雙倍數(shù)據(jù)傳輸率內(nèi)存技術(shù)。DDR5作為DDR4...
符合技術(shù)標準和規(guī)范要求:LVDS發(fā)射端一致性測試通常需要遵循相關(guān)的技術(shù)標準和規(guī)范,確保LVDS系統(tǒng)在各種應用場景中的互操作性和兼容性。通...
克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng),關(guān)鍵團隊成員從業(yè)測試領(lǐng)域15年以上。實驗室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器,誤碼儀,協(xié)議分析儀,矢量網(wǎng)絡分析儀以附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅持以專業(yè)的技術(shù)人員,配備高性能的測試設(shè)備,嚴格按照行業(yè)測試規(guī)范,提供給客戶專業(yè)服務。