需要指出的是在TP3(Case2)遠(yuǎn)端校準(zhǔn)時(shí)，除了Type-Ccable外，還需要ISIboards，利用網(wǎng)絡(luò)分析實(shí)測(cè)，保證ISIboards+Type-Ccable+Testfixture整個(gè)測(cè)試鏈路的插入損耗滿足18-19dBat5GHzforGen2(10Gbps)和16-17dBat10GHzforGen3(20Gbps)的要求。同時(shí)，是德科技提供N5991U40AUSB4.0全自動(dòng)化接收端軟件，幫助客戶非常方便的控制示波器對(duì)誤碼儀輸出的加壓信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)，通過(guò)USB4.0Microcontroller和USB4ETT軟件讀取誤碼測(cè)試時(shí)誤碼儀和被測(cè)芯片Preset和鏈路協(xié)商過(guò)程、以及的誤碼測(cè)試結(jié)果，生成完整的測(cè)試報(bào)告。USB物理層測(cè)試是否需要特定的測(cè)試環(huán)境？DDR測(cè)試USB物理層測(cè)試HDMI測(cè)試

USB3.x發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試在進(jìn)行USB3.x發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試時(shí)，會(huì)要求測(cè)試對(duì)象發(fā)出特定的測(cè)試碼型，用實(shí)時(shí)示波器對(duì)該碼型進(jìn)行眼圖分析，并測(cè)量信號(hào)的幅度、抖動(dòng)、平均數(shù)據(jù)率及上升/下降時(shí)間等。雖然看起來(lái)好像比較簡(jiǎn)單，但實(shí)際上USB3.x針對(duì)超高速部分的信號(hào)測(cè)試與傳統(tǒng)USB2.0的測(cè)試方法有較大的不同，包括很多算法的處理和注意事項(xiàng)。首先，由于USB3.x信號(hào)速率很高，且信號(hào)的幅度更小，因此測(cè)試中需要更高帶寬的示波器。對(duì)于5Gbps信號(hào)的測(cè)試，推薦使用至少12.5GHz帶寬的示波器；對(duì)于10Gbps信號(hào)的測(cè)試，推薦使用至少16GHz帶寬的示波器。其次，對(duì)于USB3.x發(fā)送端測(cè)試，其測(cè)試的參考點(diǎn)不是像USB2.0那樣只是在發(fā)送端的連接器上進(jìn)行測(cè)試，還需要測(cè)試經(jīng)過(guò)“一致性通道”(ComplianceChannel)或“參考通道”(ReferenceChannel)傳輸，并經(jīng)參考均衡器均衡后的信號(hào)質(zhì)量。通常把直接在發(fā)送端連接器上進(jìn)行的測(cè)試叫作“ShortChannel”測(cè)試，把經(jīng)過(guò)傳輸通道進(jìn)行的測(cè)試叫作“LongChannel”測(cè)試。DDR測(cè)試USB物理層測(cè)試HDMI測(cè)試如何測(cè)試USB 3.0接口的USB PD（電力傳遞）功能？

（1）速度快：接口的傳輸速度高達(dá)480 Mbit／s，完全能滿足高速數(shù)據(jù)交換的要求；  （2）連接簡(jiǎn)單快捷：所有的 USB設(shè)備利用通用的連接器，無(wú)需打開(kāi)主機(jī)機(jī)箱就可簡(jiǎn)單方便地連人計(jì)算機(jī)，實(shí)現(xiàn)熱拔插；  （3）無(wú)需外接電源：USB電源向低壓設(shè)備提供 5V電源；  （4）有不同的帶寬和連接距離：USB 2．0提供全速與高速 2種傳輸數(shù)率規(guī)格，使用戶有足夠的帶寬供新的外設(shè)使用；  （5）良好的兼容性：系統(tǒng)檢測(cè)到 1．1版本的接口類型時(shí)，會(huì)自動(dòng)按照 12 Mbit／s的速度傳輸 ，而其他采用2．0版本的外設(shè)還是能以2．0所規(guī)定的速率傳輸。

測(cè)試系統(tǒng)搭建和介紹任何測(cè)試系統(tǒng)的搭建都是以測(cè)試目的為導(dǎo)向的，在測(cè)試之前一定要明確測(cè)試目的。對(duì)于完整的USB2.0信號(hào)完整性測(cè)試，需要對(duì)TX端和RX端都進(jìn)行完整的測(cè)試，但是對(duì)于大多數(shù)廠商來(lái)講，可能只能完成基本的TX端測(cè)試。我們這個(gè)測(cè)試也只對(duì)TX端進(jìn)行測(cè)試，所以測(cè)試的系統(tǒng)就是一臺(tái)示波器、DUT、測(cè)試夾具和測(cè)試線纜。示波器：TektronixTDS7704B，帶寬為7GHz，采樣率為20GS/s；測(cè)試探針：TektronixP7330/P7240USB2.0testfixture；測(cè)試夾具：TDSUSBFUSB2.0ComplianceTestFixtureWithPowerAdapter；測(cè)試軟件：?USBHighSpeedElectricalTestToolRev:1.10；?TDSUSB2TestPackageApplicationV3.0.2；Tektronix的USB2.0發(fā)送端一致性測(cè)試軟件TDSUSB2可以支持嵌入（Embed)、去嵌入（De-embed）的功能，這對(duì)研發(fā)工程師的作用非常大。在軟件中還直接內(nèi)置提供Host和Device的一致性通道傳遞函數(shù)，可以嵌入一致性通道模型，完成對(duì)一致性測(cè)試的要求，這主要體現(xiàn)在包含了測(cè)試過(guò)程中加入了長(zhǎng)通道和短通道的S參數(shù)在其中，這時(shí)不管你是做的Host端的產(chǎn)品還是Device端的產(chǎn)品，只要在測(cè)試時(shí)選擇對(duì)應(yīng)參數(shù)即可真實(shí)的使用情況。這樣也符合一致性測(cè)試規(guī)范。USB物理層測(cè)試是否涵蓋對(duì)傳輸線路的損耗測(cè)試？

USB電纜/連接器測(cè)試和USB2.0相比，USB3.0及以上產(chǎn)品的信號(hào)帶寬高出很多，電纜、連接器和信號(hào)傳輸路徑驗(yàn)證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對(duì)支持10Gbps信號(hào)的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的，頻域傳輸參數(shù)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外，對(duì)于電纜來(lái)說(shuō)還有一些時(shí)域參數(shù)，如差分阻抗和不對(duì)稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求，這兩個(gè)參數(shù)通常是用TDR/TDT來(lái)測(cè)量。目前很多VNA已經(jīng)可以通過(guò)增加時(shí)域TDR選件(對(duì)頻域測(cè)試參數(shù)進(jìn)行反FFT變換實(shí)現(xiàn))的方式實(shí)現(xiàn)TDR/TDT功能。另外，USBType-C電纜上要測(cè)試的線對(duì)數(shù)量很多，通過(guò)模塊化的設(shè)計(jì)，VNA可以在一個(gè)機(jī)箱里支持多達(dá)32個(gè)端口，因此所有差分電纜/連接器的測(cè)試項(xiàng)目都可以通過(guò)一臺(tái)多端口的VNA來(lái)完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測(cè)試夾具進(jìn)行Type-C的USB電纜測(cè)試的例子。如何測(cè)試USB接口的抗干擾性能？DDR測(cè)試USB物理層測(cè)試HDMI測(cè)試

USB物理層測(cè)試的結(jié)果如何評(píng)估？DDR測(cè)試USB物理層測(cè)試HDMI測(cè)試

USB4.0 標(biāo)準(zhǔn)定義了非常詳細(xì)、復(fù)雜的發(fā)送端測(cè)試要求，需要對(duì)每 個(gè) Type-C 口、每一條 lane、每一種速率下信號(hào)做 Preset Calibration、 Equalization Calibration； 然 后以次為基礎(chǔ)，  測(cè)試所有抖動(dòng) (TJ/UDJ/ DDJ/LPUDJ/DCD)、眼圖、上升時(shí)間 / 下降時(shí)間、  SSC 等指標(biāo)； 并 且每一個(gè)測(cè)試都伴隨著測(cè)試碼型的切換。。。如果用手動(dòng)方式，  做 一次完整的測(cè)試，  這幾乎是不可能的任務(wù)。是德科技 D9040USBC 一致性測(cè)試軟件完美地解決了整個(gè)問(wèn)題。如下所示，可以將示波 器作為控制 PC，  USB-IF 的 USB4ETT 軟件安裝在示波器上，  USB4.0 Microcontroller 也連在示波器上。這樣 D9040USBC 軟件就可以利用 USB4ETT command line interface，通過(guò) USB4.0 Microcontroller 在捕獲 / 分析完所需的信號(hào)后，  控制被測(cè)體產(chǎn)生下一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目所需的測(cè) 試碼型。從而形成一個(gè)閉環(huán)的全自動(dòng)化測(cè)試解決方案DDR測(cè)試USB物理層測(cè)試HDMI測(cè)試