其中，電氣(Electrical) 、協議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導芯片設計；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會 再定義對于板卡設計的要求，比如板卡的機械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導服務器、計算機和插卡等系統設計人員的開 發(fā)。除了針對金手指連接類型的板卡，針對一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協議的嗎？校準PCI-E測試服務熱線

是用矢量網絡分析儀進行鏈路標定的典型連接，具體的標定步驟非常多，在PCIe4.0 Phy Test Specification文檔里有詳細描述，這里不做展開。

在硬件連接完成、測試碼型切換正確后，就可以對信號進行捕獲和信號質量分析。正式 的信號質量分析之前還需要注意的是：為了把傳輸通道對信號的惡化以及均衡器對信號的 改善效果都考慮進去，PCIe3.0及之后標準的測試中對其發(fā)送端眼圖、抖動等測試的參考點 從發(fā)送端轉移到了接收端。也就是說，測試中需要把傳輸通道對信號的惡化的影響以及均 衡器對信號的改善影響都考慮進去。 校準PCI-E測試服務熱線高速串行技術(二)之(PCIe中的基本概念)；

PCIe4.0標準在時鐘架構上除了支持傳統的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差，同時由于有一部分數據線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些

PCIe4.0的接收端容限測試在PCIel.0和2.0的時代，接收端測試不是必需的，通常只要保證發(fā)送端的信號質量基本就能保證系統的正常工作。但是從PCle3.0開始，由于速率更高，所以接收端使用了均衡技術。由于接收端更加復雜而且其均衡的有效性會影響鏈路傳輸的可靠性，所以接收端的容限測試變成了必測的項目。所謂接收容限測試，就是要驗證接收端對于惡劣信號的容忍能力。這就涉及兩個問題，一個是惡劣信號是怎么定義的，另一個是怎么判斷被測系統能夠容忍這樣的惡劣信號。為什么PCI-E3.0的夾具和PCI-E2.0的不一樣？

PCIe4.0的測試夾具和測試碼型要進行PCIe的主板或者插卡信號的一致性測試(即信號電氣質量測試),首先需要使用PCIe協會提供的夾具把被測信號引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售，主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對于發(fā)送端信號質量測試來說，CBB用于插卡的測試，CLB用于主板的測試；但是在接收容限測試中，由于需要把誤碼儀輸出的信號通過夾具連接示波器做校準，所以無論是主板還是插卡的測試，CBB和CLB都需要用到。多個cpu socket的系統時，如何枚舉的？測試服務PCI-E測試HDMI測試

pcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里？校準PCI-E測試服務熱線

當被測件進入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號后，被測件應該會把其從RX 端收到的數據再通過TX端發(fā)送出去送回誤碼儀，誤碼儀通過比較誤碼來判斷數據是否被  正確接收，測試通過的標準是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進  行PCIe4.0的插卡接收的實際環(huán)境。在這款誤碼儀中內置了時鐘恢復電路、預加重模塊、 參考時鐘倍頻、信號均衡電路等，非常適合速率高、要求復雜的場合。在接收端容限測試中， 可調ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適，可能需要非常長的時  間進行Stress Eye的計算和鏈路調整，甚至無法完成校準和測試。 一般建議事先用VNA  標定和選擇好鏈路，這樣校準過程會快很多，測試結果也會更加準確。所以，在PCIe4.0的  測試中，無論是發(fā)送端測試還是接收端測試，都比較好有矢量網絡分析儀配合進行ISI通道  選擇。校準PCI-E測試服務熱線