這么多的組合是不可能完全通過人工設(shè)置和調(diào)整  的，必須有一定的機(jī)制能夠根據(jù)實(shí)際鏈路的損耗、串?dāng)_、反射差異以及溫度和環(huán)境變化進(jìn)行  自動的參數(shù)設(shè)置和調(diào)整，這就是鏈路均衡的動態(tài)協(xié)商。動態(tài)的鏈路協(xié)商在PCIe3.0規(guī)范中  就有定義，但早期的芯片并沒有普遍采用；在PCIe4.0規(guī)范中，這個(gè)要求是強(qiáng)制的，而且很  多測試項(xiàng)目直接與鏈路協(xié)商功能相關(guān)，如果支持不好則無法通過一致性測試。圖4.7是  PCIe的鏈路狀態(tài)機(jī)，從設(shè)備上電開始，需要經(jīng)過一系列過程才能進(jìn)入L0的正常工作狀態(tài)。 其中在Configuration階段會進(jìn)行簡單的速率和位寬協(xié)商，而在Recovery階段則會進(jìn)行更  加復(fù)雜的發(fā)送端預(yù)加重和接收端均衡的調(diào)整和協(xié)商。PCI Express物理層接口(PIPE)；天津多端口矩陣測試PCI-E測試

按照測試規(guī)范的要求，在發(fā)送信號質(zhì)量的測試中，只要有1個(gè)Preset值下能夠通過信 號質(zhì)量測試就算過關(guān)；但是在Preset的測試中，則需要依次遍歷所有的Preset,并依次保存 波形進(jìn)行分析。對于PCIe3.0和PCIe4.0的速率來說，由于采用128b/130b編碼，其一致性測試碼型比之前8b/10b編碼下的一致性測試碼型要復(fù)雜，總共包含36個(gè)128b/130b的   編碼字。通過特殊的設(shè)計(jì)， 一致性測試碼型中包含了長“1”碼型、長“0”碼型以及重復(fù)的“01” 碼型，通過對這些碼型的計(jì)算和處理，測試軟件可以方便地進(jìn)行預(yù)加重、眼圖、抖動、通道損   耗的計(jì)算。 11是典型PCle3.0和PCIe4.0速率下的一致性測試碼型。江蘇PCI-E測試聯(lián)系方式所有帶pcie物理插槽的主板都可以插固態(tài)硬盤用么？假如能的話插上可以改成引導(dǎo)系統(tǒng)的盤么？

PCIe4.0的接收端容限測試在PCIel.0和2.0的時(shí)代，接收端測試不是必需的，通常只要保證發(fā)送端的信號質(zhì)量基本就能保證系統(tǒng)的正常工作。但是從PCle3.0開始，由于速率更高，所以接收端使用了均衡技術(shù)。由于接收端更加復(fù)雜而且其均衡的有效性會影響鏈路傳輸?shù)目煽啃?，所以接收端的容限測試變成了必測的項(xiàng)目。所謂接收容限測試，就是要驗(yàn)證接收端對于惡劣信號的容忍能力。這就涉及兩個(gè)問題，一個(gè)是惡劣信號是怎么定義的，另一個(gè)是怎么判斷被測系統(tǒng)能夠容忍這樣的惡劣信號。

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號質(zhì)量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關(guān)時(shí)，正常的PCle4.0的被測件依次會輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8GbpsPCIE物理層鏈路一致性測試狀態(tài)設(shè)計(jì)；

要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要調(diào)整很多參數(shù)，比如輸出信號的幅度、預(yù)加重、 差模噪聲、隨機(jī)抖動、周期抖動等，以滿足眼高、眼寬和抖動的要求。而且各個(gè)調(diào)整參數(shù)之間 也會相互制約，比如調(diào)整信號的幅度時(shí)除了會影響眼高也會影響到眼寬，因此各個(gè)參數(shù)的調(diào) 整需要反復(fù)進(jìn)行以得到 一個(gè)比較好化的組合。校準(zhǔn)中會調(diào)用PCI-SIG的SigTest軟件對信號 進(jìn)行通道模型嵌入和均衡，并計(jì)算的眼高和眼寬。如果沒有達(dá)到要求，會在誤碼儀中進(jìn) 一步調(diào)整注入的隨機(jī)抖動和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達(dá)到參數(shù)要求。pcie 有幾種類型,哪個(gè)速度快?天津多端口矩陣測試PCI-E測試

PCIE 3.0的發(fā)射機(jī)物理層測試；天津多端口矩陣測試PCI-E測試

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中，CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準(zhǔn)； CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準(zhǔn)；可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無論是哪種測試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實(shí)際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。天津多端口矩陣測試PCI-E測試

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