另外，在PCIe4 .0發(fā)送端的LinkEQ以及接收容限等相關(guān)項(xiàng)目測試中，都還需要用到能 與被測件進(jìn)行動(dòng)態(tài)鏈路協(xié)商的高性能誤碼儀。這些誤碼儀要能夠產(chǎn)生高質(zhì)量的16Gbps信  號(hào)、能夠支持外部100MHz參考時(shí)鐘的輸入、能夠產(chǎn)生PCIe測試需要的不同Preset的預(yù)加  重組合，同時(shí)還要能夠?qū)敵龅男盘?hào)進(jìn)行抖動(dòng)和噪聲的調(diào)制，并對(duì)接收回來的信號(hào)進(jìn)行均 衡、時(shí)鐘恢復(fù)以及相應(yīng)的誤碼判決，在進(jìn)行測試之前還需要能夠支持完善的鏈路協(xié)商。17是 一 個(gè)典型的發(fā)射機(jī)LinkEQ測試環(huán)境。由于發(fā)送端與鏈路協(xié)商有關(guān)的測試項(xiàng)目  與下面要介紹的接收容限測試的連接和組網(wǎng)方式比較類似，所以細(xì)節(jié)也可以參考下面章節(jié)  內(nèi)容，其相關(guān)的測試軟件通常也和接收容限的測試軟件集成在一起。PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？甘肅信息化PCI-E測試

隨著數(shù)據(jù)速率的提高，在發(fā)送端對(duì)信號(hào)高頻進(jìn)行補(bǔ)償還是不夠，于是PCIe3.0及 之后的標(biāo)準(zhǔn)中又規(guī)定在接收端(RX端)還要對(duì)信號(hào)做均衡(Equalization),從而對(duì)線路的損 耗進(jìn)行進(jìn)一步的補(bǔ)償。均衡電路的實(shí)現(xiàn)難度較大，以前主要用在通信設(shè)備的背板或長電纜 傳輸?shù)膱龊希┠暌仓饾u開始在計(jì)算機(jī)、消費(fèi)類電子等領(lǐng)域應(yīng)用，比如USB3.0、SATA 6G、DDR5中也均采用了均衡技術(shù)。圖4 .4分別是PCIe3 .0和4 .0標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)CTLE均衡器 的頻響特性的要求?？梢钥吹剑馄鞯膹?qiáng)弱也有很多擋可選，在Link Training階段TX 和RX端會(huì)協(xié)商出一個(gè)比較好的組合(參考資料： PCI ExpressR Base Specification 4 .0)。黑龍江信息化PCI-E測試PCIE 3.0的發(fā)射機(jī)物理層測試；

對(duì)于PCIe來說，由于長鏈路時(shí)的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量，在PCIe3.0時(shí)代，有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量，但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描，即通過調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值，

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中，CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準(zhǔn)； CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準(zhǔn)；可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無論是哪種測試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實(shí)際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。PCI-E測試信號(hào)完整性測試解決方案；

項(xiàng)目2.12SystemReceiverLinkEqualizationTest:驗(yàn)證主板在壓力信號(hào)下的接收機(jī)性能及誤碼率，可以和對(duì)端進(jìn)行鏈路協(xié)商并相應(yīng)調(diào)整對(duì)端的預(yù)加重，針對(duì)8Gbps和16Gbps速率?！ろ?xiàng)目2.13Add-inCardPLLBandwidth:驗(yàn)證插卡的PLL環(huán)路帶寬，針對(duì)時(shí)鐘和所有支持的數(shù)據(jù)速率?！ろ?xiàng)目2.14Add-inCardPCBImpedance(informative):驗(yàn)證插卡上走線的PCB阻抗，不是強(qiáng)制測試。·項(xiàng)目2.15SystemBoardPCBImpedance(informative):驗(yàn)證主板上走線的PCB阻抗，不是強(qiáng)制測試。接下來，我們重點(diǎn)從發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的電氣性能測試方面，講解PCIe4.0的物理層測試方法。PCI Express物理層接口(PIPE)；陜西PCI-E測試工廠直銷

pcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里？甘肅信息化PCI-E測試

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下，主板會(huì)給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差，同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)可以互 相抵消，所以對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)要求可以稍寬松一些甘肅信息化PCI-E測試

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