Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關(guān)時(shí)，正常的PCle4.0的被測件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8GbpsPCI-E測試和協(xié)議調(diào)試；測量PCI-E測試代理品牌

如前所述，在PCle4.0的主板和插卡測試中，PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測 試夾具進(jìn)行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測試通道，而對端接收芯片封裝對信號(hào)的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進(jìn)行模擬的。測試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測試軟件把這個(gè)S參數(shù)文件的影響加到被測波形上。

PCIe4.0信號(hào)質(zhì)量分析可以采用兩種方法： 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動(dòng)分析，另一種是使用示波器廠商提供的軟件進(jìn)行自動(dòng)測試。 天津多端口矩陣測試PCI-E測試PCI-E 3.0數(shù)據(jù)速率的變化；

·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為。·PlatformBIOSTesting(平臺(tái)BIOS測試):用于檢查主板BIOS識(shí)別和配置PCIe外設(shè)的能力。對于PCIe4.0來說，針對之前發(fā)現(xiàn)的問題以及新增的特性，替換或增加了以下測試項(xiàng)目·InteroperabilityTesting(互操作性測試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓(xùn)練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測試)?！aneMargining(鏈路裕量測試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中，針對電氣特性測試，又有專門的物理層測試規(guī)范，用于規(guī)定具體的測試項(xiàng)目和測試方法。表4.2是針對PCIe4.0的主板或插卡需要進(jìn)行的物理層測試項(xiàng)目,其中灰色背景的測試項(xiàng)目都涉及鏈路協(xié)商功能。

項(xiàng)目2.12SystemReceiverLinkEqualizationTest:驗(yàn)證主板在壓力信號(hào)下的接收機(jī)性能及誤碼率，可以和對端進(jìn)行鏈路協(xié)商并相應(yīng)調(diào)整對端的預(yù)加重，針對8Gbps和16Gbps速率?！ろ?xiàng)目2.13Add-inCardPLLBandwidth:驗(yàn)證插卡的PLL環(huán)路帶寬，針對時(shí)鐘和所有支持的數(shù)據(jù)速率?！ろ?xiàng)目2.14Add-inCardPCBImpedance(informative):驗(yàn)證插卡上走線的PCB阻抗，不是強(qiáng)制測試。·項(xiàng)目2.15SystemBoardPCBImpedance(informative):驗(yàn)證主板上走線的PCB阻抗，不是強(qiáng)制測試。接下來，我們重點(diǎn)從發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的電氣性能測試方面，講解PCIe4.0的物理層測試方法。PCIE物理層鏈路一致性測試狀態(tài)設(shè)計(jì)；

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下，主板會(huì)給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差，同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)可以互 相抵消，所以對于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)要求可以稍寬松一些PCI-E測試信號(hào)質(zhì)量測試；北京PCI-E測試聯(lián)系方式

如何區(qū)分pci和pci-e(如何區(qū)分pci和pcie) ？測量PCI-E測試代理品牌

當(dāng)被測件進(jìn)入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號(hào)后，被測件應(yīng)該會(huì)把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過TX端發(fā)送出去送回誤碼儀，誤碼儀通過比較誤碼來判斷數(shù)據(jù)是否被  正確接收，測試通過的標(biāo)準(zhǔn)是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進(jìn)  行PCIe4.0的插卡接收的實(shí)際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時(shí)鐘恢復(fù)電路、預(yù)加重模塊、 參考時(shí)鐘倍頻、信號(hào)均衡電路等，非常適合速率高、要求復(fù)雜的場合。在接收端容限測試中， 可調(diào)ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適，可能需要非常長的時(shí)  間進(jìn)行Stress Eye的計(jì)算和鏈路調(diào)整，甚至無法完成校準(zhǔn)和測試。 一般建議事先用VNA  標(biāo)定和選擇好鏈路，這樣校準(zhǔn)過程會(huì)快很多，測試結(jié)果也會(huì)更加準(zhǔn)確。所以，在PCIe4.0的  測試中，無論是發(fā)送端測試還是接收端測試，都比較好有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配合進(jìn)行ISI通道  選擇。測量PCI-E測試代理品牌

深圳市力恩科技有限公司是一家一般經(jīng)營項(xiàng)目是：儀器儀表的研發(fā)、租賃、銷售、上門維修；物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品的研發(fā)及銷售；無源射頻產(chǎn)品的研發(fā)及銷售；電子產(chǎn)品及電子元器件的銷售；儀器儀表、物聯(lián)網(wǎng)、無源射頻產(chǎn)品的相關(guān)技術(shù)咨詢；軟件的研發(fā)以及銷售，軟件技術(shù)咨詢服務(wù)等。的公司，致力于發(fā)展為創(chuàng)新務(wù)實(shí)、誠實(shí)可信的企業(yè)。公司自創(chuàng)立以來，投身于實(shí)驗(yàn)室配套，誤碼儀，協(xié)議分析儀，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，是儀器儀表的主力軍。力恩科技不斷開拓創(chuàng)新，追求出色，以技術(shù)為先導(dǎo)，以產(chǎn)品為平臺(tái)，以應(yīng)用為重點(diǎn)，以服務(wù)為保證，不斷為客戶創(chuàng)造更高價(jià)值，提供更優(yōu)服務(wù)。力恩科技始終關(guān)注儀器儀表市場，以敏銳的市場洞察力，實(shí)現(xiàn)與客戶的成長共贏。