從 2015 年到現(xiàn)在，是德科技基于磷化銦 (InP) 工藝的 Infiniium 系 列高帶寬示波器，  憑借其優(yōu)異的低噪聲、低抖動(dòng)底噪等硬件性能 和的尾部擬合”Tail-fit”抖動(dòng)分離算法等軟件，一直是被 Intel 和Thunderbolt 認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可和批準(zhǔn)使用的高帶寬示波器。

進(jìn)入到 USB4.0 時(shí)代，大家如果仔細(xì)通讀每一個(gè)版本的測(cè)試規(guī)范， 都可以發(fā)現(xiàn)，所以的儀表截屏、設(shè)定和算法，采用的都是德科技 高帶寬示波器。

2019 年，是德科技基于第二代磷化銦(InP 工藝，推出了 110GHz 帶寬， 256GSa/s 采樣率，硬件 10bit ADC，25fs 抖動(dòng)底噪的 UXR 系列示波器， 將高速信號(hào)量測(cè)精度推到了另外一個(gè)高度。如下所示，  是是德科 技 UXR 示波器和已是業(yè)內(nèi)的是德科技 V 系列示波器，測(cè)試同 一個(gè) USB4.0 信號(hào)的測(cè)試結(jié)果比較，  UXR 示波器提供了更優(yōu)的信號(hào) 測(cè)試余量。 USB3.1和3.0有什么區(qū)別？HDMI測(cè)試USB測(cè)試價(jià)格優(yōu)惠

SB4一致性測(cè)試和調(diào)試解決方案了解USB4的新特點(diǎn)以及新測(cè)試要求和挑戰(zhàn)，可以幫助您理解這一新標(biāo)準(zhǔn)的變化。泰克USB4一致性測(cè)試和調(diào)試解決方案提供了一種簡便的方式，可以根據(jù)USB4電接口一致性測(cè)試規(guī)范(CTS)v1.0，驗(yàn)證和表征新興的USB4路由器主機(jī)、USB4路由器設(shè)備和USB4集線器。、

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室新USB4規(guī)范解析及一致性測(cè)試的介紹，內(nèi)容包括：USB總線終將一統(tǒng)江湖嗎？·從USB1.0到USB4的發(fā)展·USB物理接口的演變2.USB4的規(guī)范解析和新特性3.如何驗(yàn)證你的USB4產(chǎn)品·一致性測(cè)試規(guī)范的解析·克勞德的一致性解決方案 自動(dòng)化USB測(cè)試產(chǎn)品介紹USB主機(jī)的低速和全速信號(hào)質(zhì)量測(cè)試時(shí)的連接；

USB電纜/連接器測(cè)試和USB2.0相比，USB3.0及以上產(chǎn)品的信號(hào)帶寬高出很多，電纜、連接器和信號(hào)傳輸路徑驗(yàn)證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對(duì)支持10Gbps信號(hào)的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。

很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的，頻域傳輸參數(shù)的測(cè) 試標(biāo)準(zhǔn)是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外，對(duì)于電纜來說還有一些時(shí)域參數(shù)，如差分阻抗和 不對(duì)稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求，這兩個(gè)參數(shù)通常是用TDR/TDT來測(cè)量。目前 很多VNA已經(jīng)可以通過增加時(shí)域TDR選件(對(duì)頻域測(cè)試參數(shù)進(jìn)行反FFT變換實(shí)現(xiàn))的方 式實(shí)現(xiàn)TDR/TDT功能。另外，USB Type-C電纜上要測(cè)試的線對(duì)數(shù)量很多，通過模塊化的 設(shè)計(jì)，VNA可以在一個(gè)機(jī)箱里支持多達(dá)32個(gè)端口，因此所有差分電纜/連接器的測(cè)試項(xiàng)目 都可以通過一 臺(tái)多端口的VNA來完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測(cè)試夾具進(jìn)行 Type-C 的USB 電纜測(cè)試的例子。

，Type - C的接口是雙面的，也就是同 一 時(shí)刻只有TX1+/TX1 一 或者TX2+/TX2 - 引腳上會(huì)有USB3 . 1信號(hào)輸出，至于哪 一面有信號(hào)輸出，取決于插入的方向。如圖3 . 18所 示，默認(rèn)情況下DFP設(shè)備在CC引腳上有上拉電阻Rp,UFP設(shè)備在CC引腳上有下拉電阻 Ra,根據(jù)插入的電纜方向不同，只有CCl或者CC2會(huì)有連接，通過檢測(cè)CCl或者CC2上的 電壓變化，DFP和UFP設(shè)備就能感知到對(duì)端的插入從而啟動(dòng)協(xié)商過程。

信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試過程中，由于被測(cè)件連接的是測(cè)試夾具，并沒有真實(shí)地對(duì)端設(shè)備插入，這就需要人為在測(cè)試夾具上模擬電阻的上下拉來欺騙被測(cè)件輸出信號(hào) 示波器里的USB協(xié)議觸發(fā)條件；

根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景的不同，這個(gè)“Long Channel”的定義也不同。比如對(duì)于 A型接口5Gbps速率的主機(jī)的測(cè)試，它模擬的是3m長電纜+5英寸PCB走線的影響；對(duì) 于B型接口外設(shè)的測(cè)試，它模擬的是3m長電纜+11英寸PCB走線的影響。因此，USB3.x 的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試中，5Gbps速率下不同設(shè)備類型或者接口類型下嵌入的參考通道模型可能 不一樣，測(cè)試結(jié)果也就可能不一樣。但對(duì)于10Gbps信號(hào)來說，由于USB協(xié)會(huì)定義的主機(jī) 和外設(shè)端允許的通道損耗是對(duì)稱的(都是8.5dB),所以對(duì)于主機(jī)和外設(shè)的測(cè)試來說，其嵌入 的通道模型就是一樣的。usb2.0協(xié)議層調(diào)試方法？HDMI測(cè)試USB測(cè)試價(jià)格優(yōu)惠

什么是usb3.1的標(biāo)準(zhǔn)？HDMI測(cè)試USB測(cè)試價(jià)格優(yōu)惠

USB測(cè)試

由 于 U S B 4 . 0 的 發(fā) 送 端 和 接 收 端 非 常 復(fù) 雜 ， 且 要 根 據(jù) 實(shí) 際 鏈 路 質(zhì) 量 進(jìn) 行 協(xié) 商 和 調(diào) 整 。 為 了 方 便 進(jìn) 行 鏈 路 協(xié) 商 的 信 息 交 互 ， U S B 4 . 0 還 提 供 了 額 外 的 邊 帶 通 道 ( S i d e b a n d  C h a n n e l ) 。 邊 帶 通 道 借 助 于T y p e - C接 口 的S B U 1     和 S B U 2 信 號(hào) ， 并 重 新 定 義 成 S B T X 和  S B R X , 用 這 兩 個(gè) 引 腳 實(shí) 現(xiàn) 雙 向 的 信 息 交 互 。 邊 帶 通 道 上 傳 輸 的 是 1 M b p s 數(shù) 據(jù) 速 率 的 低 速  信 號(hào) ， 可 以 用 來 進(jìn) 行 鏈 路 上 設(shè) 備 和 R e t i m e r 的 管 理 ， 包 括 鏈 路 初 始 化 、 鏈 路 使 能 、 斷 開 連 接 、 休眠管理 、 鏈路均衡等 。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

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