在線(xiàn)SPI設(shè)備在實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)的一些問(wèn)題目前大部分的SMT工廠(chǎng)都已經(jīng)開(kāi)始導(dǎo)入在線(xiàn)SPI設(shè)備,但是在實(shí)際使用過(guò)程中,效果也因各廠(chǎng)對(duì)其重視程度而大不一樣。究其原因主要有幾下幾點(diǎn):品質(zhì)重視不夠目前大部分的工廠(chǎng)(特別是代工廠(chǎng))在產(chǎn)能的管控上都非常的嚴(yán)格。但是往往對(duì)品質(zhì)方面重視不夠。當(dāng)錫膏不能達(dá)到SPI設(shè)備的管控范圍時(shí),SPI一直會(huì)報(bào)警,沒(méi)有及時(shí)處理的話(huà)會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)能。所以只要產(chǎn)線(xiàn)不出什么大問(wèn)題。都會(huì)把SPI的管控參數(shù)范圍設(shè)大,提高一次通過(guò)率,但是這樣往往也會(huì)把真實(shí)的不良流到下一制程,提高維修成本。目前有的工廠(chǎng)已經(jīng)在SPI后端接一個(gè)收板箱,當(dāng)SPI測(cè)試OK的時(shí)候直接流入下一工序,F(xiàn)ail的時(shí)候會(huì)停留在收板箱里面。等作業(yè)人員來(lái)確認(rèn)當(dāng)前電路板的不良點(diǎn)位是否OK。一般SPI可以查詢(xún)十片電路板的不良信息,如不良點(diǎn)位,不良圖片等。也有的工廠(chǎng)已經(jīng)開(kāi)始把SPI與AOI相連接,通過(guò)AOI測(cè)試到的不良反饋給SPI來(lái)合理的設(shè)定測(cè)試范圍與參數(shù),來(lái)提高一次通過(guò)率,減少不良流入下一工序??删幊探Y(jié)構(gòu)光柵(PSLM)技術(shù)PMP技術(shù)中主要的一個(gè)基礎(chǔ)條件就是要求光柵的正弦化。湛江多功能SPI檢測(cè)設(shè)備設(shè)備價(jià)錢(qián)
2.1可編程結(jié)構(gòu)光柵(PSLM)技術(shù)PMP技術(shù)中主要的一個(gè)基礎(chǔ)條件就是要求光柵的正弦化。傳統(tǒng)的結(jié)構(gòu)光柵是通過(guò)在玻璃板上蝕刻的雙線(xiàn)陣產(chǎn)生摩爾效應(yīng),形成黑白間隔的結(jié)構(gòu)光柵。不同的疊加角度形成不同間距的結(jié)構(gòu)光柵。此結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)是通過(guò)物理架構(gòu)的方式實(shí)現(xiàn)正弦化的光柵。其對(duì)于玻璃板上蝕刻的精度與幾何度的要求都比較高,不容易做出大面積的光柵??删幊探Y(jié)構(gòu)光柵是在微納米技術(shù)和物理光學(xué)研究基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)出來(lái)的一種新的光柵技術(shù),其特點(diǎn)是光柵的主要結(jié)構(gòu)如強(qiáng)度,波長(zhǎng)等都可以通過(guò)軟件編程控制和改變,真正的實(shí)現(xiàn)了數(shù)字化的控制。因?yàn)槠湔夜鈻攀峭ㄟ^(guò)軟件編程實(shí)現(xiàn)的,所以理論上可以得到比較完美的正弦波光柵,并通過(guò)DLP(DigitalLightProcessing)技術(shù),得到無(wú)損的數(shù)字化光柵圖像。重要部分是數(shù)字顯微鏡器件,并且由于是以鏡片為基礎(chǔ),提高了光通過(guò)率,所以它對(duì)于光信號(hào)的處理能力以及結(jié)構(gòu)光的強(qiáng)度有著明顯的提高,為高速,清晰,精確的工業(yè)測(cè)試需求提供了基礎(chǔ)。汕尾國(guó)內(nèi)SPI檢測(cè)設(shè)備銷(xiāo)售公司SPI能查出在SMT加工過(guò)程中哪些不良。
解決相移誤差的新技術(shù)PMP技術(shù)中另一個(gè)主要的基礎(chǔ)條件就是對(duì)于相移誤差的控制。相移法通過(guò)對(duì)投影光柵相位場(chǎng)進(jìn)行移相來(lái)增加若干常量相位而得到多幅光柵圖來(lái)求解相位場(chǎng)。由于多幅相移圖比單幅相移圖提供了更多的信息,所以可以得到更高精度的結(jié)果。傳統(tǒng)的方式都依靠機(jī)械移動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)相移。為達(dá)到精確的相移,都使用了比較高精度的馬達(dá),如通過(guò)陶瓷壓電馬達(dá)(PZT),線(xiàn)性馬達(dá)加光柵尺等方式。并通過(guò)大量的算法來(lái)減少相移的誤差??删幊探Y(jié)構(gòu)光柵因?yàn)槠湔夜鈻攀峭ㄟ^(guò)軟件編程實(shí)現(xiàn)的,所以其在相移時(shí)也是通過(guò)軟件來(lái)實(shí)現(xiàn),通過(guò)此種技術(shù)可以使相移誤差趨向于“0”,提高了量測(cè)精度。并且此技術(shù)不需要機(jī)械部件,減少了設(shè)備的故障幾率,降低機(jī)械成本與維修成本。
8種常見(jiàn)SMT產(chǎn)線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)(3)7.ICT在線(xiàn)測(cè)試儀ICT在線(xiàn)測(cè)試儀,ICT,In-CircuitTest,是通過(guò)對(duì)在線(xiàn)元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。使用專(zhuān)門(mén)的針床與已焊接好的線(xiàn)路板上的元器件焊點(diǎn)接觸,并用數(shù)百毫伏電壓和10毫安以?xún)?nèi)電流進(jìn)行分立隔離測(cè)試,從而精確地測(cè)了所裝電阻、電感、電容、二極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、集成塊等通用和特殊元器件的漏裝、錯(cuò)裝、參數(shù)值偏差、焊點(diǎn)連焊、線(xiàn)路板開(kāi)短路等故障。8.FCT功能測(cè)試(FunctionalTester)功能測(cè)試(FCT:FunctionalCircuitTest)指的是對(duì)測(cè)試電路板的提供模擬的運(yùn)行環(huán)境,使電路板工作于設(shè)計(jì)狀態(tài),從而獲取輸出,進(jìn)行驗(yàn)證電路板的功能狀態(tài)的測(cè)試方法。簡(jiǎn)單說(shuō)就是將組裝好的某電子設(shè)備上的專(zhuān)門(mén)使用線(xiàn)路板連接到該設(shè)備的適當(dāng)電路上,然后加電壓,如果設(shè)備正常工作就表明線(xiàn)路板合格。設(shè)備的電氣特性需符合SPI標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。
SPI在SMT行業(yè)中指的是錫膏檢測(cè)設(shè)備(Solder Paste Inspection)的英文簡(jiǎn)稱(chēng)。用于錫膏印刷后檢測(cè)錫膏的高度、體積、面積、短路和偏移量。其工作原理:錫膏檢查機(jī)增加了錫膏測(cè)厚的雷射裝置,所以SPI的工作原理與AOI類(lèi)似,就是要先取一片拼板目檢沒(méi)有問(wèn)題后讓機(jī)器拍照當(dāng)成標(biāo)準(zhǔn)樣品,后面的板子就依照首片板子的影像及資料來(lái)作為判斷根據(jù),這樣會(huì)有很多的誤判率,所以需要不斷的修改其參數(shù),直到誤判率降低到一定標(biāo)準(zhǔn),因此,使用SPI時(shí),需要有工程師維護(hù)。PCBA工藝常見(jiàn)檢測(cè)設(shè)備SPI檢測(cè)。珠海自動(dòng)化SPI檢測(cè)設(shè)備保養(yǎng)
smt貼片加工AOI檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)。湛江多功能SPI檢測(cè)設(shè)備設(shè)備價(jià)錢(qián)
莫爾條紋技術(shù)特點(diǎn):1874年,科學(xué)家瑞利將莫爾條紋圖案作為一種測(cè)試手段,根據(jù)條紋形態(tài)和評(píng)價(jià)光柵尺各線(xiàn)紋間的間距的均勻性,從而開(kāi)創(chuàng)了莫爾測(cè)試技術(shù)。隨著光刻技術(shù)和光電子技術(shù)水平的提高,莫爾技術(shù)獲得極快的發(fā)展,在位移測(cè)試,數(shù)字控制,伺服跟蹤,運(yùn)動(dòng)控制等方面有了較廣的應(yīng)用。目前該技術(shù)應(yīng)用在SMT的錫膏精確測(cè)量中,有著很好的優(yōu)勢(shì)。莫爾條紋(即光柵)有兩個(gè)非常重要的特性:1).判向性:當(dāng)指示光柵對(duì)于固定不動(dòng)主光柵左右移動(dòng)時(shí),莫爾條紋將沿著近于柵向的方向上移動(dòng),可以準(zhǔn)確判定光柵移動(dòng)的方向。2).位移放大作用:當(dāng)指示光柵沿著與光柵刻度垂直方向移動(dòng)一個(gè)光柵距D時(shí),莫爾條紋移動(dòng)一個(gè)條紋間距B,當(dāng)兩個(gè)等間距光柵之間的夾角θ較小時(shí),指示光柵移動(dòng)一個(gè)光距D,莫爾條紋就移動(dòng)KD的距離。這樣就可以把肉眼無(wú)法的柵距位移變成了清晰可見(jiàn)的條紋位移,實(shí)驗(yàn)了高靈敏的位移測(cè)量。這兩點(diǎn)技術(shù)應(yīng)用在SPI中,就體現(xiàn)了莫爾條紋技術(shù)測(cè)量的穩(wěn)定性和精細(xì)性。湛江多功能SPI檢測(cè)設(shè)備設(shè)備價(jià)錢(qián)