AOI自動光學(xué)檢測設(shè)備比較大的優(yōu)點(diǎn)就是可以取代以前SMT爐前、爐后的人工目檢作業(yè),而且可以比人眼更精確的判斷出SMT的打件組裝缺點(diǎn)。但就如同人眼一般,AOI基本上也*能執(zhí)行物件的表面檢查,所以只要是物件表面上可以看得到的形狀,它都可以正確無誤的檢查出來,但對于藏在零件底下或是零件邊緣的焊點(diǎn)可能能力有限,當(dāng)然現(xiàn)在有許多的AOI已經(jīng)可以作到多角度的攝影來增加其對IC腳翹的檢出能力,并增加某些被遮蔽元件的攝影角度,以提供更多的檢出率。AOI自動光學(xué)檢測設(shè)備有個比較大的缺點(diǎn)是有些灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方,比較容易出現(xiàn)誤判的情況,這些或許可以使用不同顏色的燈光來加以判別,但麻煩的還是那些被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn),因?yàn)閭鹘y(tǒng)的AOI只能檢測直射光線所能到達(dá)的地方,像是屏蔽框肋條或是其邊緣底下的元件,往往就會因?yàn)锳OI檢測不到而漏掉。AOI檢測設(shè)備誤判的定義是什么呢?汕頭銷售AOI檢測設(shè)備服務(wù)
AOI工作的原理對比1.統(tǒng)計(jì)建模方式:圖像對比(ImageMatching)的處理方式。通過對OK模板與實(shí)際圖像的對比,求出差異的程度,來進(jìn)行檢測。這種方式對使用人員要求低,但適應(yīng)性,檢測能力方面有諸多問題。早期,因?yàn)殚_發(fā)簡單,我國有不少AOI制造商,加以改善(模板有多幅OJ圖像疊加而成),美其名曰:“統(tǒng)計(jì)建?!?。2.邏輯算法方式:通過算法對圖像的特征點(diǎn)的抽取,來進(jìn)行檢測。這種方式對使用人員要求有一定的經(jīng)驗(yàn)?;谒惴ǖ臋z測方法經(jīng)過很多年的發(fā)展,已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定,并且在實(shí)際運(yùn)用中取得了很好的效果。被行業(yè)前列的AOI制造商采用。惠州AOI檢測設(shè)備設(shè)備AOI主要特點(diǎn)有哪些呢?
AOI的包含情況以及三種檢測方法一、AOI系統(tǒng)一般包含:1.照明系統(tǒng)2.光學(xué)透鏡3.CCD攝像系統(tǒng)4.檢測工作臺5.檢測程序6.預(yù)存模板7.圖像處理識別系統(tǒng)8.數(shù)據(jù)記錄處理系統(tǒng)二、三種檢測算法1.DRC檢測基本思想:DRC使用一套用戶設(shè)計(jì)的規(guī)則來檢測違反設(shè)計(jì)規(guī)則的二進(jìn)制數(shù)據(jù),所有不符合規(guī)則的特征都認(rèn)為是缺陷。規(guī)則包括:允許的較大較小線寬、較大較小焊盤尺寸、較小導(dǎo)體間距、所有線寬都必須以焊盤結(jié)束等。檢測缺陷:毛刺、鼠咬、線條、間距、焊盤尺寸違反等。2.特征比較基本思想:分別提取模板(CAM或者黃金模板)和待檢圖像中的鏈接性特征,然后比較結(jié)果,不同之處就是缺陷。檢測缺陷:開路,短路3.粗檢測缺陷基本思想:將模板圖像和待檢圖像進(jìn)行異或運(yùn)算,得到圖像之間的不同。檢測缺陷:大缺陷(丟失或多余的大焊盤)
視覺檢測中AOI和AVI有什么區(qū)別AOI:硬件主要包括:圖像采集系統(tǒng)、運(yùn)動控制系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)。攝像頭主要特性有:CCD像素、CCD尺寸、掃描方式、顏色、傳輸方式等等。目前AOI中使用的攝像頭的CCD像素從幾十萬到幾百萬,在相同分辨率的條件下,像素越高視場范圍越大。PAL標(biāo)準(zhǔn)為752X582像素,約43萬像素,是目前AOI使用的較低標(biāo)準(zhǔn),CCD尺寸一般有1/3”、1/2”、2/3”等,CCD尺寸越大圖像越清晰。掃描方式有一維掃描和二維掃描之分,一維掃描速度比較快,但掃描控制要求比較高,二維掃描對機(jī)械要求較低,但整體掃描速度較慢,目前大部分AOI使用面陣CCD。顏色方面有黑白、彩色之分,彩色圖像感覺比較直觀,實(shí)際上在AOI圖像處理中大部分使用灰度圖象處理,CCD顏色對AOI性能影響較小。在傳輸方面有模擬和數(shù)字之分,模擬傳輸攝像頭噪聲較大,對工作環(huán)境要求較高。數(shù)字傳輸攝像頭在傳輸過程不會引入噪聲,圖像比較清晰,尤其在工作環(huán)境比較惡劣的條件下優(yōu)點(diǎn)更為突出。AVI:即音頻視頻交錯格式。是將語音和影像同步組合在一起的文件格式。它對視頻文件采用了一種有損壓縮方式,但壓縮比較高,盡管畫面質(zhì)量不是太好,但其應(yīng)用范圍仍然非常較廣。AVI支持256色和RLE壓縮。早前的AOI自動光學(xué)檢測設(shè)備主要用于檢測IC(即集成電路)封裝之后的表面印刷是否存在缺陷。
AOI自動光學(xué)檢測設(shè)備比較大的優(yōu)點(diǎn)就是可以取代以前SMT爐前、爐后的人工目檢作業(yè),而且可以比人眼更精確的判斷出SMT的打件組裝缺點(diǎn)。但就如同人眼一般,AOI基本上也*能執(zhí)行物件的表面檢查,所以只要是物件表面上可以看得到的形狀,它都可以正確無誤的檢查出來,但對于藏在零件底下或是零件邊緣的焊點(diǎn)可能能力有限,當(dāng)然現(xiàn)在有許多的AOI已經(jīng)可以作到多角度的攝影來增加其對IC腳翹的檢出能力,并增加某些被遮蔽元件的攝影角度,以提供更多的檢出率。AOI自動光學(xué)檢測設(shè)備有個比較大的缺點(diǎn)是有些灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方,比較容易出現(xiàn)誤判的情況,這些或許可以使用不同顏色的燈光來加以判別,但**麻煩的還是那些被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn),因?yàn)閭鹘y(tǒng)的AOI只能檢測直射光線所能到達(dá)的地方,像是屏蔽框肋條或是其邊緣底下的元件,往往就會因?yàn)锳OI檢測不到而漏掉。AOI檢測圖像對比實(shí)現(xiàn)原理目前比較流行的圖像對比方式有哪三種?韶關(guān)在線式AOI檢測設(shè)備設(shè)備價錢
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AOI的發(fā)展需求集成電路(IC)當(dāng)然是現(xiàn)今人類工業(yè)制造出來結(jié)構(gòu)較為精細(xì)的人造物之一,而除了以IC為主的半導(dǎo)體制造業(yè),AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測需求。具體有以下幾種示例:①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測,典型應(yīng)用就是集成電路、芯片的制造、封裝等,既需要高精度又需要高效率的大量檢測②精密零件與制程的精密加工與檢測,典型應(yīng)用就是針對工具機(jī)、航空航天器等高精度機(jī)械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測,具有高精度、量測條件多變等特點(diǎn)③生物醫(yī)學(xué)檢測應(yīng)用,典型應(yīng)用就是各式光學(xué)顯微鏡,結(jié)合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學(xué)信息判斷。④光學(xué)鏡頭或其他光學(xué)元件的像差檢測汕頭銷售AOI檢測設(shè)備服務(wù)
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