對(duì)于PCB行業(yè)而言，從工藝、成本和客戶需求幾個(gè)角度來(lái)看對(duì)于AOI設(shè)備的需求都呈現(xiàn)上升趨勢(shì)：

1、從技術(shù)工藝的角度看，PCB微型化導(dǎo)致人工目檢無(wú)法滿足要求，利用機(jī)器檢測(cè)是大趨勢(shì)；2、從生產(chǎn)成本的角度看，產(chǎn)品ASP不斷下降而人工成本卻不斷上升，優(yōu)化生產(chǎn)流程對(duì)成本進(jìn)行精細(xì)化控制是廠商在激烈競(jìng)爭(zhēng)中生存的法門(mén)，引進(jìn)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備是必要的選擇；3、從客戶需求的角度看，各種終端產(chǎn)品的復(fù)雜度不斷提升，對(duì)穩(wěn)定性要求也越來(lái)越高，AOI可以有效檢測(cè)翹腳、虛焊等缺陷，增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性，引入AOI設(shè)備是廠商爭(zhēng)取客戶訂單的重要砝碼。 AOI的工作原理是什么呢？惠州精密AOI檢測(cè)設(shè)備原理

AOI的發(fā)展需求

集成電路（IC）當(dāng)然是現(xiàn)今人類工業(yè)制造出來(lái)結(jié)構(gòu)較為精細(xì)的人造物之一，而除了以IC為主的半導(dǎo)體制造業(yè)，AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測(cè)需求。

①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測(cè)，典型應(yīng)用就是集成電路、芯片的制造、封裝等，既需要高精度又需要高效率的大量檢測(cè)

②精密零件與制程的精密加工與檢測(cè)，典型應(yīng)用就是針對(duì)工具機(jī)、航空航天器等高精度機(jī)械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測(cè)，具有高精度、量測(cè)條件多變等特點(diǎn)

③生物醫(yī)學(xué)檢測(cè)應(yīng)用，典型應(yīng)用就是各式光學(xué)顯微鏡，結(jié)合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學(xué)信息判斷。

④光學(xué)鏡頭或其他光學(xué)元件的像差檢測(cè) 惠州精密AOI檢測(cè)設(shè)備原理AOI英文全稱AutomatedOpticalInspection,即自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)。

AOI檢測(cè)基本原理與設(shè)備構(gòu)成

      AOI檢測(cè)原理是采用攝像技術(shù)將被檢測(cè)物體的反射光強(qiáng)以定量化的灰階值輸出，通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)圖像的灰階值進(jìn)行比較，分析判定缺陷并進(jìn)行分類的過(guò)程。與人工檢查做一個(gè)形象的比喻，AOI采用的普通LED或特殊光源相當(dāng)于人工檢查時(shí)的自然光，AOI采用的光學(xué)傳感器和光學(xué)透鏡相當(dāng)于人眼，AOI的圖像處理與分析系統(tǒng)就相當(dāng)于人腦，即“看”與“判”兩個(gè)環(huán)節(jié)。因此，AOI檢測(cè)的工作邏輯可以簡(jiǎn)單地分為圖像采集階段（光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集），數(shù)據(jù)處理階段（數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換），圖像分析段（特征提取與模板比對(duì)）和缺陷報(bào)告階段四個(gè)階段（缺陷大小類型分類等）。    

      為了支持和實(shí)現(xiàn)AOI檢測(cè)的上述四個(gè)功能，AOI設(shè)備的硬件系統(tǒng)也就包括工作平臺(tái)，成像系統(tǒng)，圖像處理系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)四個(gè)部分，是一個(gè)集成了機(jī)械，自動(dòng)化，光學(xué)和軟件等多學(xué)科的自動(dòng)化設(shè)備。

AOI的工作原理

      AOI又稱AOI光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，已成為制造業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測(cè)工具和過(guò)程質(zhì)量控制工具。AOI檢測(cè)設(shè)備工作原理是在自動(dòng)檢測(cè)過(guò)程中，AOI檢測(cè)設(shè)備機(jī)器通過(guò)高清CCD攝像頭自動(dòng)掃描PCBA產(chǎn)品，采集圖像，將測(cè)試點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中合格參數(shù)進(jìn)行對(duì)比，經(jīng)過(guò)圖像處理，檢查出目標(biāo)PCBA上的焊點(diǎn)缺陷，并通過(guò)顯示或自動(dòng)標(biāo)記缺陷。為維修人員維修和SMT工藝人員改進(jìn)工藝參數(shù)。

      AOI系統(tǒng)包括多種光源照明、高速數(shù)碼相機(jī)、高速直線電機(jī)、精密機(jī)械傳動(dòng)結(jié)構(gòu)和圖像處理軟件。測(cè)試時(shí)，AOI設(shè)備通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描和PCB、PCB上的部件或特殊部件(包括印刷錫膏的狀態(tài)、SMD組件、焊點(diǎn)形狀及缺陷等)來(lái)捕捉圖像，通過(guò)處理和數(shù)據(jù)庫(kù)軟件對(duì)合格參數(shù)進(jìn)行比較，并綜合判斷元件及特性是否合格，測(cè)試結(jié)論，如元件缺失、橋接或焊點(diǎn)質(zhì)量問(wèn)題。

      AOI的工作方式與SMT當(dāng)中SPI和印刷機(jī)中使用的視覺(jué)系統(tǒng)相同，通常使用設(shè)計(jì)規(guī)則檢查和模式識(shí)別。DRC方法根據(jù)一些給定的規(guī)則檢查電路圖形(所有的線應(yīng)該在焊點(diǎn)處結(jié)束，引線應(yīng)該至少0.127毫米寬，至少0.102毫米間距)。該方法能從算法上保證待測(cè)電路的正確性，且具有制作簡(jiǎn)單、算法邏輯簡(jiǎn)單、處理速度快、程序編輯量小、數(shù)據(jù)占用空間小等特點(diǎn)，但該方法確定邊界的能力較差。 AOI檢測(cè)設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)具體有哪些呢？

貼片機(jī)生產(chǎn)線中AOI檢測(cè)設(shè)備的作用

    對(duì)于器件的檢測(cè)，通常在貼片機(jī)生產(chǎn)線回流焊前后安裝AOI檢測(cè)系統(tǒng)。采用基于合格模板的學(xué)習(xí)和基于表面貼裝技術(shù)的CAD數(shù)據(jù)檢測(cè)。具體技術(shù)主要是基于預(yù)處理圖像的模式識(shí)別。前者主要采用統(tǒng)計(jì)模式識(shí)別，通過(guò)學(xué)習(xí)建立合格的圖像模式，然后對(duì)目標(biāo)圖像與樣本圖像進(jìn)行比較處理，得到檢測(cè)識(shí)別結(jié)果。
一、AOI設(shè)備在回流焊前檢測(cè)：
將元器件放入板上錫膏后，將PCB送至回流爐前進(jìn)行檢查。這是檢驗(yàn)機(jī)的典型位置，因?yàn)殄a膏印刷和機(jī)器放置的大多數(shù)缺陷都可以在這里找到。在該位置生成的定量過(guò)程控制信息為高速貼片機(jī)和密集組件放置設(shè)備的校準(zhǔn)提供信息。此信息可用于修改元件放置或指示放置機(jī)器需要校準(zhǔn)。此位置的檢查符合流程跟蹤的目標(biāo)。
二、AOI設(shè)備在回流焊后檢測(cè)：
在貼片機(jī)生產(chǎn)工藝之后進(jìn)行檢查，這是目前AOI檢測(cè)設(shè)備的流行選擇，因?yàn)樵谶@個(gè)位置可以找到所有的裝配錯(cuò)誤?；亓骱负髾z查提供了高度的安全性，因?yàn)樗梢宰R(shí)別錫膏印刷、部件放置和回流焊過(guò)程造成的錯(cuò)誤。

AOI工作的原理對(duì)比，歡迎了解詳情?；葜菥蹵OI檢測(cè)設(shè)備原理

AOI雖然具有比人工檢測(cè)更高的效率，但畢竟是通過(guò)圖像采集和分析處理來(lái)得出結(jié)果，而圖像分析處理的相關(guān)軟件技術(shù)目前還沒(méi)達(dá)到人腦的級(jí)別，因此，在實(shí)際使用中的一些特殊情況，AOI的誤判、漏判在所難免。

目前AOI使用中存在的問(wèn)題有：

（1）多錫、少錫、偏移、歪斜的工藝要求標(biāo)準(zhǔn)界定不同，容易導(dǎo)致誤判。

（2）電容容值不同而規(guī)格大小和顏色相同，容易引起漏判。

（3）字符處理方式不同，引起的極性判斷準(zhǔn)確性差異較大。

（4）大部分AOI對(duì)虛焊的理解發(fā)生歧義，造成漏判推諉。

（5）存在屏蔽圈、屏蔽罩遮蔽點(diǎn)的檢測(cè)問(wèn)題。

（6）BGA、FC等倒裝元件的焊接質(zhì)量難以檢測(cè)。

（7）多數(shù)AOI編程復(fù)雜、繁瑣且調(diào)整時(shí)間長(zhǎng)，不適合科研單位、小型OEM廠、多規(guī)格小批量產(chǎn)品的生產(chǎn)單位。

（8）多數(shù)AOI產(chǎn)品檢測(cè)速度較慢，有少數(shù)采用掃描方法的AOI速度較快，但誤判、漏判率更高。 惠州精密AOI檢測(cè)設(shè)備原理

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