以及細菌、單細胞浮游生物、懸浮細胞等非常微小的生物體。（四）熒光顯微鏡熒光顯微鏡是利用一定波長的光使樣品受到激發(fā)，產生不同顏色的熒光，用來觀察和分辨樣品中某些物質及其性質的一種顯微鏡。1.基本原理用于顯微觀察中的熒光可以分為自發(fā)熒光和繼發(fā)熒光。自發(fā)熒光也稱為原發(fā)熒光，它是指由一個物質的自然性質所產生的熒光，如葉綠素在可見光的激發(fā)下會產生紅色熒光。繼發(fā)熒光是由已經(jīng)被結合到顯微鏡標本成分中的具有熒光性質的物質所產生的熒光，如細胞中的DNA經(jīng)吖啶橙染色后，就可以發(fā)出黃綠色的熒光。熒光顯微鏡利用一個高發(fā)光效率的點光源，經(jīng)過濾色系統(tǒng)，發(fā)出一定波長的光作為激發(fā)光，能激發(fā)標本的熒光物質使其發(fā)出一定的熒光，通過物鏡和目鏡的放大進行觀察。在強烈的對襯背景下，即使熒光很微弱也容易清晰辨認，靈敏度高。2.結構及性能熒光顯微鏡和普通光學顯微鏡基本相同，主要區(qū)別是熒光顯微鏡具有熒光光源和濾色系統(tǒng)（圖3-7）。熒光光源常用的有高壓汞燈和氙燈。濾色系統(tǒng)由激發(fā)濾光片和阻斷濾光片組成。激發(fā)濾光片放置于光源和物鏡之間，其作用是選擇激發(fā)光的波長范圍。阻斷濾光片是吸收和阻擋激發(fā)光進入目鏡，防止激發(fā)光干擾熒光和損傷眼睛。物粗準焦螺旋，細準焦螺旋，壓片夾，通光孔，遮光器，轉換器，反光鏡，載物臺，鏡臂，鏡筒，鏡座，聚光器。北京國產顯微鏡

徠卡顯微鏡與光學顯微鏡主要有以下4個方面的區(qū)別：1、照明源不同。電鏡所用的照明源是電子槍發(fā)出的電子流，而光鏡的照明源是可見光(日光或燈光)，由于電子流的波長遠短于光波波長，故電鏡的放大及分辨率地高于光鏡。2、透鏡不同。電鏡中起放大作用的物鏡是電磁透鏡(能在部位產生磁場的環(huán)形電磁線圈)，而光鏡的物鏡則是玻璃磨制而成的光學透鏡。電鏡中的電磁透鏡共有三組，分別與光鏡中聚光鏡、物鏡和目鏡的功能相當。3、成像原理不同。在電鏡中，作用于被檢樣品的電子束經(jīng)電磁透鏡放大后達到熒光屏上成像或作用于感光膠片成像。其電子濃淡的差別產生的機理是，電子束作用于被檢樣品時，入射電子與物質的原子發(fā)生碰撞產生散射，由于樣品的不同部位對電子有不同的散射度，故樣品電子像以濃淡呈現(xiàn)。而光鏡中樣品的物像以亮度差呈現(xiàn)，它是由被檢樣品的不同結構吸引光線多少的不同所造成的。4、所用標本制備方式不同。電鏡觀察所用組織細胞標本的制備程序較復雜，技術難度和費用都較高，在取材、固定、脫水和包埋等環(huán)節(jié)上需要特殊的試劑和操作，還需將包埋好的組織塊放入超薄切片機切成50~100nm厚的超薄標本片。而光鏡觀察的標本則一般置于載玻片上。荊門顯微鏡供應商上海顯微鏡廠家-茂鑫-提供品質顯微鏡廠家！

茂鑫實業(yè)（上海）有限公司作為一家代理德國徠卡清潔度檢測儀DM4M、孔隙率檢測儀、3D掃描儀DVM6、影像測量儀等檢測設備的公司，茂鑫實業(yè)將在展覽會上展示其新的產品和技術，以滿足客戶的需求。1.斥力模式原子力顯微鏡（AFM）微懸臂是原子力顯微鏡（AFM）關鍵組成部分之一，通常由一個一般100～500μm長和大約500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微懸臂頂端有一個尖銳針尖，用來檢測樣品－針尖間的相互作用力。對于一般的形貌成像，探針尖連續(xù)（接觸模式）或間斷（輕敲模式）與樣品接觸，并在樣品表面上作光柵模式掃描。通過計算機控制針尖與樣品位置的相對移動。當有電壓作用在壓電掃描器電極時，它會產生微量移動。根據(jù)壓電掃描器的精確移動，就可以進行形貌成像和力測量。原子力顯微鏡（AFM）設計可以有所不同，掃描器即可以使微懸臂下的樣品掃描，也可以使樣品上的微懸臂掃描。原子力顯微鏡（AFM）壓電掃描器通常能在（x,y,z）三個方向上移動，由于掃描設計尺寸和所選用壓電陶瓷的不同，掃描器比較大掃描范圍x、y軸方向可以在500nm～125μm之間變化，垂直z軸一般為幾微米。好的掃描器能夠在小于1尺度上產生穩(wěn)定移動。通過在樣品表面上掃描原子力顯微鏡（AFM）微懸臂。

5.力-距離曲線——簡稱力曲線SFM除了形貌測量之外，還能測量力對探針-樣品間距離的關系曲線Zt（Zs）。它幾乎包含了所有關于樣品和針尖間相互作用的必要信息。當微懸臂固定端被垂直接近，然后離開樣品表面時，微懸臂和樣品間產生了相對移動。而在這個過程中微懸臂自由端的探針也在接近、甚至壓入樣品表面，然后脫離，此時原子力顯微鏡（AFM）測量并記錄了探針所感受的力，從而得到力曲線。Zs是樣品的移動，Zt是微懸臂的移動。這兩個移動近似于垂直于樣品表面。用懸臂彈性系數(shù)c乘以Zt，可以得到力F=c·Zt。如果忽略樣品和針尖彈性變形，可以通過s=Zt-Zs給出針尖和樣品間相互作用距離s。這樣能從Zt（Zs）曲線決定出力-距離關系F（s）。這個技術可以用來測量探針尖和樣品表面間的排斥力或長程吸引力，揭示定域的化學和機械性質，像粘附力和彈力，甚至吸附分子層的厚度。如果將探針用特定分子或基團修飾，利用力曲線分析技術就能夠給出特異結合分子間的力或鍵的強度，其中也包括特定分子間的膠體力以及疏水力、長程引力等。圖（force-separationcurve）特征。微懸臂開始不接觸表面（A），如果微懸臂感受到的長程吸引或排斥力的力梯度超過了彈性系數(shù)c，它將在同表面接觸之前。還發(fā)展了其他多種類型的電鏡。如掃描電鏡、分析電鏡、超高壓電鏡等。

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