萬能測長儀的檢定（一）(1)外觀和各部分相互作用【要求】①在各工作面上應(yīng)無銹跡、碰傷、明顯的劃痕及影響準確度的其他缺點。涂漆和鍍層應(yīng)無脫落現(xiàn)象。②光學(xué)系統(tǒng)成像應(yīng)清晰，視場內(nèi)應(yīng)無油跡、灰塵、水漬和霉點等影響讀數(shù)的疵病。③刻度尺的刻線應(yīng)平直，應(yīng)無大于該刻線寬度一半的斷線、線結(jié)和變粗現(xiàn)象。④各活動部分的作用應(yīng)靈活、平穩(wěn)、無卡住等現(xiàn)象；制動螺絲的作用應(yīng)切實有效；附件安裝應(yīng)順利可靠。⑤在儀器上應(yīng)標明制造廠名或廠標、出廠編號。⑥使用中和修理后的測長儀，應(yīng)無影響使用準確度的缺點。【檢定方法】觀察和試驗。(2)工作臺的平面度【要求】平面度不大于1um，不允許凹陷?！緳z定方法】用直徑為100mm的二級平晶以技術(shù)光波干涉法檢定。上海測長機生產(chǎn)廠家就找上海野齒儀器科技有限公司！蘇州原廠測長機售后

光學(xué)測長機在設(shè)計上違背阿貝原則,它是如何補償所產(chǎn)生的阿貝誤差呢?當尾座沿基座導(dǎo)軌運動時，由于導(dǎo)軌存在直線度誤差，使尾座發(fā)生角偏擺，尾座測頭前傾，造成測量誤差ΔL。此時，尾座下方的成像光路也發(fā)生角偏擺，致使分米尺在測量座毫米尺上的成像位置產(chǎn)生位移ΔL?。由于測量端到分米尺的高度H與分米尺成像系統(tǒng)焦距f?相等，因此，ΔL?和ΔL的決對值幾乎相等，符號相反，可以相互抵消，違反阿貝原則所造成的誤差得到補償。光學(xué)測長機是一種應(yīng)用艾伯斯坦原理，使誤差互相抵消的成功范例杭州量塊測長機定做價格我們的測長機具有可擴展性，可以根據(jù)客戶的需求進行定制和升級。

1.讀數(shù)顯微鏡；2.玻璃刻線尺；3.反光棱鏡；4.工作臺測量軸和尾管的同軸度不超過。【萬能測長儀檢定方法】將直徑為φ8mm的用平面測帽安裝在測量軸和尾管的測量桿上，移動測量軸，使兩測帽相接觸，借助尾管測量桿的徑向調(diào)整螺釘，將兩測帽的測量面調(diào)至平行。然后萬能測長儀用千分尺測量兩測帽的偏移程度。尾管測量桿徑向調(diào)整機構(gòu)的不穩(wěn)定性調(diào)整的不穩(wěn)定性不超過?！救f能測長儀檢定方法】在測量軸和尾管的測量桿上，安裝φ8mm的平面測帽。移動測量軸，使兩平面測帽相接觸，轉(zhuǎn)動尾管測量桿的一個徑向調(diào)整螺釘，在讀數(shù)裝置中找到小值，再轉(zhuǎn)動另一個徑向調(diào)整螺釘，同樣找到小值，反復(fù)轉(zhuǎn)動這兩個螺釘，當穩(wěn)定后，分別測得兩螺釘在正、反向轉(zhuǎn)動時的小值。萬能測長儀再轉(zhuǎn)動兩螺釘，當改變其位置后，重新按上述方法進行調(diào)整找到小值。這一調(diào)整工作至少進行三次，所有小值之差應(yīng)不超過。萬能測長儀從測量桿上取下平面測帽，安裝球面測帽后，按上述方法再進行檢定。

萬能測長儀螺紋產(chǎn)品的質(zhì)量對于產(chǎn)品的穩(wěn)定和安全起著關(guān)鍵的作用。萬能測長儀對于航空、航天、交通運輸、橋梁、管道和氣液存儲產(chǎn)品等，螺紋產(chǎn)品的質(zhì)量更是會影響到工程安全和生命財產(chǎn)的安全。萬能測長儀螺紋的質(zhì)量在這些重要場合必須得到完全的保障。但是螺紋是復(fù)雜的空間曲面體，它由許多幾何參數(shù)構(gòu)成的，而螺紋校對量規(guī)及測長機只是控制綜合的作用中徑及單一中徑，其他參數(shù)則無法控制，合格性判斷經(jīng)常出現(xiàn)爭議。萬能測長儀如果要完全控制螺紋質(zhì)量，則需要對螺紋的所有參數(shù)進行單獨檢測才能準確地確定螺紋的質(zhì)量。萬能測長儀的優(yōu)點是具有較好的經(jīng)濟性，可以保證裝配，對于生產(chǎn)工藝水平較高的制造商，在螺距、半角有保證的情況下，使用它可以較好地控制螺紋質(zhì)量。萬能測長儀另外由于螺紋環(huán)規(guī)規(guī)格的多樣性，對于檢測機構(gòu)來說，螺紋校對量規(guī)很難全部配齊。無論是小型企業(yè)還是大型制造商，測長機都能為客戶提供可靠的測量解決方案。

但是按照阿貝原則設(shè)計的儀器，由于被測長度必須布置在基準元件沿運動方向的延長線上，基準元件占據(jù)了測量方向上的空間，使測量長度范圍的上限受到了限制。例如當圖3測長機能測量1米時，同樣外形大小的圖2測長機只能測量0.5米。這使得按阿貝原則設(shè)計儀器的外形很長，儀器的結(jié)構(gòu)剛度減低，并且成本增加。因此,某些測長機采用違背阿貝原則的設(shè)計是不得已而為之。違反阿貝原則的測長機，在設(shè)計時，必須采取措施對所產(chǎn)生的阿貝誤差進行補償或提高導(dǎo)軌的運動精度，從而減小阿貝誤差的發(fā)生。這種措施被稱為艾伯斯坦原理.它可以表述為:在實際測量中,利用各種機構(gòu)，使可能產(chǎn)生的誤差相互抵消和削弱，或者故意引進新的誤差，以減小某些誤差的影響。上海測長儀生產(chǎn)廠家哪家好？寧波性能好測長機定制

我們的測長機具有多種測量模式，適用于不同類型的產(chǎn)品測量需求。蘇州原廠測長機售后

光面環(huán)規(guī)的孔徑尺寸，我們通常選用測長儀來測量。在測長儀上可以通過測鉤法、電眼法測量光面環(huán)規(guī)孔徑。根據(jù)被測光面環(huán)規(guī)的孔徑尺寸大小不同，可以選用大測鉤、小測鉤、電測測鉤、測鉤等附件實現(xiàn)測量。用大測鉤、小測鉤測量內(nèi)尺寸，通常也叫做測鉤法。測鉤法測量內(nèi)尺寸是通過與標準環(huán)規(guī)比較的方法獲得被測光面環(huán)規(guī)的孔徑值。當沒有標準環(huán)規(guī)時，可以利用測長儀的附件——基準擋塊，與三等量塊組合成標準尺寸，通過測鉤法實現(xiàn)光面環(huán)規(guī)的孔徑測量。此外，我們還可以利用電測測鉤、測鉤，通過電測裝置實現(xiàn)光面環(huán)規(guī)的孔徑測量。本次我們選用新天JD25-C數(shù)據(jù)處理式測長儀，介紹光面環(huán)規(guī)孔徑的測量。蘇州原廠測長機售后