光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD（chargeCouplingdiode）和CMOS（complementarymetaloxidesemiconductor）兩種。因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同，工作原理如下圖所示，CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝，并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器，電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。這樣的結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)很難集成很多的感光單元，制造成本高且功耗大；而CMOS采用無(wú)機(jī)半導(dǎo)體加工工藝，每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路，每個(gè)像素都可以被定位，而無(wú)需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì)，對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多，價(jià)格和功耗比CCD光電轉(zhuǎn)化器也低，但其缺點(diǎn)是半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會(huì)有一些問題，同時(shí)，為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū)域。芯片表面上的光敏區(qū)域部分（定義為填充因子）小于CCD芯片。從理論上講，這個(gè)原因?qū)е驴梢允占膱D像信息光子數(shù)會(huì)有所減少，所以，CMOS光電轉(zhuǎn)化元件一般需要搭配高亮度光源，噪音也比較大。 對(duì)于產(chǎn)品檢測(cè)來(lái)說(shuō)，利用AOI技術(shù)能夠有效提升產(chǎn)品檢測(cè)分析的準(zhǔn)確性和性。江西新一代AOI檢測(cè)設(shè)備

易用性：1、無(wú)需設(shè)置參數(shù)；上手快；2、在線抓拍首件板系統(tǒng)輔助做程序，自動(dòng)框圖比例高，支持持續(xù)補(bǔ)充學(xué)習(xí)，學(xué)習(xí)后自動(dòng)建模比例更高(80%+）；3、根據(jù)客戶需要，支持自定義器件名稱；4、支持快速更改工單號(hào)；5、支持批量復(fù)制、粘貼、剪切、刪除等快捷鍵操作多重智能算法檢測(cè)：1、智能識(shí)別鋁電容頂部字符；2、智能識(shí)別黑灰電容字符；3、智能識(shí)別黑電感字符或方向；4、智能識(shí)別電池座方向；5、小鐵片檢測(cè)；6、智能識(shí)別聚丙烯電容字符；7、電線檢測(cè)；8、金屬高頻頭螺紋/光頭檢測(cè)；9、智能識(shí)別變壓器字符；10、智能識(shí)別蜂鳴器方向；11、智能識(shí)別晶振字符；12、智能識(shí)別東倒西歪的電容極性。13、三極管方向檢測(cè)；14、橋堆方向檢測(cè)支持客戶離線編程、客戶遠(yuǎn)程調(diào)控、遠(yuǎn)程調(diào)試1、支持系統(tǒng)學(xué)習(xí)訓(xùn)練，學(xué)習(xí)越多效果越好；2、支持本地學(xué)習(xí)。 浙江插件AOI光學(xué)檢測(cè)AOI通常算法有模板匹配、DRC設(shè)計(jì)規(guī)則檢查、CMTS形態(tài)檢查。

AOI的圖像采集系統(tǒng)主要包括光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)，照明系統(tǒng)和控制系統(tǒng)三個(gè)部分。因?yàn)閿z影得到的圖像被用于與模板做對(duì)比，所以獲取的圖像信息準(zhǔn)確性對(duì)于檢測(cè)結(jié)果非常重要，可以想象一下，如果圖像采集器看不清楚或看不到被檢測(cè)物體的特征點(diǎn)，那么也就無(wú)法談到準(zhǔn)確的檢出。下面我們對(duì)光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)，照明系統(tǒng)和控制系統(tǒng)三個(gè)部分逐一分析介紹。首先，光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測(cè)物體反射的光線，光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷，轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集，傳輸形成電壓模擬信號(hào)。二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同，依次輸出模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值，灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測(cè)物體的目的。

AOI的全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。目前AOI的功能一般都比較全，也沒有多大的差別。下面就一些常見的功用作一些簡(jiǎn)要的說(shuō)明。1、分辨率的選擇：AOI的分辨率應(yīng)以像元的尺寸大小作為判別的條件，也就是空間分辨率來(lái)衡量。像素的大小不是判別AOI檢出能力的標(biāo)準(zhǔn)，準(zhǔn)確地講像素大，是決定單位面積像元尺寸大小的因素。如果單位面積不同，像素再高也沒有可比性。2、特殊功能的選擇：如果你要對(duì)多連板的PCBA進(jìn)行檢測(cè)，就一定要選擇有跳板功能的AOI，也就是有區(qū)域選擇功能的AOI。如果你將AOI用作質(zhì)量的過程控制，那么，你在選擇AOI時(shí)，一定要選擇具有RPC功能的AOI，也就是具有實(shí)時(shí)工藝過程控制的AOI。 AOI照明系統(tǒng)給被檢測(cè)的元器件以360度多方位照明。

隨著計(jì)算機(jī)的快速發(fā)展，AOI也采用了目前許多成熟的圖像分析技術(shù)，包括模板匹配法(或自動(dòng)對(duì)比)、邊緣檢測(cè)法、特征提取法(二值圖)、灰度直方圖法、傅里葉分析法、光學(xué)特征識(shí)別法等，每個(gè)技術(shù)都有優(yōu)勢(shì)和局限。模板比較法通過獲得物體圖像，如片狀電容或QFP，并用該信息產(chǎn)生一個(gè)剛性的基于像素的模板。在檢測(cè)位置的附近，傳感器找出相同的物體。當(dāng)相關(guān)區(qū)域中所有點(diǎn)進(jìn)行評(píng)估之后，找出模板與圖像之間有Z小差別的位置停止搜尋。AOI系統(tǒng)為每個(gè)要檢查的物體產(chǎn)生這種模板，通過在不同位置使用相應(yīng)模板，建立對(duì)整個(gè)板的檢查程序，來(lái)查找所有要求的元件。但是由于元件檢測(cè)圖像很少完全匹配模板，所以用兩種方法來(lái)解決這個(gè)問題：可以用一定數(shù)量的容許誤差來(lái)確認(rèn)匹配的，如果模板太僵硬，可能產(chǎn)生對(duì)元件的“誤報(bào)”;如果模板松散到接受大范圍的可能變量，也會(huì)導(dǎo)致“漏報(bào)”;可以根據(jù)同類的眾多良品進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)模板的計(jì)算，或者叫“特征元件”，這樣可以Zda限度提取該類元件的共性特征，從而降低誤報(bào)率。插件爐前檢測(cè)可以利用數(shù)據(jù)庫(kù)實(shí)時(shí)保存檢測(cè)的狀態(tài)和結(jié)果，幫助、分析產(chǎn)品出錯(cuò)和誤檢原因。福建插件AOI

AOI檢測(cè)方式分為離線半自動(dòng)檢測(cè)和在線自動(dòng)檢測(cè)兩種形式，從而實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)制程的過程控制。江西新一代AOI檢測(cè)設(shè)備

AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。當(dāng)自動(dòng)檢測(cè)時(shí)，機(jī)器通過攝像頭自動(dòng)掃描PCB，采集圖像，測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來(lái)，供維修人員修整。areaofinterest在遙感與地理信息系統(tǒng)的一些軟件中對(duì)研究區(qū)域的叫法。運(yùn)用高速高精度視覺處理技術(shù)自動(dòng)檢測(cè)PCB板上各種不同帖裝錯(cuò)誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細(xì)間距高密。度板到低密度大尺寸板，并可提供在線檢測(cè)方案，以提高生產(chǎn)效率，及焊接質(zhì)量。通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯(cuò)誤，以實(shí)現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段，AOI將減少修理成本將避免報(bào)廢不可修理的電路板。江西新一代AOI檢測(cè)設(shè)備

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