優(yōu)先選擇地，預(yù)定位裝置100還包括至少兩個(gè)光電傳感器105，機(jī)架10上固定有預(yù)定位氣缸底座106，預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101固定于預(yù)定位氣缸底座106上，預(yù)定位氣缸底座106上設(shè)有相對(duì)設(shè)置的四個(gè)定位架107，預(yù)定位底座102及轉(zhuǎn)向定位底座103位于四個(gè)定位架107支之間，兩個(gè)光電傳感器105分別固定于兩個(gè)定位架107上。當(dāng)芯片需要進(jìn)行預(yù)定位時(shí)，首先選擇將芯片移載至預(yù)定位槽104內(nèi)，然后由預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101帶動(dòng)轉(zhuǎn)向定位底座103旋轉(zhuǎn)，從而帶動(dòng)芯片正向或反向旋轉(zhuǎn)90度。通過預(yù)定位裝置100對(duì)芯片的放置方向進(jìn)行調(diào)整，保障芯片測試的順利進(jìn)行。芯片測試完成后再移動(dòng)至預(yù)定位裝置100進(jìn)行方向調(diào)整，保障測試完成后的芯片的放置方向與芯片的來料方向一致。芯片測試機(jī)包括測試頭和測試座來測試芯片。上海MINI芯片測試機(jī)廠商
測試計(jì)劃書：就是test plan,需要仔細(xì)研究產(chǎn)品規(guī)格書，根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格書來書寫測試計(jì)劃書，具體的需要包含下面這些信息：a)DUT的信息，具體的每個(gè)pad或者pin的信息，CP測試需要明確每個(gè)bond pads的坐標(biāo)及類型信息，F(xiàn)T測試需要明確封裝類型及每個(gè)pin的類型信息。b)測試機(jī)要求，測試機(jī)的資源需求，比如電源數(shù)量需求、程序的編寫環(huán)境、各種信號(hào)資源數(shù)量、精度如何這些，還需要了解對(duì)應(yīng)的測試工廠中這種測試機(jī)的數(shù)量及產(chǎn)能，測試機(jī)費(fèi)用這些。c)各種硬件信息，比如CP中的probe card, FT中的load board的設(shè)計(jì)要求，跟測試機(jī)的各種信號(hào)資源的接口。d)芯片參數(shù)測試規(guī)范，具體的測試參數(shù)，每個(gè)測試項(xiàng)的測試條件及參數(shù)規(guī)格，這個(gè)主要根據(jù)datasheet中的規(guī)范來確認(rèn)。e)測試項(xiàng)目開發(fā)計(jì)劃，規(guī)定了具體的細(xì)節(jié)以及預(yù)期完成日期，做到整個(gè)項(xiàng)目的可控制性和效率。上海MINI芯片測試機(jī)廠商芯片測試機(jī)還可以進(jìn)行邏輯測試以測試操作錯(cuò)誤。
本實(shí)施例的測試裝置30包括測試負(fù)載板31、測試座外套32、測試座底板33、測試座中間板34及測試座蓋板35。測試座外套32固定于測試負(fù)載板31上表面，測試座底板33固定于測試座外套32上，測試座中間板34位于測試座底板33與測試座蓋板35之間，測試座底板33與測試座蓋板35通過定位銷36連接固定。部分型號(hào)的芯片在進(jìn)行測試前，需要進(jìn)行高溫加熱或低溫冷卻，本實(shí)施例在機(jī)架10上還設(shè)置有加熱裝置。如圖2所示，該加熱裝置至少包括高溫加熱機(jī)構(gòu)70，高溫加熱機(jī)構(gòu)70位于測試裝置30的上方。如圖8所示，高溫加熱機(jī)構(gòu)70包括高溫加熱頭71、頭一移動(dòng)機(jī)構(gòu)72及下壓機(jī)構(gòu)73，下壓機(jī)構(gòu)73與頭一移動(dòng)機(jī)構(gòu)72相連，高溫加熱頭71與下壓機(jī)構(gòu)73相連。
測試相關(guān)的各種名詞：ATE-----------Automatic Test Equipment,自動(dòng)化測試設(shè)備，是一個(gè)高性能計(jì)算機(jī)控制的設(shè)備的集中，可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的測試。Tester---------測試機(jī)，是由電子系統(tǒng)組成，這些系統(tǒng)產(chǎn)生信號(hào)，建立適當(dāng)?shù)臏y試模式，正確地按順序設(shè)置，然后使用它們來驅(qū)動(dòng)芯片本身，并抓取芯片的輸出反饋，或者進(jìn)行記錄，或者和測試機(jī)中預(yù)期的反饋進(jìn)行比較，從而判斷好品和壞品。Test Program---測試程序，測試機(jī)通過執(zhí)行一組稱為測試程序的指令來控制測試硬件。DUT-----------Device Under Test,等待測試的器件，我們統(tǒng)稱已經(jīng)放在測試系統(tǒng)中，等待測試的器件為DUT。芯片測試機(jī)可以提供定制化的測試方案，以滿足工程師的需求。
自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)52下料時(shí)，首先將一個(gè)空的tray盤放置于第二料倉51的第二移動(dòng)底板47上，并將該空的tray盤置于第二料倉51的開口部。檢測合格的芯片放置于該空的tray盤中。當(dāng)該tray盤中已放滿檢測后的芯片后，伺服電機(jī)43帶動(dòng)滾珠絲桿45轉(zhuǎn)動(dòng)，滾珠絲桿45帶動(dòng)tray盤向下移動(dòng)一定距離，然后移載裝置20將自動(dòng)上料裝置40空的tray盤移載至自動(dòng)下料裝置50放置，并將空的tray盤放置于自動(dòng)下料裝置50的放滿芯片的tray盤的上方，并上下疊放。吸嘴基板232上固定有多個(gè)真空發(fā)生器27，該真空發(fā)生器27與真空吸盤25、真空吸嘴26相連。本實(shí)施例可通過真空吸盤25和/或真空吸嘴26吸取芯片。本實(shí)施例的機(jī)架10上還固定有顯示器110，通過顯示器110顯示測試機(jī)的運(yùn)行，同時(shí)機(jī)架10上還固定有三色顯示燈120，通過顯示燈顯示測試機(jī)的不同的工作狀態(tài)。本測試機(jī)的工控箱、測試機(jī)主機(jī)、電控箱等均固定于機(jī)架10上。本發(fā)明在另一實(shí)施例中公開了一種芯片測試機(jī)的測試方法。芯片測試機(jī)能夠進(jìn)行信號(hào)測試，測試電路表現(xiàn)良好的信號(hào)強(qiáng)度。東莞MINILED芯片測試機(jī)哪家好
芯片測試機(jī)還可以進(jìn)行閂鎖掃描測試和邊緣掃描測試。上海MINI芯片測試機(jī)廠商
下壓機(jī)構(gòu)73包括下壓氣缸支座731、下壓氣缸座732及下壓氣缸733，下壓氣缸支座731固定于頭一移動(dòng)固定底板722上，下壓氣缸座732固定于下壓氣缸支座731上，下壓氣缸733固定于下壓氣缸座732上，下壓氣缸733與一個(gè)高溫頭支架734相連，高溫加熱頭71固定于高溫頭支架734上。當(dāng)芯片需要進(jìn)行高溫加熱或低溫冷卻時(shí)，首先選擇由頭一移動(dòng)氣缸724驅(qū)動(dòng)頭一移動(dòng)固定底板722移動(dòng)，頭一移動(dòng)固定底板722帶動(dòng)下壓機(jī)構(gòu)73及高溫加熱頭71移動(dòng)至測試裝置30的上方。然后由下壓氣缸733帶動(dòng)高溫加熱頭71向下移動(dòng)，并由高溫加熱頭71對(duì)芯片進(jìn)行高溫加熱或低溫冷卻，滿足對(duì)芯片高溫加熱或低溫冷卻的要求。上海MINI芯片測試機(jī)廠商