本發(fā)明的目的在于提供一種芯片測(cè)試機(jī)及芯片測(cè)試方法，本發(fā)明的芯片測(cè)試機(jī)的結(jié)構(gòu)緊湊、體積較小，占地面積只一平米左右，可以滿(mǎn)足小批量的芯片測(cè)試要求。其技術(shù)方案如下：本發(fā)明在一實(shí)施例中公開(kāi)了一種芯片測(cè)試機(jī)。該芯片測(cè)試機(jī)包括機(jī)架，以及設(shè)置于機(jī)架上的移載裝置、測(cè)試裝置、自動(dòng)上料裝置、自動(dòng)下料裝置及不良品放置臺(tái)，所述自動(dòng)上料裝置包括頭一料倉(cāng)及自動(dòng)上料機(jī)構(gòu)，所述自動(dòng)上料機(jī)構(gòu)在所述頭一料倉(cāng)內(nèi)上下移動(dòng)；所述自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)包括第二料倉(cāng)及自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)，所述自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)在所述第二料倉(cāng)內(nèi)上下移動(dòng)，所述移載裝置位于所述自動(dòng)上料裝置、自動(dòng)下料裝置、測(cè)試裝置及不良品放置臺(tái)的上方，所述移載裝置將自動(dòng)上料裝置的待測(cè)試芯片移動(dòng)至測(cè)試裝置，并將測(cè)試完成的芯片移動(dòng)至自動(dòng)下料裝置或不良品放置臺(tái)，所述移載裝置還將自動(dòng)上料裝置的空tray盤(pán)移動(dòng)至自動(dòng)下料裝置。芯片測(cè)試機(jī)可以進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)的剖析和分析，以找到較優(yōu)的測(cè)試方案。湖南CPU芯片測(cè)試機(jī)

x軸移動(dòng)組件22包括x軸伺服電缸220、x軸拖鏈221，x軸伺服電機(jī)、x軸拖鏈221分別固定于y軸移動(dòng)底板213上，頭一z軸移動(dòng)組件23和第二z軸移動(dòng)組件24均與x軸伺服電機(jī)和x軸拖鏈221相連。頭一z軸移動(dòng)組件23包括滑臺(tái)氣缸230、雙桿氣缸231、吸嘴基板232、氣缸固定座233，吸嘴基板232與x軸移動(dòng)相連，滑臺(tái)氣缸230固定于吸嘴基板232上，氣缸固定座233與滑臺(tái)氣缸230相連，雙桿氣缸231固定于氣缸固定座233上。真空吸盤(pán)25與雙桿氣缸231相連?；_(tái)氣缸230移動(dòng)時(shí)，帶動(dòng)氣缸固定板相連，氣缸固定座233帶動(dòng)雙桿氣缸231移動(dòng)，雙桿氣缸231可驅(qū)動(dòng)真空吸盤(pán)25移動(dòng)，從而帶動(dòng)真空吸盤(pán)25向上或向下移動(dòng)。湖南CPU芯片測(cè)試機(jī)利用芯片測(cè)試機(jī)，可以減少制造過(guò)程中的失敗率。

常見(jiàn)的測(cè)試手段，CP（Chip Probing）測(cè)試和FT（Final Test）測(cè)試：CP測(cè)試。芯片測(cè)試分兩個(gè)階段，一個(gè)是CP（Chip Probing）測(cè)試，也就是晶圓（Wafer）測(cè)試。另外一個(gè)是FT（Final Test）測(cè)試，也就是把芯片封裝好再進(jìn)行的測(cè)試。CP（Chip Probing）指的是晶圓測(cè)試。CP測(cè)試在整個(gè)芯片制作流程中處于晶圓制造和封裝之間。晶圓（Wafer）制作完成之后，成千上萬(wàn)的裸DIE（未封裝的芯片）規(guī)則的分布滿(mǎn)整個(gè)Wafer。由于尚未進(jìn)行劃片封裝，芯片的管腳全部裸露在外，這些極微小的管腳需要通過(guò)更細(xì)的探針臺(tái)來(lái)與測(cè)試機(jī)臺(tái)連接。

設(shè)計(jì)公司主要目標(biāo)是根據(jù)市場(chǎng)需求來(lái)進(jìn)行芯片研發(fā)，在整個(gè)設(shè)計(jì)過(guò)程中，需要一直考慮測(cè)試相關(guān)的問(wèn)題，主要有下面幾個(gè)原因：1） 隨著芯片的復(fù)雜度原來(lái)越高，芯片內(nèi)部的模塊越來(lái)越多，制造工藝也是越來(lái)越先進(jìn)，對(duì)應(yīng)的失效模式越來(lái)越多，而如何能完整有效地測(cè)試整個(gè)芯片，在設(shè)計(jì)過(guò)程中需要被考慮的比重越來(lái)越多。2） 設(shè)計(jì)、制造、甚至測(cè)試本身，都會(huì)帶來(lái)一定的失效，如何保證設(shè)計(jì)處理的芯片達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)，如何保證制造出來(lái)的芯片達(dá)到要求的良率，如何確保測(cè)試本身的質(zhì)量和有效，從而提供給客戶(hù)符合產(chǎn)品規(guī)范的、質(zhì)量合格的產(chǎn)品，這些都要求必須在設(shè)計(jì)開(kāi)始的頭一時(shí)間就要考慮測(cè)試方案。3） 成本的考量。越早發(fā)現(xiàn)失效，越能減少無(wú)謂的浪費(fèi)；設(shè)計(jì)和制造的冗余度越高，越能提供較終產(chǎn)品的良率；同時(shí)，如果能得到更多的有意義的測(cè)試數(shù)據(jù)，也能反過(guò)來(lái)提供給設(shè)計(jì)和制造端有用的信息，從而使得后者有效地分析失效模式，改善設(shè)計(jì)和制造良率。芯片測(cè)試機(jī)通常集成了多個(gè)測(cè)試模塊。

優(yōu)先選擇地，預(yù)定位裝置100還包括至少兩個(gè)光電傳感器105，機(jī)架10上固定有預(yù)定位氣缸底座106，預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101固定于預(yù)定位氣缸底座106上，預(yù)定位氣缸底座106上設(shè)有相對(duì)設(shè)置的四個(gè)定位架107，預(yù)定位底座102及轉(zhuǎn)向定位底座103位于四個(gè)定位架107支之間，兩個(gè)光電傳感器105分別固定于兩個(gè)定位架107上。當(dāng)芯片需要進(jìn)行預(yù)定位時(shí)，首先選擇將芯片移載至預(yù)定位槽104內(nèi)，然后由預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101帶動(dòng)轉(zhuǎn)向定位底座103旋轉(zhuǎn)，從而帶動(dòng)芯片正向或反向旋轉(zhuǎn)90度。通過(guò)預(yù)定位裝置100對(duì)芯片的放置方向進(jìn)行調(diào)整，保障芯片測(cè)試的順利進(jìn)行。芯片測(cè)試完成后再移動(dòng)至預(yù)定位裝置100進(jìn)行方向調(diào)整，保障測(cè)試完成后的芯片的放置方向與芯片的來(lái)料方向一致。芯片測(cè)試機(jī)可以進(jìn)行集成電路的質(zhì)量檢測(cè)。湖南CPU芯片測(cè)試機(jī)

芯片測(cè)試機(jī)可以進(jìn)行傳輸門(mén)延時(shí)測(cè)試，用于檢測(cè)電路的延時(shí)性能。湖南CPU芯片測(cè)試機(jī)

自動(dòng)上料機(jī)構(gòu)42上料時(shí)，將放滿(mǎn)待測(cè)芯片的多個(gè)tray盤(pán)上下疊放在頭一料倉(cāng)41的第二移動(dòng)底板47上，且位于較上層的tray盤(pán)位于頭一料倉(cāng)41的開(kāi)口部。移載裝置20首先吸取位于較上層的tray盤(pán)中的芯片進(jìn)行測(cè)試，當(dāng)位于較上層的tray盤(pán)中的芯片測(cè)試完成后，將空的tray盤(pán)移載至自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)52。然后伺服電機(jī)43驅(qū)動(dòng)滾珠絲桿45轉(zhuǎn)動(dòng)，滾珠絲桿45通過(guò)頭一移動(dòng)底板46帶動(dòng)第二移動(dòng)底板47向上移動(dòng)，帶動(dòng)位于下方的tray盤(pán)向上移動(dòng)，直至所有的tray盤(pán)中的芯片全部測(cè)試完成。湖南CPU芯片測(cè)試機(jī)

深圳市泰克光電科技有限公司是一家半導(dǎo)體器件及LED發(fā)光二極管及生產(chǎn)設(shè)備，半導(dǎo)體及LED發(fā)光二極管的封裝材料的研發(fā)與銷(xiāo)售，半導(dǎo)體器件檢測(cè)儀器的軟件開(kāi)發(fā)及銷(xiāo)售；國(guó)內(nèi)貿(mào)易、貨物及技術(shù)進(jìn)出口。（法律、行政法規(guī)決定禁止的項(xiàng)目除外，限制的項(xiàng)目須取得許可后方可經(jīng)營(yíng)）半導(dǎo)體器件及LED發(fā)光二極管及生產(chǎn)設(shè)備，半導(dǎo)體及LED發(fā)光二極管的封裝材料，半導(dǎo)體器件檢測(cè)儀器的軟件生產(chǎn)。的公司，致力于發(fā)展為創(chuàng)新務(wù)實(shí)、誠(chéng)實(shí)可信的企業(yè)。泰克光電擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)創(chuàng)新的專(zhuān)業(yè)研發(fā)團(tuán)隊(duì)，以高度的專(zhuān)注和執(zhí)著為客戶(hù)提供探針臺(tái)，芯片測(cè)試機(jī)，藍(lán)膜編帶機(jī)，分光編帶機(jī)。泰克光電致力于把技術(shù)上的創(chuàng)新展現(xiàn)成對(duì)用戶(hù)產(chǎn)品上的貼心，為用戶(hù)帶來(lái)良好體驗(yàn)。泰克光電始終關(guān)注能源市場(chǎng)，以敏銳的市場(chǎng)洞察力，實(shí)現(xiàn)與客戶(hù)的成長(zhǎng)共贏。