在容器玻璃生產(chǎn)過(guò)程中，圓度和壁厚是重要的質(zhì)量特征，需要進(jìn)行檢查。任何有缺陷的容器都會(huì)被判定為不合格產(chǎn)品并返回到玻璃熔體中。為了實(shí)現(xiàn)快速的非接觸式測(cè)量，并確保不損壞瓶子，需要高處理速度。對(duì)于這種測(cè)量任務(wù)，光譜共焦傳感器是一種合適的選擇。該系統(tǒng)在兩個(gè)點(diǎn)上同步測(cè)量并通過(guò)EtherCAT接口實(shí)時(shí)輸出數(shù)據(jù)，厚度校準(zhǔn)功能允許在傳感器的整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)進(jìn)行精確的厚度測(cè)量。此外，自動(dòng)曝光控制可以實(shí)現(xiàn)對(duì)不同玻璃顏色的測(cè)量的穩(wěn)定性。光譜共焦技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的三維成像和分析；高速光譜共焦傳感器精度

在共焦位移傳感器中，能夠使在頭單元與控制裝置之間傳送投光用的光的光纖的端面具有共焦光學(xué)系統(tǒng)的銷(xiāo)孔的功能。由于使用受光波形和位移的測(cè)量值來(lái)控制顯示部的顯示，所以在設(shè)置頭單元時(shí)，能夠根據(jù)顯示部的顯示來(lái)容易地辨識(shí)頭單元是否被適當(dāng)?shù)卦O(shè)置。由于在控制裝置側(cè)控制顯示部的顯示，所以能夠防止頭單元的構(gòu)造復(fù)雜化。此外，由于使用控制裝置的操作狀態(tài)來(lái)控制顯示部的顯示，所以能夠在頭單元的設(shè)置位置附近容易地辨識(shí)控制裝置是否正常操作。小型光譜共焦找哪里光譜共焦技術(shù)可以在環(huán)境保護(hù)中發(fā)揮重要作用；

物體的表面形貌可以基于距離的確定來(lái)進(jìn)行。光譜共焦傳感器還可用于測(cè)量氣缸套的圓度、直徑、粗糙度和表面結(jié)構(gòu)。當(dāng)測(cè)量對(duì)象包含不同類(lèi)型的材料（例如塑料和金屬）時(shí)，盡管距離值保持不變，但反射率會(huì)突出材料之間的差異。劃痕和不平整會(huì)影響反射度并變得更加直觀(guān)。在檢測(cè)到信號(hào)強(qiáng)度的變化后，系統(tǒng)會(huì)創(chuàng)建目標(biāo)及其精細(xì)結(jié)構(gòu)的精確圖像。除了距離測(cè)量之外，另一種選擇是使用信號(hào)強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量，這可以實(shí)現(xiàn)精細(xì)結(jié)構(gòu)的可視化。通過(guò)恒定的曝光時(shí)間，可以獲得關(guān)于表面評(píng)估的附加信息。

背景技術(shù):光學(xué)測(cè)量與成像技術(shù),通過(guò)光源、被測(cè)物體和探測(cè)器三點(diǎn)共，去除焦點(diǎn)以外的雜散光，得到比傳統(tǒng)寬場(chǎng)顯微鏡更高的橫向分辨率，同時(shí)由于引入圓孔探測(cè)具有了軸向深度層析能力，通過(guò)焦平面的上下平移從而得到物體的微觀(guān)三維空間結(jié)構(gòu)信息。這種三維成像能力使得共焦三維顯微成像技背景技術(shù):光學(xué)測(cè)量與成像技術(shù),通過(guò)光源、被測(cè)物體和探測(cè)器三點(diǎn)共，去除焦點(diǎn)以外的雜散光，得到比傳統(tǒng)寬場(chǎng)顯微鏡更高的橫向分辨率，同時(shí)由于引入圓孔探測(cè)具有了軸向深度層析能力，通過(guò)焦平面的上下平移從而得到物體的微觀(guān)三維空間結(jié)構(gòu)信息。這種三維成像能力使得共焦三維顯微成像技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、材料分析、工業(yè)探測(cè)及計(jì)量等各種不同的領(lǐng)域之中。現(xiàn)有的光學(xué)測(cè)量術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、材料分析、工業(yè)探測(cè)及計(jì)量等各種不同的領(lǐng)域之中?，F(xiàn)有的光學(xué)測(cè)量與成像技術(shù)主要激光成像，其功耗大、成本高，而且精度較差,難以勝任復(fù)雜異形表面(如曲面、弧面、凸凹溝槽等)的高精度、穩(wěn)定檢測(cè)或者成像的光譜共焦成像技術(shù)比激光成像具有更高的精度，而且能夠降低功耗和成本但現(xiàn)有的光譜共焦檢測(cè)設(shè)備大都是靜態(tài)檢測(cè),檢測(cè)效率低，而且難以勝任復(fù)雜異形表面。光譜共焦位移傳感器可以實(shí)現(xiàn)對(duì)不同材料的位移測(cè)量，包括金屬、陶瓷、塑料等；

光譜共焦測(cè)量技術(shù)是共焦原理和編碼技術(shù)的融合。一個(gè)完整的相對(duì)高度范疇能夠通過(guò)使用白光燈燈源照明燈具和光譜儀完成精確測(cè)量。光譜共焦位移傳感器的精確測(cè)量原理如下圖1所顯示，燈源發(fā)出光經(jīng)過(guò)光纖，再通過(guò)超色差鏡片，超色差鏡片能夠聚焦在直線(xiàn)光軸上，產(chǎn)生一系列可見(jiàn)光聚焦點(diǎn)。這種可見(jiàn)光聚焦點(diǎn)是連續(xù)的，不重合的。當(dāng)待測(cè)物放置檢測(cè)范圍內(nèi)時(shí)，只有一種光波長(zhǎng)能夠聚焦在待測(cè)物表層并反射面，依據(jù)激光光路的可逆回到光譜儀，產(chǎn)生波峰焊。全部別的波長(zhǎng)也將失去焦點(diǎn)。運(yùn)用單頻干涉儀的校準(zhǔn)信息計(jì)算待測(cè)物體的部位，創(chuàng)建光譜峰處波長(zhǎng)偏移的編號(hào)。該超色差鏡片通過(guò)提升，具備比較大的縱向色差，用以在徑向分離出來(lái)電子光學(xué)信號(hào)的光譜成份。因而，超色差鏡片是傳感器關(guān)鍵部件，其設(shè)計(jì)方案十分重要。光譜共焦技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域可以用于材料的性能測(cè)試和分析；原裝光譜共焦價(jià)格

光譜共焦技術(shù)具有軸向按層分析功能，精度可以達(dá)到納米級(jí)別；高速光譜共焦傳感器精度

光譜共焦測(cè)量原理是使用多透鏡光學(xué)系統(tǒng)將多色白光聚焦到目標(biāo)表面上。透鏡的排列方式是通過(guò)控制色差（像差）將白光分散成單色光。每個(gè)波長(zhǎng)都有一定的偏差（特定距離）進(jìn)行工廠(chǎng)校準(zhǔn)。只有精確聚焦在目標(biāo)表面或材料上的波長(zhǎng)才能用于測(cè)量。通過(guò)共焦孔徑反射到目標(biāo)表面的光會(huì)被光譜儀檢測(cè)并處理。漫反射表面和鏡面反射表面都可以使用光譜共焦原理進(jìn)行測(cè)量。共焦測(cè)量提供納米級(jí)分辨率，并且?guī)缀跖c目標(biāo)材料分開(kāi)運(yùn)行。傳感器的測(cè)量范圍內(nèi)有一個(gè)非常小的、恒定的光斑尺寸。微型徑向和軸向共焦版本可用于測(cè)量鉆孔或鉆孔內(nèi)壁的表面，以及測(cè)量窄孔、小間隙和空腔。高速光譜共焦傳感器精度