質(zhì)譜儀常見問題上海禹重告訴你：串聯(lián)質(zhì)譜如的何定量串聯(lián)質(zhì)譜定量時,是以后面產(chǎn)生的碎片峰（子離子）定量。但是這一子離子是由母離子在碰撞室產(chǎn)生的特征性碎片，所以用MRM定量靈敏度會比用SIM定量好很多。建立方法的步驟是：用一定溶度的標(biāo)準(zhǔn)品溶液（1-10ug/mL）調(diào)諧化合物的一級質(zhì)譜條件，找到母離子的比較好質(zhì)譜條件。然后對母離子進(jìn)行打碎，優(yōu)化碰撞能量，得到其特征性的子離子。 利用該質(zhì)譜條件和該母離子->子離子對進(jìn)行定量。上海禹重實業(yè)有限公司致力于提供質(zhì)譜儀，歡迎新老客戶來電！常熟iCap TQ質(zhì)譜儀報價

Orbitrap Fusion Lumos Tribrid MS 的特點：新型高靈敏度 API 接口將高容量離子轉(zhuǎn)移管和電動離子漏斗結(jié)合，旨在提高離子通量，降低檢測限先進(jìn)的主動離子束傳輸組件可防止中性粒子和高速離子簇進(jìn)入分離離子的四極桿中先進(jìn)的四極桿技術(shù)結(jié)合高靈敏度和離子傳輸效率，使選中離子從分離窗口中心穿過先進(jìn)的真空技術(shù)提高了向 Orbitrap 分析儀傳輸高分子量離子的速度全新的 ETD HD—高動態(tài)范圍 ETD ***提升了碎片離子覆蓋范圍高級峰值測定 (APD) - 一種用于改進(jìn)數(shù)據(jù)依賴實驗中母離子測定的新算法，大幅增加了獨特肽段的識別數(shù)量和實驗通量Tribrid 結(jié)構(gòu)包括四極桿濾質(zhì)器、線性離子阱以及 Orbitrap 質(zhì)量分析器，用于盡可能提高由各項儀器操作高度并行化導(dǎo)致的占空比舟山ICPMSMS質(zhì)譜儀上海禹重實業(yè)有限公司是一家專業(yè)提供質(zhì)譜儀的公司，歡迎新老客戶來電！

質(zhì)譜儀 重要的應(yīng)用是分離同位素并測定它們的原子質(zhì)量及相對豐度。測定原子質(zhì)量的精度超過化學(xué)測量方法，大約2/3以上的原子的精確質(zhì)量 是用質(zhì)譜方法測定的。由于質(zhì)量和能量的當(dāng)量關(guān)系，由此可得到有關(guān)核結(jié)構(gòu)與核結(jié)合能的知識。對于可通過礦石中提取的放射性衰變產(chǎn)物元素的分析測量，可確定礦石的地質(zhì)年代。質(zhì)譜方法還可用于有機(jī)化學(xué)分析，特別是微量雜質(zhì)分析，測量分子的分子量，為確定化合物的分子式和分子結(jié)構(gòu)提供可靠的依據(jù)。由于化合物有著像指紋一樣的獨特質(zhì)譜，質(zhì)譜儀在工業(yè)生產(chǎn)中也得到廣泛應(yīng)用。固體火花源質(zhì)譜：對高純材料進(jìn)行雜質(zhì)分析?？蓱?yīng)用于半導(dǎo)體材料有色金屬、建材部門;氣體同位素質(zhì)譜：對穩(wěn)定同位素C、H、N、O、S及放射性同位素Rb、Sr、U、Pb、K、Ar測定，可應(yīng)用于地質(zhì)石油、醫(yī)學(xué)、環(huán)保、農(nóng)業(yè)等部門。

質(zhì)譜儀常見問題詳解：CID和CAD區(qū)別CID（collision-induceddissociation）：碰撞誘導(dǎo)解離。通常在真空接口處調(diào)節(jié)電壓發(fā)生CID現(xiàn)象，一般是去除溶劑，如果電壓增大，也會產(chǎn)生碎片離子。這是一級質(zhì)譜的原理。CAD（collision-activateddissociation）：碰撞活化解離。做二級質(zhì)譜時，選擇的母離子進(jìn)入Q2后，碰撞活化產(chǎn)生子離子，這個過程稱為CAD。7、氮氣發(fā)生器該使用嗎氮氣發(fā)生器的工作原理是分離空氣，電解膜的負(fù)極側(cè)發(fā)生氧化反應(yīng)，“吃掉”空氣中的氧化性氣體，在正極側(cè)還原，空氣流過電解池后就只剩下氮氣和惰性氣體。故國內(nèi)發(fā)生器的純度大多標(biāo)有“相對含氧量”。氮氣的純度和空氣流速、有效分解面的長度、電解電勢的強(qiáng)弱都有關(guān)系。這種分離方法也決定了氮氣的純度不可能做的很高。加入電解質(zhì)的作用就是提高水的導(dǎo)電率，使電化學(xué)反應(yīng)能順利進(jìn)行。發(fā)生器對質(zhì)譜的影響有一點常常被忽略，就是發(fā)生器內(nèi)的開關(guān)電源工作時會對電網(wǎng)電壓造成一定的干擾（壓縮機(jī)的啟動和停止也會）。質(zhì)譜儀，就選上海禹重實業(yè)有限公司，用戶的信賴之選，有需要可以聯(lián)系我司哦！

   在使用質(zhì)譜儀器的過程中，經(jīng)常會出現(xiàn)各種各樣的故障，影響實驗的正常進(jìn)行，如何迅速、準(zhǔn)確地判斷故障原因，及時地予以排除，是儀器操作人員經(jīng)常面臨和急需解決的問題。咱們就對質(zhì)譜儀常見的故障現(xiàn)象、產(chǎn)生故障的可能原因及故障排除方法進(jìn)行了總結(jié)和歸納，供儀器操作人員參考。1、質(zhì)譜不出峰的可能原因（1）進(jìn)樣系統(tǒng)與離子源沒連接或有漏液（2）六通閥漏液（3）霧化氣沒開（4）噴霧電壓沒有（5）離子進(jìn)入分析器的離子通道堵塞（6）噴霧毛細(xì)管堵塞2、如何根據(jù)樣品選擇離子源可根據(jù)分子量的大小、極性。APCI適合小分子，極性小的化合物；ESI適合分析的分子量范圍較大、分子要求帶有一定極性。一般先考慮用ESI分析，如果極性實在太小，才想到用APCI。上海禹重實業(yè)有限公司為您提供質(zhì)譜儀，有想法的可以來電咨詢！崇明四極桿質(zhì)譜儀采購

上海禹重實業(yè)有限公司致力于提供質(zhì)譜儀，歡迎您的來電！常熟iCap TQ質(zhì)譜儀報價

原子發(fā)射光譜法原子發(fā)射光譜法（英語：AtomicEmissionSpectroscopy，縮寫AES），是一種利用受激發(fā)氣態(tài)原子或離子所發(fā)射的特征光譜來測定待測物質(zhì)中元素組成和含量的方法。為光學(xué)分析中較早誕生的分析方法之一，其雛形在1860年代即已形成。一般步驟待測物質(zhì)在激發(fā)光源中蒸發(fā)、解離、電離并被激發(fā)，產(chǎn)生光輻射；產(chǎn)生的復(fù)合光通過分光色散成光譜；檢測光譜線的波長和強(qiáng)度，進(jìn)行分析。[1]應(yīng)用ICP-AES的應(yīng)用實例包括測定葡萄酒中的金屬，食物中的砷，以及與蛋白質(zhì)結(jié)合的微量元素。ICP-OES廣泛應(yīng)用于選礦工程過程，以提供各種物流等級的數(shù)據(jù)，用于質(zhì)量平衡的構(gòu)建常熟iCap TQ質(zhì)譜儀報價