光學(xué)非接觸應(yīng)變測量是一種利用光學(xué)原理來測量物體表面應(yīng)變的方法。它通過觀察物體表面的形變來推斷物體內(nèi)部的應(yīng)力分布情況。與傳統(tǒng)的接觸式應(yīng)變測量方法相比,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量具有許多優(yōu)勢。首先,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量不需要直接接觸物體表面,因此不會對物體造成損傷。這對于一些脆弱或敏感的材料尤為重要,可以避免測量過程中對物體的影響。其次,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量方法簡單易行,不需要復(fù)雜的操作步驟。只需要使用適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)設(shè)備,如激光干涉儀、光柵等,就可以實時監(jiān)測物體表面的應(yīng)變變化。這使得測量過程更加方便快捷,適用于各種場合。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量在材料科學(xué)和工程領(lǐng)域具有普遍的應(yīng)用。例如,在材料研究中,可以通過測量材料表面的應(yīng)變來評估材料的力學(xué)性能和變形行為。在工程實踐中,可以利用光學(xué)非接觸應(yīng)變測量方法來監(jiān)測結(jié)構(gòu)物的變形情況,以確保結(jié)構(gòu)的安全性和穩(wěn)定性。隨著光學(xué)技術(shù)和傳感器技術(shù)的不斷發(fā)展,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量方法將進(jìn)一步提高其測量精度和應(yīng)用范圍。例如,利用高分辨率的相機(jī)和先進(jìn)的圖像處理算法,可以實現(xiàn)對微小應(yīng)變的精確測量。此外,結(jié)合其他測量技術(shù),如紅外熱像儀和聲學(xué)傳感器,可以實現(xiàn)對物體應(yīng)變的多維度、多參數(shù)的測量。光學(xué)應(yīng)變測量可以通過光纖光柵傳感器等非接觸方式,實時測量復(fù)合材料中的應(yīng)變分布。浙江全場三維數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng)
光學(xué)應(yīng)變測量是一種非接觸式測量方法,通過利用光學(xué)原理來測量物體在受力或變形作用下的應(yīng)變情況。它具有高精度和高分辨率的特點,被普遍應(yīng)用于工程領(lǐng)域和科學(xué)研究中。光學(xué)應(yīng)變測量的精度主要受到兩個因素的影響:測量設(shè)備的精度和被測物體的特性。首先,測量設(shè)備的精度決定了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性?,F(xiàn)代光學(xué)應(yīng)變測量設(shè)備采用了高精度的光學(xué)元件和先進(jìn)的信號處理技術(shù),可以實現(xiàn)亞微米級的測量精度。例如,使用高分辨率的相機(jī)和精密的光學(xué)透鏡,可以捕捉到微小的形變,并通過圖像處理算法進(jìn)行精確的應(yīng)變計算。此外,光學(xué)應(yīng)變測量設(shè)備還可以通過使用多個傳感器和多通道數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),提高測量的準(zhǔn)確性和可靠性。其次,被測物體的特性也會影響光學(xué)應(yīng)變測量的精度。不同材料的光學(xué)特性和應(yīng)變響應(yīng)不同,因此需要根據(jù)被測物體的材料性質(zhì)選擇合適的測量方法和參數(shù)。例如,對于透明材料,可以使用全息術(shù)或激光干涉術(shù)進(jìn)行測量;對于不透明材料,可以使用表面反射法或散射法進(jìn)行測量。此外,被測物體的形狀、尺寸和表面狀態(tài)也會對測量結(jié)果產(chǎn)生影響,需要進(jìn)行相應(yīng)的校正和修正。北京VIC-3D非接觸式變形測量光學(xué)非接觸應(yīng)變測量利用全息干涉術(shù)或激光散斑術(shù)將物體表面的應(yīng)變信息轉(zhuǎn)化為光的干涉或散斑圖案。
在塑性材料研究中,三維應(yīng)變測量技術(shù)是一項非常重要的工具。這項技術(shù)采用可移動的非接觸測量頭,可以方便地應(yīng)用于靜態(tài)、動態(tài)、高速和高溫等測量環(huán)境,并能詳細(xì)測量材料的復(fù)雜特性。與傳統(tǒng)的應(yīng)變計測量相比,三維應(yīng)變測量技術(shù)能夠提供更詳細(xì)的數(shù)據(jù)信息,可用于數(shù)字仿真的更詳細(xì)對比和評價。光學(xué)三維測量技術(shù)結(jié)合了光、電、計算機(jī)等技術(shù)的優(yōu)勢,具有非接觸性、無破壞性、高精度和高分辨率以及快速測量的特點,在彈性塑性材料等特殊測量領(lǐng)域備受關(guān)注。該技術(shù)通過使用光學(xué)傳感器和相機(jī)等設(shè)備,可以實時捕捉材料表面的形變信息,并將其轉(zhuǎn)化為數(shù)字化的三維應(yīng)變數(shù)據(jù)。在材料的力學(xué)實驗中,三維應(yīng)變測量技術(shù)可以應(yīng)用于多種實驗方法,如杯突實驗、抗拉實驗、拉彎實驗和剪切實驗。通過測量材料在不同加載條件下的應(yīng)變分布,可以深入了解材料的力學(xué)性能和變形行為。這些數(shù)據(jù)對于材料的設(shè)計和優(yōu)化具有重要意義。
通過采用相似材料結(jié)構(gòu)模型實驗的方法,我們可以研究鋼筋混凝土框架結(jié)構(gòu)在強(qiáng)烈地震作用下的行為。利用數(shù)字散斑的光學(xué)非接觸應(yīng)變測量方式,我們可以獲取模型表面的三維全場位移和應(yīng)變數(shù)據(jù)。然而,傳統(tǒng)的應(yīng)變計作為應(yīng)變測量工具存在一些問題。首先,應(yīng)變計的貼片過程非常繁瑣,需要精確地將應(yīng)變計貼在被測物體表面。這個過程需要耗費(fèi)大量時間和精力,并且容易出現(xiàn)貼片不牢固的情況,從而影響測量精度。其次,應(yīng)變計的測量精度嚴(yán)重依賴于貼片的質(zhì)量。如果貼片不完全貼合或存在空隙,就會導(dǎo)致測量結(jié)果的偏差。這對于需要高精度測量的實驗來說是一個嚴(yán)重的問題。此外,應(yīng)變計對環(huán)境溫度非常敏感。溫度的變化會導(dǎo)致應(yīng)變計的性能發(fā)生變化,從而影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。因此,在進(jìn)行實驗時需要嚴(yán)格控制環(huán)境溫度,增加了實驗的難度和復(fù)雜性。另外,應(yīng)變計無法進(jìn)行全場測量,只能測量貼片位置的應(yīng)變。這意味著我們無法捕捉到關(guān)鍵位置的變形出現(xiàn)的初始位置。當(dāng)框架結(jié)構(gòu)發(fā)生較大范圍的變形或斷裂時,應(yīng)變計容易損壞,從而影響測試數(shù)據(jù)的質(zhì)量。光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)在微觀應(yīng)變分析和材料研究中具有重要的應(yīng)用價值。
安裝應(yīng)變計需要耗費(fèi)大量時間和資源,并且不同的電橋配置之間存在明顯差異。應(yīng)變計數(shù)量、電線數(shù)量以及安裝位置的不同都會影響安裝所需的工作量。有些電橋配置甚至要求應(yīng)變計安裝在結(jié)構(gòu)的反面,這種要求難度很大,甚至無法實現(xiàn)。其中,1/4橋類型I是相對簡單的配置類型,只需要安裝一個應(yīng)變計和2根或3根電線。然而,應(yīng)變測量本身非常復(fù)雜,多種因素會影響測量效果。因此,為了獲得可靠的測量結(jié)果,需要恰當(dāng)?shù)剡x擇和使用電橋、信號調(diào)理、連線以及數(shù)據(jù)采集組件。例如,在應(yīng)變計應(yīng)用時,由于電阻容差和應(yīng)變會產(chǎn)生一定量的初始偏置電壓,沒有應(yīng)變時的電橋輸出會受到影響。因此,在測量前需要進(jìn)行零點校準(zhǔn),以消除這種偏置。此外,長導(dǎo)線會增加電橋臂的電阻,從而增加偏置誤差并降低電橋輸出的敏感性。因此,在安裝過程中需要注意導(dǎo)線的長度和材質(zhì)選擇,以減小這種影響。綜上所述,應(yīng)變測量是一項復(fù)雜的任務(wù),需要考慮多個因素。只有在正確選擇和使用電橋、信號調(diào)理、連線以及數(shù)據(jù)采集組件的情況下,才能獲得可靠的測量結(jié)果。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量適用于對被測物體要求非破壞性的應(yīng)用,如珍貴文物的保護(hù)和生物組織的應(yīng)變測量。北京三維全場非接觸式應(yīng)變測量系統(tǒng)
光學(xué)應(yīng)變測量具有高精度和高分辨率的特點,可以準(zhǔn)確測量物體的應(yīng)變情況。浙江全場三維數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng)
應(yīng)變的測量方法有多種,其中比較常用的是應(yīng)變計。應(yīng)變計是一種能夠測量物體應(yīng)變的傳感器,它的電阻與設(shè)備的應(yīng)變成正比關(guān)系。在應(yīng)變計中,粘貼式金屬應(yīng)變計是一種比較常用的類型。粘貼式金屬應(yīng)變計由細(xì)金屬絲或按柵格排列的金屬箔組成。這種設(shè)計使得金屬絲/箔在并行方向中的應(yīng)變量較大化。格網(wǎng)可以與基底相連,而基底直接連接到測試樣本上。這樣,測試樣本所受的應(yīng)變可以直接傳輸?shù)綉?yīng)變計上,引起電阻的線性變化。應(yīng)變計的基本參數(shù)是其對應(yīng)變的靈敏度,通常用應(yīng)變計因子(GF)來表示。應(yīng)變計因子是電阻變化與長度變化或應(yīng)變的比值。它描述了應(yīng)變計對應(yīng)變的敏感程度,越大表示應(yīng)變計對應(yīng)變的測量越敏感。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量是一種利用光學(xué)原理來測量物體應(yīng)變的方法。它不需要直接接觸測試樣本,因此可以避免對樣本造成影響。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量可以通過使用光柵或激光干涉儀等設(shè)備來實現(xiàn)。浙江全場三維數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng)