BLIQ黑體是使用三個溫度調(diào)節(jié)器構(gòu)建的。

首先，標(biāo)準(zhǔn)Peltier元件能夠在約0oC至約100oC范圍內(nèi)實現(xiàn)準(zhǔn)確的溫度調(diào)節(jié)。

第二，液體冷卻器用于將黑體溫度降低到零度以下。

第三，當(dāng)溫度超過100oC時，可選加熱器進行調(diào)節(jié)溫度。BLIQ黑體附有專業(yè)用罩。當(dāng)使用干燥氮氣填充時，該罩可以保護黑體發(fā)射器免受結(jié)霜或濕氣冷凝的影響。BLIQ黑體的特點是具有優(yōu)異的溫度分辨率、時間穩(wěn)定性、溫度均勻性和溫度不確定性。所有這些功能使得BLIQ黑體被用作測試/校準(zhǔn)熱成像儀/IRFPA模塊系統(tǒng)中的紅外輻射源的理想選擇，或國家標(biāo)準(zhǔn)實驗室的溫度標(biāo)準(zhǔn)。 光電技術(shù)，應(yīng)用于鐵路維護，保障行車安全。INFRAMET光電測試系統(tǒng)代理商

在國際市場提供的典型面源黑體（包括Inframet提供的TCB/MTB黑體）被優(yōu)化，以模擬在常用的紅外輻射光譜帶中的黑體目標(biāo)：約1μm至約15μm。這種黑體的發(fā)射面的高發(fā)射率是通過溫度受控的金屬板，與其涂覆的高吸收性涂料薄層來實現(xiàn)。由于這種黑體的發(fā)射率在波長約0.1mm處開始下降，并且在波長超過約1mm變得非常低，所以典型的面源黑體不能用于模擬THz帶（0.1mm至1mm）和亞THz帶（1mm至10mm的波長）的黑體目標(biāo)溫度。在典型的紅外黑體中使用的高輻射率涂層對于太赫茲光學(xué)輻射而言變得部分半透明，特別是在長波處大約0.5mm。由于以下幾個原因，太赫茲區(qū)域黑體的設(shè)計是一個技術(shù)挑戰(zhàn)：a）需要THz/短波頻譜帶中高吸收率涂層的發(fā)射體以確保高發(fā)射率；b）由于THz/微波成像儀的低分辨率，所以需要大面積的黑體；c）需要很高的溫度均勻性、溫度穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度，以便能夠?qū)Hz/微波傳感器進行準(zhǔn)確校準(zhǔn)。高精度光電測試系統(tǒng)現(xiàn)貨明策精細光電技術(shù)，保障光伏產(chǎn)業(yè)高效能測試。

一系列不同的輻射源可以用在投影系統(tǒng)中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統(tǒng)中的靶標(biāo)也可用于測量。測量成像整機系統(tǒng)軸校準(zhǔn)：電控的測試系統(tǒng)生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場下的光軸；b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統(tǒng)軸對準(zhǔn)：計算機控制的測量系統(tǒng)分析激光系統(tǒng)在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統(tǒng)光軸。注意：MS系統(tǒng)可以進行激光測距儀發(fā)射光軸的校準(zhǔn)。這里假定激光測距儀發(fā)射光軸與接收已經(jīng)調(diào)整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統(tǒng)軸的能力。測量SWIR相機：SIWR投影系統(tǒng)與圖像分析計算機系統(tǒng)相結(jié)合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標(biāo)；測量不同圖像格式的熱像儀：當(dāng)采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數(shù)字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數(shù)字輸出傳感器。

TCB是由黑體發(fā)射器集成控制器電路構(gòu)建的電腦化的黑體。TCB黑體作為單一模塊交付使用。用戶只需連接兩根標(biāo)準(zhǔn)電纜（電源和RS232電纜），就可以從PC控制黑體。

該解決方案提高了TCB黑體更高的可靠性，對電磁干擾的抵抗力，并簡化了其操作。TCB黑體有一系列版本供用戶選擇使用。有兩個重點參數(shù)指標(biāo)：黑體發(fā)射面的大小和溫度范圍。

發(fā)射面尺寸由黑體代碼：TCB-XD表示，其中X是發(fā)射面平方的近似尺寸，單位為英寸。

通常提供以下型號：TCB-2D，TCB-4D，TCB-6D，TCB-8D，TCB-12D，TCB-14D。在標(biāo)準(zhǔn)版本中，這些黑體溫度范圍從0℃至100℃進行了優(yōu)化。 INFRAMET SAFT 熱成像光電測試系統(tǒng)，精確賦能制造業(yè)，提升質(zhì)量檢測效率。

SWIR相機(短波紅外) 是重要的監(jiān)控用光電相機。首先，InGaAs技術(shù)的發(fā)展與成熟促進了低成本短波紅外相機的發(fā)展；其次，InGaAs相機在非常暗的夜晚會非常靈敏因此可以生成更為清晰的圖像；再次，工作在可見光/近紅外波段的短波紅外相機相比與TV/LLLTV相機來說在不潔凈的空氣環(huán)境中不容易損壞；另外，短波紅外相機比起紅外熱像儀來說在使用小光學(xué)系統(tǒng)可以生成更高分辨率的圖像。

短波紅外相機與TV/LLLTV相機原理類似，也是利用被觀察的目標(biāo)產(chǎn)生的輻射反射來獲取圖像。同時，短波紅外相機也可以利用被測試目標(biāo)產(chǎn)生的熱輻射生成與紅外熱像儀類似的圖像。根據(jù)以上功能描述，短波紅外相機的測試可以依據(jù)測試TV/LLLTV相機原理或者根據(jù)紅外熱像儀測試原理進行。InGaAs FPAs的參數(shù)也可以用來表征短波紅外相機。 光電系統(tǒng)應(yīng)用于包裝行業(yè)，確保產(chǎn)品密封性。INFRAMET光電測試系統(tǒng)代理商

光電技術(shù)，為智能交通系統(tǒng)提供可靠信號檢測。INFRAMET光電測試系統(tǒng)代理商

NVS測量系統(tǒng)的比較大優(yōu)點就是通過采用不同的透射式平行光管和一組靶標(biāo)，能夠測量所有類型的夜視儀。必須在測量前準(zhǔn)備合適的平行光管，靶標(biāo)和對準(zhǔn)被測夜視器件。如果只測試短程夜視鏡以及小型夜視設(shè)備的情況下推薦NVT/NV14測試

NVS夜視設(shè)備多功能測試系統(tǒng)是一個模塊化的測試系統(tǒng)，可測試長程夜視瞄準(zhǔn)設(shè)備，同時支持測試短程夜視鏡及雙目夜視鏡。因此NVS測試系統(tǒng)是一個多功能測試系統(tǒng)。NVS測試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計，包括一組可切換的透射式光管、可移動的光源和一組靶標(biāo)等模塊。

INFRAMET光電測試系統(tǒng)代理商