TAIM可以對(duì)不超過120mm的光學(xué)瞄準(zhǔn)鏡和熱夾鉗提供擴(kuò)展的測(cè)試和視線。可以使用對(duì)從電子輸出捕獲的圖像或從被測(cè)設(shè)備的顯示器捕獲的圖像進(jìn)行分析來執(zhí)行測(cè)試。

總測(cè)試功能:1.蕞小可分辨溫差MRTD測(cè)量2.圖像偏轉(zhuǎn)角度和熱像儀夾像旋轉(zhuǎn)測(cè)量3.屈光度調(diào)節(jié)范圍、目鏡度數(shù)和屈光度刻度精度測(cè)量4.在電子輸出和光學(xué)輸出（顯示器）上測(cè)量MTF，NETD，F(xiàn)PN，非均勻性，F(xiàn)OV，失真，放大倍數(shù)。注意：噪聲參數(shù)只在電子輸出端測(cè)量。

選配：1.檢查從無限遠(yuǎn)對(duì)焦到短距離對(duì)焦是否有圖像偏移 光電測(cè)試，助力風(fēng)電行業(yè)，提升葉片質(zhì)量檢測(cè)。湖南光電測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

HTB系列黑體是高溫腔式黑體爐，溫度范圍高達(dá)1200°C。該系列黑體的優(yōu)勢(shì)在于發(fā)射腔直徑較大，為25mm。黑體腔體是使用底端封閉圓筒的腔體的概念設(shè)計(jì)的。黑體提供高發(fā)射率，超寬光譜帶：從0.4μm到超過30μm。 這種寬光譜帶使得可以使用HTB黑體作為標(biāo)準(zhǔn)輻射源，其范圍從可見光波段到LWIR波段。 HTB黑體可以直接從內(nèi)部鍵盤控制，也可以使用標(biāo)準(zhǔn)USB端口從PC遠(yuǎn)程控制。

主要特性

25mm的較大孔徑；

提供從0.4到超過30的高發(fā)射率；

可以內(nèi)部鍵盤控制，也可以使用USB端口從PC遠(yuǎn)程控制。 湖南光電測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家光電精細(xì)測(cè)試，助力智能建筑節(jié)能減排。

SAFT是專業(yè)用來測(cè)量成像距離只有幾米的短距熱像儀的小型模塊化設(shè)備。絕大多數(shù)的商用熱像儀屬于這一范疇SAFT不使用折射光管作為投射裝置，所以分辨率片到被測(cè)成像儀的距離須比較短。所以SAFT一般推薦用來檢測(cè)上面提到的小型短距，小口徑，寬FOV的熱像儀。如果需要測(cè)試大口徑或者比較窄視野的熱像儀時(shí)，我們也提供額外的折射光管供客戶選擇。由于SAFT把一系列的分辨率片裝在了電動(dòng)光柵上所以它可以快速地測(cè)量熱像儀的各種參數(shù)。一般SAFT由TCB-2D黑體，一組分辨率片，ARC-500屏蔽裝置，PC，抓幀器，TAM軟件，還有一些可選模塊組成。SAFT可以直接投射不同的分辨率片到被測(cè)熱像儀上，根據(jù)被測(cè)熱像儀所產(chǎn)生的扭曲圖像副本再結(jié)合軟件或者主觀判斷我們可以衡量出該被測(cè)熱像儀的性能，另外熱像儀的一些重要參數(shù)也都包含在了測(cè)量項(xiàng)目中。

這些黑體的設(shè)計(jì)基于針對(duì)THz范圍優(yōu)化的特殊澆注材料吸收體涂層，大面積均勻發(fā)射面板和控制電子元件。MAB黑體具有不同發(fā)射器面積，不同溫度范圍的一系列版本，并針對(duì)不同的光譜帶進(jìn)行了優(yōu)化。MAB黑體的特征在于具有良好的溫度分辨率、溫度穩(wěn)定性、溫度均勻性、溫度不確定性和高發(fā)射率。所有這些功能使得MAB黑體被用作測(cè)試/校準(zhǔn)太赫茲/亞太赫茲成像儀或其他這種輻射儀系統(tǒng)中的參考源的理想選擇。

MAB黑體有一系列的版本。有三個(gè)重點(diǎn)參數(shù)指標(biāo)：黑體發(fā)射面的大小、光譜帶和溫度范圍。發(fā)射面尺寸由黑體代碼表示：MAB-XD其中X是發(fā)射器的平方近似尺寸，單位為英寸。

通常提供以下型號(hào)：MAB-6D，MAB-12D，MAB-16D，MAB-2OD，MAB-24，MAB-50?？梢钥闯?，MAB黑體提供大至1000x1000mm的發(fā)射器（型號(hào)MAB-50D）。MAB黑體可針對(duì)不同的光譜范圍進(jìn)行優(yōu)化：A-從0.1mm到1mm（0.3-3THz）；B-從0.5mm到4mm（75GHz-1.5THz）；C-從2mm到10mm（30GHz-150GHz）；D-從0.5mm到10mm（30GHz-1.5THz）；E-從0.5mm到30mm（10GHz-1.5THz）；ka-從7.5mm到1.1mm（26.5-40GHz）。 應(yīng)用于半導(dǎo)體檢測(cè)，明策光電技術(shù)領(lǐng)航行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

Inframet生產(chǎn)的離軸反射式平行光管采用垂直結(jié)構(gòu)，平行光管的焦平面位于反射鏡垂直方向的上方。這種類型的平行光管實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)的簡(jiǎn)單化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)（只需較小、較窄的光學(xué)平臺(tái)）。而且，垂直結(jié)構(gòu)的平行光管更為先進(jìn)之處在于系統(tǒng)用于熱像儀的測(cè)試時(shí)，垂直結(jié)構(gòu)的黑體溫度的均勻性要優(yōu)于使用相同模塊的水平結(jié)構(gòu)。

Inframet使用三個(gè)等級(jí)的離軸反射鏡面：?SR（標(biāo)準(zhǔn)分辨率）-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。?HR（高分辨率）-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm（典型λ/10）。?UR（超高分辨率）-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。?SQ（極高分辨率）-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。 光電技術(shù)助力珠寶首飾，精確鑒定品質(zhì)。湖南光電測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

光電測(cè)試系統(tǒng)，保障文物修復(fù)科學(xué)精細(xì)。湖南光電測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

靶標(biāo)是用于測(cè)試光電成像系統(tǒng)時(shí)創(chuàng)建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標(biāo)可分為兩類:1)無源靶標(biāo)，2)有源靶標(biāo)。無源靶標(biāo)需要由黑體或標(biāo)定光源產(chǎn)生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標(biāo)通常是大型測(cè)試系統(tǒng)位于平行光管焦平面的小模塊。無源靶標(biāo)的工作不需要電力供應(yīng)。

版本型號(hào)：

FUT以下列不同標(biāo)準(zhǔn)尺寸的形式提供：FUT118：輻射源尺寸1100x800mm（11x8個(gè)100mm大小正方形區(qū)域）；FUT1511：輻射源尺寸1500x1100mm（15x11個(gè)100mm大小正方形區(qū)域）；FUT2020：輻射源尺寸1900x1900mm（19x19個(gè)100mm大小正方形區(qū)域）；FUT2216：輻射源尺寸2200x1600mm（22x16個(gè)100mm大小正方形區(qū)域）。還可以定制化交付不同尺寸和圖案的定制化FUT靶標(biāo)。 湖南光電測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家