SIMAT模擬器是一個(gè)模塊化的圖像投影系統(tǒng)用于模擬在光視距范圍內(nèi)兩個(gè)或者多個(gè)可變強(qiáng)度，可變角尺寸，可變光譜，在均勻背景下的的動(dòng)態(tài)目標(biāo)。其可用于模擬動(dòng)態(tài)空間或者空中目標(biāo)（天體，飛機(jī)，直升飛機(jī)等）作為成像探測(cè)器對(duì)這些目標(biāo)的監(jiān)視。SIMAT模擬器的基本配置用于模擬紅外波段的范圍但是可以升級(jí)為模擬紅外波段加紫外及可見光波段。寬視場(chǎng)到120o 可以被達(dá)到基于精致細(xì)密運(yùn)動(dòng)平臺(tái)用于測(cè)試過程中的單元旋轉(zhuǎn)?？蛇x的SIMAT模擬器用于模擬紅外以及UV/可見光波段基于采用帶寬反射光學(xué)原件的圖像投影系統(tǒng)。SIMAT是完全計(jì)算機(jī)化控制的用于模擬復(fù)雜情況（目標(biāo)軌跡，角尺寸，速度，輻射強(qiáng)度等）的目標(biāo)模擬器。光電系統(tǒng)，應(yīng)用于電梯維護(hù)，確保運(yùn)行安全。黑龍江光電測(cè)試系統(tǒng)使用

由于各種原因，生成高分辨率融合圖像較為困難，其中一個(gè)原因是需要校正不同成像傳感器產(chǎn)生的圖像的畸變和放大程度的差異，優(yōu)化圖像校正算法需要對(duì)所有成像傳感器均可見的已知幾何形狀的特定目標(biāo)進(jìn)行研究。Inframet提供支持雙通道融合圖像的棋盤式FUT靶標(biāo)，能夠發(fā)射熱輻射(靶標(biāo)實(shí)際上是一個(gè)調(diào)節(jié)均勻溫度的大面積輻射源)，也能反射可見光/近紅外范圍內(nèi)的入射輻射。因此，無論是在中波紅外/長(zhǎng)波紅外范圍內(nèi)工作的熱像儀，還是在可見光/近紅外范圍內(nèi)工作的夜視儀/相機(jī)，都可以看到相同圖像。該靶標(biāo)可用于確定熱成像相對(duì)于可見光圖像的空間位移二維圖。黑龍江光電測(cè)試系統(tǒng)使用光電測(cè)量，助力地質(zhì)勘探，精確解析巖層結(jié)構(gòu)。

MAB黑體是在整個(gè)太赫茲和亞太赫茲頻譜帶中商用的并且具有高發(fā)射率的大面積寬帶黑體。此黑體已經(jīng)由Inframet研究團(tuán)隊(duì)進(jìn)行了幾年的實(shí)驗(yàn)研究。

主要特性

寬泛的頻譜范圍涵蓋了THz和亞THz頻帶；大面積高達(dá)1mx1m；Thz/亞THz波段的高發(fā)射率；大面積輻射面上具有良好的熱均勻性；高溫度分辨率1mK和溫度穩(wěn)定性10mK；高速，易于PC控制；緊湊可靠的設(shè)計(jì)（黑體與控制器集成）。

在國(guó)際市場(chǎng)提供的典型面源黑體（包括Inframet提供的TCB/MTB黑體）被優(yōu)化，以模擬在常用的紅外輻射光譜帶中的黑體目標(biāo)：約1μm至約15μm。 這種黑體的發(fā)射面的高發(fā)射率是通過溫度受控的金屬板，與其涂覆的高吸收性涂料薄層來實(shí)現(xiàn)。

DTR短焦熱像儀測(cè)試系統(tǒng)是傳統(tǒng)DT熱像儀測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)特殊版本。這兩個(gè)系統(tǒng)都是將一系列的標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)投影出去，被測(cè)熱像儀接收成像。DT系統(tǒng)使用了較長(zhǎng)焦距和大孔徑的離軸反射式光管，而DTR系統(tǒng)則使用較短焦距和小孔徑的透射式光管。因此，相同的紅外靶標(biāo)由DTR系統(tǒng)投射后，被測(cè)熱像儀接收的圖像比由DT系統(tǒng)透射出的要更大。從數(shù)學(xué)上講，DTR系統(tǒng)可以投射出比典型DT系統(tǒng)空間頻率要低幾倍的4桿靶圖像。

DTR測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試過程中，被測(cè)熱像儀的奈奎斯特空間頻率(等于1/2IFOV)可低至0.02lp/mrad(熱像儀的探測(cè)器像元尺寸17um，物鏡焦距0.68mm)，可滿足市場(chǎng)上大多數(shù)大視場(chǎng)熱像儀的測(cè)量需求。另外DTR測(cè)試系統(tǒng)提供2個(gè)不同焦距和視場(chǎng)的光管供選擇，可根據(jù)被測(cè)熱像儀的分辨率和視場(chǎng)來選擇適用的光管。通常DTR測(cè)試系統(tǒng)提供測(cè)試長(zhǎng)波熱像儀的配置，可選配測(cè)量中波熱像儀。 Inframet DT 熱成像光電測(cè)試系統(tǒng)，精細(xì)分析，助力醫(yī)療行業(yè)技術(shù)革新。

TCB是由黑體發(fā)射器集成控制器電路構(gòu)建的電腦化的黑體。TCB黑體作為單一模塊交付使用。用戶只需連接兩根標(biāo)準(zhǔn)電纜（電源和RS232電纜），就可以從PC控制黑體。

該解決方案提高了TCB黑體更高的可靠性，對(duì)電磁干擾的抵抗力，并簡(jiǎn)化了其操作。TCB黑體有一系列版本供用戶選擇使用。有兩個(gè)重點(diǎn)參數(shù)指標(biāo)：黑體發(fā)射面的大小和溫度范圍。

發(fā)射面尺寸由黑體代碼：TCB-XD表示，其中X是發(fā)射面平方的近似尺寸，單位為英寸。

通常提供以下型號(hào)：TCB-2D，TCB-4D，TCB-6D，TCB-8D，TCB-12D，TCB-14D。在標(biāo)準(zhǔn)版本中，這些黑體溫度范圍從0℃至100℃進(jìn)行了優(yōu)化。 INFRAMET SAFT 熱成像光電測(cè)試系統(tǒng)，精確賦能制造業(yè)，提升質(zhì)量檢測(cè)效率。光電測(cè)試系統(tǒng)維保

明策光電測(cè)試系統(tǒng)，提升鐘表制造業(yè)走時(shí)精確度。黑龍江光電測(cè)試系統(tǒng)使用

MS系列系統(tǒng)是Inframet主要測(cè)試系統(tǒng)，可測(cè)量多種紅外整機(jī)系統(tǒng)：熱像儀，可見光-近紅外相機(jī)，短波紅外相機(jī)、激光測(cè)距機(jī)和多傳感器測(cè)試系統(tǒng)等，進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試和軸對(duì)準(zhǔn)的測(cè)試。測(cè)試功能1.不同視場(chǎng)適用波段：可見光，近紅外，短波紅外，中波紅外和長(zhǎng)波紅外；2.可測(cè)量多種紅外整機(jī)系統(tǒng)：熱像儀，可見光-近紅外相機(jī)，短波紅外相機(jī)、激光測(cè)距機(jī)和多傳感器測(cè)試系統(tǒng)等；

MS多波段整機(jī)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量不同系統(tǒng)的原理如下。測(cè)試熱像儀：圖像投影儀投射圖像到中波/長(zhǎng)波范圍熱像儀，由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)生成的圖像分析被檢測(cè)熱像儀。高精度的離軸反射式CDT平行光管，TCB差分黑體，以及一組紅外靶標(biāo)用于投影。測(cè)試可見光/NIR相機(jī)：可見光/NIR投影系統(tǒng)與圖像分析計(jì)算機(jī)系統(tǒng)相結(jié)合來測(cè)量電視相機(jī)。包括CDT反射式平行光管，可見光/NIR光源，和一組可見光靶標(biāo)； 黑龍江光電測(cè)試系統(tǒng)使用