DTR短焦熱像儀測(cè)試系統(tǒng)是傳統(tǒng)DT熱像儀測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)特殊版本。這兩個(gè)系統(tǒng)都是將一系列的標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)投影出去，被測(cè)熱像儀接收成像。DT系統(tǒng)使用了較長(zhǎng)焦距和大孔徑的離軸反射式光管，而DTR系統(tǒng)則使用較短焦距和小孔徑的透射式光管。因此，相同的紅外靶標(biāo)由DTR系統(tǒng)投射后，被測(cè)熱像儀接收的圖像比由DT系統(tǒng)透射出的要更大。從數(shù)學(xué)上講，DTR系統(tǒng)可以投射出比典型DT系統(tǒng)空間頻率要低幾倍的4桿靶圖像。

DTR測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試過(guò)程中，被測(cè)熱像儀的奈奎斯特空間頻率(等于1/2IFOV)可低至0.02lp/mrad(熱像儀的探測(cè)器像元尺寸17um，物鏡焦距0.68mm)，可滿足市場(chǎng)上大多數(shù)大視場(chǎng)熱像儀的測(cè)量需求。另外DTR測(cè)試系統(tǒng)提供2個(gè)不同焦距和視場(chǎng)的光管供選擇，可根據(jù)被測(cè)熱像儀的分辨率和視場(chǎng)來(lái)選擇適用的光管。通常DTR測(cè)試系統(tǒng)提供測(cè)試長(zhǎng)波熱像儀的配置，可選配測(cè)量中波熱像儀。 inframetORl 光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)INFRAMET 測(cè)試系統(tǒng)，提升船舶制造精度與安全性。平行光管光電測(cè)試系統(tǒng)性能特點(diǎn)

TCB系列黑體是差分面源黑體，旨在模擬低溫和適宜的常溫目標(biāo)。使用熱電元件控制散熱器溫度。黑體散熱器的溫度通常從0℃至100℃可調(diào)節(jié)，但范圍可擴(kuò)展到-40℃至180℃。黑體發(fā)射面（從50x50mm到500x500mm），也可以拓展到更大的發(fā)射器，高達(dá)1000x1000mm的尺寸。

用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發(fā)射面的TCB-2D黑體被用作測(cè)試熱像儀的DT/MS系統(tǒng)的模塊。具有更大發(fā)射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應(yīng)用的單獨(dú)模塊提供。

Inframet可以提供高達(dá)500x500mm的發(fā)射面的TCB黑體（型號(hào)TCB-2oD）。但是，應(yīng)該注意的是，典型的小黑體TCB-2D/TCB-4D黑體與TCB-12D/TCB-2OD之間存在很大差異。后者的黑體要大得多，需要更大的功率，升溫更慢，更昂貴。因此建議您選擇自己合適的發(fā)射面尺寸即可。 明策光電測(cè)試系統(tǒng)光電系統(tǒng)應(yīng)用于科研，守護(hù)安全的技術(shù)盾牌。

可見光靶標(biāo)主要分為兩類：A)反射式靶標(biāo)，B）透射式靶標(biāo)。反射式靶標(biāo)無(wú)法提供高精度的靶標(biāo)圖形因此只能用于可見光成像系統(tǒng)簡(jiǎn)單的評(píng)估測(cè)試。透射式靶標(biāo)的精度可以達(dá)到次微米級(jí)，通常采用在干凈的玻璃基板上光刻的方法而得到。Inframet采用USAF 1951靶標(biāo)，其具備很好的通用性，既支持低分辨率相機(jī)測(cè)試，也同時(shí)支持高分辨率相機(jī)測(cè)試。

產(chǎn)品參數(shù)：

參數(shù)：數(shù)值

圖案類型：3桿

圖案組數(shù)：0到7(可選0-8)

空間頻率范圍：1-228lp/mm(可選1-456lp/mm)

對(duì)比度：百分之二到100%

基板：鈉鈣玻璃(可選石英)

圖形鍍膜：鉻

靶標(biāo)板尺寸：23x23mm

BLIQ黑體是使用三個(gè)溫度調(diào)節(jié)器構(gòu)建的。

首先，標(biāo)準(zhǔn)Peltier元件能夠在約0oC至約100oC范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的溫度調(diào)節(jié)。

第二，液體冷卻器用于將黑體溫度降低到零度以下。

第三，當(dāng)溫度超過(guò)100oC時(shí)，可選加熱器進(jìn)行調(diào)節(jié)溫度。BLIQ黑體附有專業(yè)用罩。當(dāng)使用干燥氮?dú)馓畛鋾r(shí)，該罩可以保護(hù)黑體發(fā)射器免受結(jié)霜或濕氣冷凝的影響。BLIQ黑體的特點(diǎn)是具有優(yōu)異的溫度分辨率、時(shí)間穩(wěn)定性、溫度均勻性和溫度不確定性。所有這些功能使得BLIQ黑體被用作測(cè)試/校準(zhǔn)熱成像儀/IRFPA模塊系統(tǒng)中的紅外輻射源的理想選擇，或國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的溫度標(biāo)準(zhǔn)。 光電測(cè)試，助力影視制作，精確控制燈光效果。

NVS測(cè)量系統(tǒng)的比較大優(yōu)點(diǎn)就是通過(guò)采用不同的透射式平行光管和一組靶標(biāo)，能夠測(cè)量所有類型的夜視儀。必須在測(cè)量前準(zhǔn)備合適的平行光管，靶標(biāo)和對(duì)準(zhǔn)被測(cè)夜視器件。如果只測(cè)試短程夜視鏡以及小型夜視設(shè)備的情況下推薦NVT/NV14測(cè)試

NVS夜視設(shè)備多功能測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)模塊化的測(cè)試系統(tǒng)，可測(cè)試長(zhǎng)程夜視瞄準(zhǔn)設(shè)備，同時(shí)支持測(cè)試短程夜視鏡及雙目夜視鏡。因此NVS測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)多功能測(cè)試系統(tǒng)。NVS測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，包括一組可切換的透射式光管、可移動(dòng)的光源和一組靶標(biāo)等模塊。

INFRAMET LAFT 熱成像光電測(cè)試系 統(tǒng)助力科研，精細(xì)測(cè)量技術(shù)參數(shù)無(wú)憂。平行光管光電測(cè)試系統(tǒng)性能特點(diǎn)

光電技術(shù)，應(yīng)用于鐵路維護(hù)，保障行車安全。平行光管光電測(cè)試系統(tǒng)性能特點(diǎn)

一系列不同的輻射源可以用在投影系統(tǒng)中（光譜范圍擴(kuò)展到SWIR的光源或者M(jìn)TB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統(tǒng)中的靶標(biāo)也可用于測(cè)量。測(cè)量成像整機(jī)系統(tǒng)軸校準(zhǔn)：電控的測(cè)試系統(tǒng)生成由被測(cè)試熱像儀及相機(jī)生成的圖像并計(jì)算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場(chǎng)下的光軸；b)相機(jī)在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機(jī)之間的光軸。激光系統(tǒng)軸對(duì)準(zhǔn)：計(jì)算機(jī)控制的測(cè)量系統(tǒng)分析激光系統(tǒng)在激光敏感卡上生成的圖像并計(jì)算光軸間的夾角：激光光軸（激光測(cè)距儀，激光指示器，激光照射器等）相對(duì)于成像系統(tǒng)光軸。注意：MS系統(tǒng)可以進(jìn)行激光測(cè)距儀發(fā)射光軸的校準(zhǔn)。這里假定激光測(cè)距儀發(fā)射光軸與接收已經(jīng)調(diào)整好。這里可選測(cè)量激光測(cè)距儀的光軸對(duì)MS系統(tǒng)軸的能力。測(cè)量SWIR相機(jī)：SIWR投影系統(tǒng)與圖像分析計(jì)算機(jī)系統(tǒng)相結(jié)合來(lái)測(cè)量SIWR相機(jī)。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標(biāo)；測(cè)量不同圖像格式的熱像儀：當(dāng)采用模擬視頻采集卡并且測(cè)量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時(shí)；也可以選擇數(shù)字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測(cè)量高分辨率高幀頻的數(shù)字輸出傳感器。平行光管光電測(cè)試系統(tǒng)性能特點(diǎn)