在緊固件的質(zhì)量控制方面，螺栓、銷釘和鉚釘都可以通過Optoflash實現(xiàn)快速測量。標(biāo)準(zhǔn)的測量選項里包括螺紋測量功能：螺紋大徑、螺紋小徑、螺紋中徑、螺距、嚙合角度、螺紋總長度、螺紋起始點角向、螺紋軸線、螺紋同軸度等?；?D圖像采集技術(shù)，Optoflash是測量渦輪增壓器的完美解決方案比較大的優(yōu)勢在于，Optoflash可通過一張2D圖像采集到整個工件輪廓，所以能夠用更快的速度測量到整個葉片的輪廓（而不是數(shù)個截面），并且更加精確可靠。Optoflash的測量速度是傳統(tǒng)線掃描光學(xué)系統(tǒng)的兩倍。作為標(biāo)準(zhǔn)與同軸電纜零件的A/C軟管用雙腔機(jī)。測量原理是采用質(zhì)譜儀進(jìn)行整體測試。。浙江電池pack 組檢測設(shè)備廠家

Optoquick是Marposs公司產(chǎn)品線專門用于生產(chǎn)環(huán)境中對工件進(jìn)行精確測量的設(shè)備。Optoquick在測量性能、速度和柔性之間實現(xiàn)比較好平衡。它在準(zhǔn)確性、重復(fù)性與穩(wěn)定性方面體現(xiàn)出****的測量性能。Optoquick車間型精密測量單元,在生產(chǎn)過程中可對凸輪軸、曲軸、齒輪軸以及傳動軸進(jìn)行高精度測量。其典型測量包括任務(wù)尺寸、位置與形狀測量。Optoquick幫助操作人員直接在生產(chǎn)機(jī)床旁，進(jìn)行快速與準(zhǔn)確的質(zhì)量檢查。通過減少工件物流等待的時間，而優(yōu)化了工藝流程。電池組電性能測試馬波斯電機(jī)檢測解決方案旨在通過使用識別電機(jī)內(nèi)部潛在趨勢的設(shè)備來檢查電機(jī)的完整性。

馬波斯錠材切片機(jī)在半導(dǎo)體行業(yè)有著許多應(yīng)用。錠材切片（硅錠，藍(lán)寶石錠，碳化硅錠，氮化鎵錠）是芯片制造的第一步。高速線鋸將錠材切成“圓晶”，然后打磨，使圓晶達(dá)到鏡面光潔度。錠材切片中，如果金剛石線斷線，必須立即停止切片機(jī)。事實上，錠材緩慢下降并被線鋸切成圓晶片，這個過程長達(dá)數(shù)小時。用更細(xì)的金剛石線線鋸切片是未來趨勢，可比較大限度減小鋸縫寬度，讓單個錠材產(chǎn)出更多圓晶，顯著提高生產(chǎn)速度。如果在錠材線鋸過程中，金剛石線斷線，必須立即停止切片機(jī)運動。

在檢測金屬雙極板時，馬波斯可提供界面接觸電阻檢測方案以助力新能源電動車行業(yè)。從適用范圍的角度來看，馬波斯提供的這款界面接觸電阻檢測方案可用于檢測金屬雙極板的質(zhì)量，同時預(yù)測GDL膜壓緊并裝入PEM燃料電池堆后的電氣特性。對于金屬雙極板的檢測而言，馬波斯提供的檢測方案提供的壓緊力值為40kN。在進(jìn)行檢測的過程中，馬波斯提供的這款界面接觸電阻檢測方案也能調(diào)整壓縮順序。同時，界面接觸電阻檢測方案可保證測試檢具可換，并提供高分辨率的電阻測。Marposs可以提供測試方案,用于在線或離線的定子絕緣質(zhì)量檢測。

在超高精度加工設(shè)備的行業(yè)，OptoflashXS可以滿足超高精度加工行業(yè)的要求。例如，Optoflash可以測量半徑小于0.1mm的倒角和圓弧，或者沿軸向很小的直徑變化。在醫(yī)療用品行業(yè)，柔性，是Optoflash能夠應(yīng)用在醫(yī)療植入物和加工刀具行業(yè)里，十分重要的優(yōu)勢。適合多品種，小批量的檢測，性價比高。對于塑料注塑件和高精度的牙科植入件，OptoflashXS檢測的速度更快，精度更高。測量過程中的品種切換只需要在用戶屏幕上點擊一下即可。Optoflash測量系統(tǒng)特別易于使用：開放式的裝載區(qū)域，符合人機(jī)工程學(xué)原理的尾架系統(tǒng)，可方便地夾緊待測工件?；谟|屏顯示器的軟件用戶界面—可為用戶提供良好的操作體驗。Hetech Marposs系統(tǒng)都具備很多優(yōu)勢，首先是有兩個泵送系統(tǒng)，一個真空泵送系統(tǒng)和一個分析泵送系統(tǒng)。電池組電性能測試

無損探測以渦流為基礎(chǔ)，渦流是由時變磁場在導(dǎo)電材料內(nèi)引起的小電流回路。浙江電池pack 組檢測設(shè)備廠家

對于半導(dǎo)體行業(yè)來說，圓晶測量和缺陷檢測都是半導(dǎo)體生產(chǎn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，檢測和控制生產(chǎn)中的每一步生產(chǎn)質(zhì)量。為了顯微測量，馬波斯提供2D光譜共焦線掃相機(jī)。在超高分辨率和超大景深應(yīng)用中，可在Z軸上準(zhǔn)確聚焦。因此，這是檢測圓晶缺陷的理想選擇，例如，圓晶沿的檢測和封裝期間的檢測。這些傳感器都允許集成在測量和檢測設(shè)備中。馬波斯和STIL在數(shù)十年的發(fā)展中積累了豐富的經(jīng)驗，可為用戶提供量身定制解決方案和的光學(xué)設(shè)計。馬波斯的小橫向分辨率為0.4μm*0.4μm，大傾斜角為+/-45°，0.75數(shù)值孔徑。浙江電池pack 組檢測設(shè)備廠家