電壓3VFY160超聲波測(cè)厚儀|現(xiàn)貨低價(jià)超聲波測(cè)試儀廠家|良導(dǎo)體厚度分析

超聲波厚度測(cè)試儀         金屬厚度分析儀     管材厚度測(cè)厚儀價(jià)格性能廠家

電話：13864006141  &    聯(lián)系人：?jiǎn)位?&     QQ：1962526661

技術(shù)規(guī)格：
　　1. 顯示方法：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
　　2. 測(cè)量范圍：0.75～300mm（鋼中），公制與英制可選擇；
　　3. 聲速范圍：1000~9999 m/s：
　　4. 分 辨 率：0.1mm
　　5. 示值精度： ±（0.5%H+0.04）mm H為被測(cè)物實(shí)際厚度
　　6. 測(cè)量周期：?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量時(shí)4次/秒、掃描模式10次/秒；
　　7. 存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組最多99個(gè)測(cè)量值）厚度測(cè)量數(shù)據(jù)。
　　8. 工作電壓：3V（2節(jié)AA尺寸堿性電池串聯(lián)）
　　9. 持續(xù)工作時(shí)間：約100小時(shí)（不開(kāi)背光時(shí)）
　　10. 外形尺寸：150×74×32 mm
　　11. 整機(jī)重量：245g

超聲波測(cè)厚儀校正方法
　　用戶拿到的新MT160超聲波測(cè)厚儀都必須由用戶自己根據(jù)實(shí)際測(cè)試材料進(jìn)行校正。具體操作需要隨機(jī)提供的3塊標(biāo)準(zhǔn)箔片和由用戶實(shí)際被測(cè)材料做的基板，三塊標(biāo)準(zhǔn)箔片的厚度依次為20μm、200μm、1200μm左右。使用時(shí)由薄到厚進(jìn)行，這個(gè)次序不能搞錯(cuò)�；�板應(yīng)直接用未涂（鍍）的被測(cè)零件或?qū)⒈粶y(cè)零件上的涂（鍍）層去除，且基板的表面應(yīng)平整、光潔。千萬(wàn)不要使用隨機(jī)的基板，它僅作MT160超聲波測(cè)厚儀試驗(yàn)用。除非你的被測(cè)材料沒(méi)有基體，僅是一層膜。校正操作按下表進(jìn)行。
超聲波測(cè)厚儀的操作規(guī)程
　　1、用螺絲刀撬開(kāi)儀器背面的電池盒蓋，裝入電池。按ON/OFF鍵接通儀器電源，儀器開(kāi)始運(yùn)行自檢程序，當(dāng)顯示數(shù)字為零，表示儀器功能正常，即可開(kāi)始測(cè)量。
　　2、將探頭平穩(wěn)地放在測(cè)量物上，顯示器上出現(xiàn)標(biāo)志，表示數(shù)據(jù)采集已在進(jìn)行中，當(dāng)探頭放置穩(wěn)定后，涂層厚度值就在顯示器上顯示出來(lái)，一次測(cè)量即告完成。把探頭向上至少提高5mm，MT160超聲波測(cè)厚儀開(kāi)始新的一次測(cè)量。每次測(cè)量結(jié)果已自動(dòng)存儲(chǔ)于機(jī)內(nèi)。
　　3、通過(guò)多次測(cè)量后，按RES鍵可依次顯示出測(cè)量結(jié)果的平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和測(cè)量次數(shù)。按RES鍵后，如再次測(cè)量，儀器將自動(dòng)清除以前的測(cè)量值，并存儲(chǔ)新的測(cè)量值。
　　4、如果在測(cè)量中，因探頭放置不穩(wěn)，顯示出一個(gè)明顯錯(cuò)誤測(cè)量值，可按DEL鍵消除該測(cè)量值，以免影響統(tǒng)計(jì)結(jié)果的準(zhǔn)確性。探頭提離過(guò)快等原因，儀器未能采集到數(shù)據(jù)，顯示值為零，這時(shí)顯示的零不影響最后的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。　　5、MT160超聲波測(cè)厚儀使用完畢后，按ON/OFF鍵，關(guān)閉電源。本儀器有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能，如不進(jìn)行任何操作，大約五分鐘后就自動(dòng)關(guān)機(jī)。
　　6、本MT160超聲波測(cè)厚儀有電源狀態(tài)指示功能,當(dāng)電源電壓不足時(shí)，顯示器左上角顯示“BAT”。此后，儀器雖仍能工作約二小時(shí)，但建議用戶此時(shí)應(yīng)更換電池。
　　7、除上述常規(guī)的工作模式外，MT160超聲波測(cè)厚儀還有一種連續(xù)顯示模式。在常規(guī)工作模式下,按△鍵即可進(jìn)入連續(xù)顯示模式，這時(shí)顯示器右上角出現(xiàn)“FREE”標(biāo)志。在該狀態(tài)下，測(cè)量值不儲(chǔ)存，每次測(cè)量完成后，探頭不必提離被測(cè)物，測(cè)量和顯示仍繼續(xù)進(jìn)行。這樣，通過(guò)探頭在被測(cè)物表面移動(dòng)，可觀察到測(cè)量值的連續(xù)變化。再次按△鍵即可退回到常規(guī)工作模式，這時(shí)“FREE”標(biāo)志消失。
　　測(cè)量值的變化一般是由于涂鍍層厚度不均勻引起的，但被測(cè)零件的表面曲率變化或邊緣效應(yīng)以及基體表面粗糙度也會(huì)造成測(cè)量值的變化。
　　8、測(cè)量微小零件時(shí)，建議使用適當(dāng)?shù)膴A具固定被測(cè)件。

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